一种集成CCD驱动时序及系统测试的电路及其使用方法技术方案

本发明专利技术提供一种集成CCD驱动时序及系统测试的电路，包括图像数字信号处理模块1、电平转换模块2、CCD探测器3和ADC模数转换芯片4，其中图像数字信号处理模块1还具有生成用于控制切换的模拟开关切换控制信号的子模块，所述电路还包括设在CCD探测器3和ADC模数转换芯片4之间的模拟开关5和DAC数模转换芯片6。通过对模拟开关的控制，当以CCD模拟信号作为输入时，图像数字信号处理模块1执行CCD驱动；当以DAC模拟信号作为模拟开关5的输入时，图像数字信号处理模块1生成测试信号，对CCD驱动电路进行测试。本发明专利技术的电路在实现CCD驱动的同时，能有效实现系统的自我诊断，并对系统运行状态进行随时检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及集成电路领域，特别是一种集成CCD驱动时序及系统测试功能的电路。
技术介绍
目前，人们在设计CCD相机的时候往往只会设计驱动时序以及相应的数据采集、输出、处理电路。当需要进行系统调试、测试时，往往需要另外使用示波器、逻辑分析仪等手段对驱动电路进行测试和分析。这种操作方式可行，但是调试繁琐、调试效率低，特别是对于非厂家用户，由于缺乏原理图等重要的技术文件，当需要进行系统调试、测试时通常是非常困难的。另一方面，这样的驱动电路在系统运行过程中，很难判别自身的工作状态，例如前端AFE工作是否正常、数据传输过程中某些位是否发生错误等。例如中国专利申请201410705517.0公开的一种针对行间转移CCD传感器的图像采集系统的驱动装置，该驱动装置能够较好地实现CCD传感器的图像采集系统的驱动，然而当需要进行测试时必须依赖于外部电路或设备。又例如中国专利申请CN201410110999.5公开的CCD测试装置，包括脉冲时序信号生成模块、C本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种集成CCD驱动时序及系统测试的电路，所述电路包括依次连接的图像数字信号处理模块(1)、电平转换模块(2)、CCD探测器(3)和ADC模数转换芯片(4)，图像数字信号处理模块(1)设有驱动信号输出端、DAC控制及数据信号输出端、ADC控制信号输出端、数字图像信号输出端和ADC数字信号输入端，所述电平转换模块具有驱动信号输入端和CCD驱动信号输出端，所述CCD探测器具有CCD驱动信号输入端和CCD模拟信号输出端，所述ADC模数转换芯片具有ADC模拟信号输入端、ADC控制信号输入端和ADC数字信号输出端，其特征在于所述图像数字信号处理模块(1)还具有生成用于控制切换的模拟开关切换控制信号的子模块...

【技术特征摘要】
1.一种集成CCD驱动时序及系统测试的电路，所述电路包括依
次连接的图像数字信号处理模块(1)、电平转换模块(2)、CCD探
测器(3)和ADC模数转换芯片(4)，图像数字信号处理模块(1)
设有驱动信号输出端、DAC控制及数据信号输出端、ADC控制信号
输出端、数字图像信号输出端和ADC数字信号输入端，所述电平转
换模块具有驱动信号输入端和CCD驱动信号输出端，所述CCD探测
器具有CCD驱动信号输入端和CCD模拟信号输出端，所述ADC模
数转换芯片具有ADC模拟信号输入端、ADC控制信号输入端和ADC
数字信号输出端，
其特征在于所述图像数字信号处理模块(1)还具有生成用于控
制切换的模拟开关切换控制信号的子模块并设有模拟开关切换控制
信号输出端，所述电路还包括模拟开关(5)和DAC数模转换芯片(6)，
模拟开关(5)具有两路模拟信号输入端、一路模拟信号输出端和模
拟开关切换控制信号输入端，DAC数模转换芯片(6)具有DAC控
制及数据信号输入端和DAC模拟信号输出端，其中，所述DAC控
制及数据信号输入端与图像数字信号处理模块(1)的DAC控制及数
据信号输出端相连，所述DAC模拟信号输出端与模拟开关(5)的一
路模拟信号输入端相连，模拟开关(5)的另一路模拟信号输入端与
CCD探测器(3)的CCD驱动信号输出端相连，模拟开关(5)切换
控制信号输入端与图像数字信号处理模块的模拟开关切换控制信号
输出端相连；
模拟开关(5)根据图像数字信号处理模块(1)生成并输出的模
拟开关切换控制信号进行选择，以两路模拟信号输入端中的一路作为
当前输入信号并输出至DAC数模转换芯片(6)。
2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于图像数字信号处理
模块(1)包括与外部通信逻辑单元(11)、与之相连的通信协议解释
执行部分(12)和ADC数据流接收单元(...

【专利技术属性】
技术研发人员：龙彬发，
申请(专利权)人：北京伽略电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11