一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源制造技术

本发明专利技术涉及一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源。其特征在于包括光源基座、光源盖板、LED灯珠（5个）、灯珠滑套（5个）、灯珠导套（5个）、磨砂玻璃、围片、开关电源。本光源通过组合设计，采用多个LED灯珠在光源基座内空间圆周排列，构成整个光源系统的照明主体。本LED光源为透射光源，有效得适用于常见光栅表面缺陷，如铬点、星点、划痕和断线的检测，可获取高质量的图像，同时也利于降低检测难度、增加检测速度、提高系统稳定性和可靠性等。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种用于光栅表面缺陷检测的LED光源,其特征在于：所述的光源基座（1）外包裹有围片（7），所述的光源基座（1）侧壁的半圆周内设有灯珠导套安装口（9），所述的灯珠导套安装口（9）内嵌有灯珠导套（5），所述的灯珠导套（5）与灯珠滑套（4）相衔接，所述的灯珠滑套（4）固定有LED灯珠（3）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王义文，屈冠彤，付鹏强，廖益龙，刘献礼，林长友，梅恒，刘勇刚，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：发明
国别省市：黑龙江;23