【技术实现步骤摘要】
本申请为下述申请的分案申请。专利技术名称：评价高分子材料的回弹弹性模量、硬度以及能量损失的方法申请日：2012年9月11日申请号：201280053599.4(PCT/JP2012/073210)
本专利技术涉及评价高分子材料的回弹弹性模量的方法、评价高分子材料的硬度的方法以及评价高分子材料的能量损失的方法。
技术介绍
在JISK6255“硫化橡胶以及热塑性橡胶的回弹性试验方法”中对评价高分子材料的回弹弹性模量进行了标准化，一般采用着使用摆并从落下以及回弹高度算出值的Luepke式回弹性试验(参照非专利文献1)。Luepke式回弹性试验装置中，使摆摇动时的能量损失越小，越可以提高试验的精度。JISK6255中，规定了作为测定值的精度的尺度求出摆在自由振动时的周期和对数衰减率的检查。然而，使金属等的摆降落在高分子材料中这样的物理性评价方法，误差非常大，不能充分满足测定精度。此外，当每个试样的值的差小时，还存在不能再现性良好地评价其差的问题。进一步，这种方法中也不存在对分子结构进行详细调查的评价方法。此外，橡胶材料等的高分子材料中，硬度是对产品的各种特性带来影响的重要的物理量，例如在作为橡胶产品的轮胎中，硬度与驾驶稳定性以及冰雪上性能等性能有着密切的关系。作为测定橡胶产品的硬度的方法，广为人知的有依据JISK6253的方法(参照非专利文献2)。然而，使用了JIS硬度计的测定方法，其误差大，不能充...
【技术保护点】
一种评价高分子材料的硬度的方法，是通过向高分子材料照射X射线或中子束，实施X射线散射测定或中子散射测定，从而评价高分子材料的硬度的方法，其中，对于通过所述X射线散射测定或中子散射测定得到的散射强度曲线I(q)，用下述(式2‑2)～(式2‑5)进行曲线拟合而得出每单位体积中惯性半径Rg为1nm～100μm的散射体的个数N，使用该个数N来评价硬度；(式2‑2)I(q)=Σi=1n<Pi[{erf(qRgi6)3/q}]Dfiexp(-q2Rg(i+1)23)+Giexp(-q2Rg(i+1)23)>+Pn+1[{erf(qRg(n+1)6)3/q}]Df(n+1)]]>(式2‑3)erf(z)=2π∫0ze-t2dt]]>(式2‑4)Gi＝Ni(σVi)2(式2‑5)Vi=43π(53Rgi)3]]>Pi、Gi、Rgi、Dfi：拟合参数，Ni：每单位体积的散射体的个数(个/cm3)，Vi：具有惯性半径Rgi的散射体的体积，n：整数，q：与前述相同，z、t：任意的正数，σ：散射体和周围的基质材料之间...
【技术特征摘要】
2011.11.01 JP 2011-240443;2011.11.18 JP 2011-253021.一种评价高分子材料的硬度的方法，是通过向高分子材料照射X射线或中子束，实
施X射线散射测定或中子散射测定，从而评价高分子材料的硬度的方法，...
【专利技术属性】
技术研发人员：间下亮，岸本浩通，
申请(专利权)人：住友橡胶工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。