CT系统几何校正效果的检验方法及装置制造方法及图纸

技术编号:13542927 阅读:65 留言:0更新日期:2016-08-18 04:20
本发明专利技术涉及CT系统几何校正效果的检验方法及装置。所述方法包括:扫描预设的评价模体,得到所述评价模体的投影图像;根据几何校正参数以及所述评价模体的投影图像,重建所述评价模体的三维图像;从所述三维图像中分割出待处理图像,检测所述待处理图像中圆的边缘;统计出所述待处理图像中包含的圆内点数、圆内点CT值总和、圆外点数以及圆外点CT值总和;计算圆内点CT均值和圆外点CT均值以及两者差的绝对值,作为评价指数;比较各组几何校正参数对应的评价指数,得出各组几何校正参数的几何校正效果的好坏。本发明专利技术能够提高评价CT图像的几何校正效果的准确度。

【技术实现步骤摘要】
201610251571
<a href="http://www.xjishu.com/zhuanli/55/CN105869130.html" title="CT系统几何校正效果的检验方法及装置原文来自X技术">CT系统几何校正效果的检验方法及装置</a>

【技术保护点】
一种CT系统几何校正效果的检验方法,其特征在于,包括:扫描预设的校正模体,得到所述校正模体的投影图像,根据所述校正模体及其投影图像得出CT系统的几何校正参数;扫描预设的评价模体,得到所述评价模体的投影图像;根据几何校正参数以及所述评价模体的投影图像,重建所述评价模体的三维图像;所述评价模体由正方体和球体组成,所述球体球心和正方体重心重合,且球体半径小于正方体的内切球体半径;球体的物质密度不同于正方体的物质密度;从所述三维图像中分割出球体的图像,检测图像中的球心位置,获取球心位置所在图层作为所述评价模体的待处理图像,并检测所述待处理图像中圆的边缘;根据圆的边缘统计出所述待处理图像中的圆内点数、圆内点CT值总和、圆外点数以及圆外点CT值总和;计算圆内点CT均值、圆外点CT均值,得出两者的差的绝对值,作为评价对应几何校正参数的几何校正效果的评价指数;比较各组几何校正参数对应的评价指数,根据所述评价指数的大小得出各组几何校正参数的几何校正效果的好坏。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李翰威张光彪詹欣智黄文记詹延义
申请(专利权)人:广州华端科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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