激光直接成像数据转移方法及装置制造方法及图纸

一种激光直接成像（LDI）数据转移方法及装置，所述LDI数据转移方法包括：获取待转移LDI数据的标识码；根据标识码提取第一关键参数，第一关键参数为数据库中标识码指向的待转移LDI数据的关键参数；获取第二关键参数，第二关键参数为用户申请待转移LDI数据时提供的关键参数；对第一关键参数和第二关键参数进行比对，如果比对一致，则输出标识码指向的待转移LDI数据。从而减少了人工逐条比对LDI数据关键参数的工作量，实现了LDI数据的自动化输出。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及印制电路板影像转移领域，具体涉及一种激光直接成像数据转移方法及装置。
技术介绍
随着电路板工艺技术的不断发展，高端电子产品的不断革新换代，其功能的支持对印制电路板的要求也越来越高。在电路板的生产过程中，高端设备和主流技术得到不断研发和引进，如激光直接成像(laser direct imaging，LDI)，该新型技术在很多工艺流程中得到应用。LDI技术支撑设备为LDI曝光机，其可直接利用电子底片资料对PCB板的干膜覆层或者油墨覆层进行曝光，取消了生产环节中底片绘制后的再影像转移过程。其主要贡献表现在以下两方面:一方面，优化了电路板生产工艺流程，每一次影像转移工艺都节省了底片的绘制时间和操作时间，大大的缩短了产品生产周期，提高了生产效率，同时降低了产品生产成本;另一方面，由于采用电子资料直接曝光的方式，其影像的保真效果较好，品质风险低，对电路板曝光工艺的品质改善有较大的贡献。但在传统的LDI应用技术中还存在一定的缺陷，其传统的资料输出管理系统的应用限制了LDI技术应用的高效性发挥。现有技术中，LDI资料的输出管理系统流程比较繁琐，需要人工在后台数据库中抓取数据后再对系统提示的每一个输出步骤进行比对确认，关键参数还需要人工手动输出，如补偿修正值等，整个流程从在数据库中输入产品资料信息，各层别信息比对到修正参数和重复核对等均需人工操作，工作量较大，对人员操作的仔细度和谨慎度的依赖性均较强，整个环节的资料处理效率较低，而且存在一定的操作失误品质风险，不利于LDI技术应用的高效性发挥。
技术实现思路
因此，本专利技术要解决的技术问题在于现有技术中的电路板底片信息管理中难以比对激光直接成像参数。根据第一方面，本专利技术实施例公开一种激光直接成像数据转移方法，包括:获取待转移激光直接成像数据的标识码;根据标识码提取第一关键参数，第一关键参数为与标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数;获取第二关键参数，第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数;判断第一关键参数和第二关键参数是否一致，如果一致，则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据。优选地，在对第一关键参数和第二关键参数进行比对中，如果判断第一关键参数和第二关键参数不一致，则获取修正后的第二关键参数;判断第一关键参数和修正后的第二关键参数是否一致，如果一致，则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据;如果不一致，则重复获取修正后的第二关键参数和判断第一关键参数和修正后的第二关键参数是否一致的步骤。进一步，当判断第一关键参数和修正后的第二关键参数不一致的次数超过预设次数时，则停止数据转移和/或输出报警信号。进一步，第一关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个;第二关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个。根据第二方面，本专利技术实施例公开一种激光直接成像数据转移装置，包括:标识码获取单元，用于获取待转移激光直接成像数据的标识码;第一关键参数提取单元，用于根据标识码提取第一关键参数，第一关键参数为数据库中标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数;第二关键参数获取单元，用于获取第二关键参数，第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数;第一比对单元，用于判断第一关键参数和第二关键参数是否一致，如果一致，则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据。进一步，还包括:修正参数获取单元，用于在第一比对单元判断判断所述第一关键参数和所述第二关键参数不一致时，获取修正后的第二关键参数;第二比对单元，用于判断第一关键参数和修正后的第二关键参数是否一致，如果一致，则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据;如果不一致，则重启修正参数获取单元和第二比对单元。进一步，还包括:报警单元，用于当判断所述第一关键参数和所述修正后的第二关键参数不一致的次数超过预设次数时，则停止数据转移和/或输出报警信号。进一步，第一关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个;第二关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个。本专利技术实施例的技术方案，具有如下优点:本专利技术实施例提供的激光直接成像数据转移方法，根据获取的标识码提取第一关键参数，并将第一关键参数和用户提供的第二关键参数进行比对，在比对一致后，输出标识码指向的待转移激光直接成像数据，从而减少了人工逐条比对激光直接成像数据关键参数的工作量，实现了激光直接成像数据的自动化输出。作为优选的技术方案，对第一关键参数和修正后的第二关键参数进行比对，如果比对一致，则输出标识码指向的待转移激光直接成像数据，如果比对不一致，则输出用于提示不一致的参数的信息，从而实现了当第二关键参数有误时，用户能够对第二参数进行修正补偿，继而提高了激光直接成像数据转移效率。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术【具体实施方式】或现有技术中的技术方案，下面将对【具体实施方式】或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例中一种激光直接成像数据转移方法流程图；图2为本专利技术实施例中一种激光直接成像数据转移装置结构示意图。【具体实施方式】下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。激光直接成像曝光机在对印制电路板的干膜覆层或者油墨覆层进行曝光时，需要从数据库中获得正确的激光直接成像数据，本专利技术实施例提供一种激光直接成像数据转移方法和装置，以实现激光直接成像数据的自动转移。请参考图1，为本实施例公开的一种激光直接成像数据转移方法，该激光直接成像方法包括如下步骤:步骤S100，获取待转移激光直接成像数据的标识码。在具体实施例中，标识码可以形成在电路板底片上，也可以通过键盘等I/O设备获取标识码。在本实施例中，标识码可以是二维码、条码，当采用I/O设备获取标识码时，标识码则应当为字母、数字和/或其它字符组成的编码。步骤S200，根据标识码提取第一关键参数，第一关键参数为数据库中标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数。在具体实施例中，在数据库中，可以将电路板底片上的标识码及其对应的激光直接成像数据进行关联，关联的激光直接成像数据中至少包括第一关键参数，第一关键参数包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个等信息。在获取得到待转移激光直接成像数据的标识码后，可以提取与之关联的第一关键参数。步骤S300，获取第二关键参数，第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数。用户在申请电路板底片激光直接成像数据时，会输入相应激光直接成像数据的第二关键参数，所称第二关键参数与第一关键参数的项目相同，包括:印制电路板的料号、层别、拉伸比例和机台型号中的至少一个等信息。需要说明的是，本实施例中，第一关键参数和第二关键参数均为待转移激光直接成像数据的关键参数;所不同的是，第一关键参本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种激光直接成像数据转移方法，其特征在于，包括如下步骤：获取待转移激光直接成像数据的标识码；根据所述标识码提取第一关键参数，所述第一关键参数为与所述标识码相关联的待转移激光直接成像数据的关键参数；获取第二关键参数，所述第二关键参数为用户申请待转移激光直接成像数据时提供的关键参数；判断所述第一关键参数和所述第二关键参数是否一致，如果一致，则输出所述标识码指向的待转移激光直接成像数据。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：周敏，李齐，李伟，雷刚，
申请(专利权)人：北大方正集团有限公司，珠海方正科技高密电子有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11