一种几何校正方法技术

一种几何校正方法，其特征在于，包括以下步骤：1)以探测器一侧中心为原点建立一个空间坐标系(x,y,z)和一个在探测器成像层上的平面坐标系(u,v)；2)设计校正模体，记录校正模体参数；3)采集该校正模体在不同角度下的X射线投影图像，并提取投影图像中的两组投影点的数据信息，并根据拟合公式将两组投影点在uv坐标系下分别拟合成两个椭圆方程；4)利用提取到的投影点的数据信息计算几何参数；5)根据几何参数对投影图像进行几何校正。本发明专利技术具有的有益效果：该校正方法不依赖于校正模体的空间位置，有效避免了模体空间位置误差而产生成像质量，大大提高了后期重建图像的质量。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种几何校正方法，其特征在于，包括以下步骤：1)以探测器一侧中心为原点建立一个空间坐标系(x，y，z)和一个在探测器成像层上的平面坐标系(u，v)；2)设计校正模体，记录校正模体参数；3)采集该校正模体在不同角度下的X射线投影图像，并提取投影图像中的两组投影点的数据信息，并根据拟合公式将两组投影点在uv坐标系下分别拟合成两个椭圆方程；4)利用提取到的投影点的数据信息计算几何参数；5)根据几何参数对投影图像进行几何校正。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王燕妮，
申请(专利权)人：江苏美伦影像系统有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32