基板检测设备及其工作方法技术

本发明专利技术提供了一种基板检测设备及其工作方法，属于显示技术领域。基板检测设备，用于对传送的基板进行检测，所述基板检测设备包括多个检测单元和与所述多个检测单元分别连接的基板信息收集器，每一检测单元包括：用于与传送的基板形成面接触的接触部；检测所述接触部与所述传送的基板的接触状态的处理部；在至少一个所述接触部与所述传送的基板形成面接触后，所述基板信息收集器接收所述处理部的检测结果，并根据所述处理部的检测结果判断所述基板是否损坏。本发明专利技术的技术方案能够检测出基板是否破碎，实现成本低。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，特别是指一种。
技术介绍
液晶显示器件(TFT-LCD)是一种依靠液态液晶分子的排列状态在电场中发生改变，进而调制背光源透过光线的显示器件。在液晶显示器件生产过程中，基板要经过高温、低温、吸附、搬运等诸多过程，有些基板难免会出现小范围的破碎，如果不及时发现并处理，则破碎的基板很可能会再次发生破碎，严重时导致设备当机，掉落在设备中的基板碎片也会对后续的工艺产生影响。现有技术中有多种检测基板状态的方式，比如，其中一种方式是利用摄像镜头抓取基板的形貌，通过图像对比判读基板是否出现弯折或者破碎，但是该种方式的实现成本较高，并且对摄像镜头的安装位置有严格的限制；另一种方式是利用光学传感器来检测基板，但是光学传感器不能安装在有化学药液的区域，这样该种方式不能全面检测整块基板的所有区域，如果基板只是出现小范围破碎，并且破碎的地方不在光学传感器的感应范围内，则基板的破碎就不能被光学传感器感知到。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种，能够检测出基板是否破碎，实现成本低。为解决上述技术问题，本专利技术的实施例提供技术方案如下:—方面，提供一种基板检测设备，用于对传送的基板进行检测，所述基板检测设备包括多个检测单元和与所述多个检测单元分别连接的基板信息收集器，每一检测单元包括:用于与传送的基板形成面接触的接触部；检测所述接触部与所述传送的基板的接触状态的处理部；在至少一个所述接触部与所述传送的基板形成面接触后，所述基板信息收集器接收所述处理部的检测结果，并根据所述处理部的检测结果判断所述基板是否损坏。进一步地，所述接触部包括:用于与传送的基板形成面接触的第一部分；与所述第一部分固定连接的第二部分；在所述第一部分与所述传送的基板形成面接触时，能够带动所述第二部分从第一状态切换至第二状态；所述处理部的检测结果为所述第二部分所处的状态。进一步地，所述基板信息收集器具体用于在所述检测结果为所述第二部分处于第一状态时，判断所述基板与所述第一部分接触的位置损坏;在所述检测结果为所述第二部分处于第二状态时，判断所述基板与所述第一部分接触的位置未损坏。进一步地，所述第二部分包括磁性部件，所述处理部包括霍耳效应磁强计半导体矩形薄片和与所述霍耳效应磁强计半导体矩形薄片连接的信号转换器；所述磁性部件位于所述霍耳效应磁强计半导体矩形薄片正上方；在所述磁性部件处于第一状态时，所述信号转换器输出第一电信号；在所述磁性部件处于第二状态时，所述信号转换器输出第二电信号；所述基板信息收集器具体用于在至少一个所述第一部分与所述传送的基板形成面接触后，接收所述信号转换器输出的电信号，并根据接收到的电信号判断所述基板是否损坏。进一步地，所述第二部分设置有过孔，所述检测单元还包括:框架；架设在所述框架上的绕动杆；所述绕动杆贯穿所述第二部分的过孔，所述第二部分能够绕所述绕动杆转动，从而在第一状态和第二状态之间切换。进一步地，所述第一部分呈圆饼状，所述第一部分的曲面用于与所述传送的基板形成面接触。进一步地，所述第一部分为采用塑料、橡胶或树脂制成。进一步地，所述传送的基板的运动方向为第一方向，所述多个接触部沿第二方向排列，所述第一方向与所述第二方向垂直。进一步地，所述多个第一部分在所述第二方向上的宽度之和不小于所述基板在所述第二方向上的宽度。本专利技术实施例还提供了一种如上所述的基板检测设备的工作方法，包括:使所述接触部与传送的基板形成面接触；检测所述接触部与所述传送的基板的接触状态；根据所述接触部与所述传送的基板的接触状态判断所述基板是否损坏。进一步地，所述接触部包括用于与传送的基板形成面接触的第一部分和与所述第一部分固定连接的第二部分，在所述第一部分与所述传送的基板形成面接触时，能够带动所述第二部分从第一状态切换至第二状态，所述方法具体包括:在所述第二部分处于第一状态时，判断所述基板与所述第一部分接触的位置损坏;在所述第二部分处于第二状态时，判断所述基板与所述第一部分接触的位置未损坏。本专利技术的实施例具有以下有益效果:上述方案中，接触部用于与传送的基板形成面接触，在其中一个或多个接触部与基板的接触状态与其他接触部与基板的接触状态不同时，则可以判断基板损坏，通过本专利技术的技术方案可以简单快捷地检测出基板是否损坏，并且本专利技术的技术方案不受环境限制，能够应用在各种工作环境中。【附图说明】图1为本专利技术实施例在没有检知到基板时，单个检测单元的状态示意图；图2为本专利技术实施例在检知到基板时，单个检测单元的状态示意图；图3和图4为本专利技术实施例在检知到基板时，单个检测单元的状态示意图；图5-图7为本专利技术实施例在没有检知到基板时，单个检测单元的状态示意图；图8为本专利技术实施例多个检测单元排列成一行的示意图；图9为本专利技术实施例多个检测单元排列成一行，传送过完整基板时的示意图；图10为本专利技术实施例多个检测单元排列成一行，传送过破碎基板时的示意图。附图标记I圆饼状塑料环2磁棒 3半导体矩形薄片4信号转换器5框架6绕动杆7基板信息收集器【具体实施方式】为使本专利技术的实施例要解决的技术问题、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图及具体实施例进行详细描述。本专利技术的实施例提供一种，能够检测出基板是否破碎，实现成本低。实施例一本实施例提供一种基板检测设备，用于对传送的基板进行检测，所述基板检测设备包括多个检测单元和与所述多个检测单元分别连接的基板信息收集器，每一检测单元包括:用于与传送的基板形成面接触的接触部；检测所述接触部与所述传送的基板的接触状态的处理部；在至少一个所述接触部与所述传送的基板形成面接触后，所述基板信息收集器接收所述处理部的检测结果，并根据所述处理部的检测结果判断所述基板是否损坏。本实施例中，接触部用于与传送的基板形成面接触，在其中一个或多个接触部与基板的接触状态与其他接触部与基板的接触状态不同时，则可以判断基板损坏，通过本专利技术的技术方案可以简单快捷地检测出基板是否损坏，并且本专利技术的技术方案不受环境限制，能够应用在各种工作环境中。具体实施例中，所述接触部包括:用于与传送的基板形成面接触的第一部分；与所述第一部分固定连接的第二部分；在所述第一部分与所述传送的基板形成面接触时，能够带动所述第二部分从第一状态切换至第二状态；所述处理部的检测结果为所述第二部分所处的状态。进一步地，所述基板信息收集器具体用于在所述检测结果为所述第二部分处于第一状态时，判断所述基板与所述第一部分接触的位置损坏;在所述检测结果为所述第二部分处于第二状态时，判断所述基板与所述第一部分接触的位置未损坏。其中，第一状态为所述第二部分的初始状态(比如第一状态时即第二部分垂直于基板，第二状态时第二部分相对于垂直基板的方向倾斜)，当所述第一部分未与传送的基板形成面接触时，第二部分处于第一状态；当第一部分与传送的基板形成面接触时，第一部分转动带动第二部分从第一状态切换至第二状态，在第二部分处于第二状态时，即可判断第一部分与传送的基板发生了面接触，基板与第一部分接触的部分未损坏。具体实施例中，可以根据霍耳效应磁强计的原理，利用霍耳效应磁强计来检测第二部分的状态，从而判断第一部分是否与传送的基板形成面接触。所述第二部分包括磁性部件，所述处理部包括霍耳效应磁强计半导体矩形薄片和与所述霍耳效本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基板检测设备，其特征在于，用于对传送的基板进行检测，所述基板检测设备包括多个检测单元和与所述多个检测单元分别连接的基板信息收集器，每一检测单元包括：用于与传送的基板形成面接触的接触部；检测所述接触部与所述传送的基板的接触状态的处理部；在至少一个所述接触部与所述传送的基板形成面接触后，所述基板信息收集器接收所述处理部的检测结果，并根据所述处理部的检测结果判断所述基板是否损坏。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙超超，刘华锋，赵生伟，张凯，吕景萍，叶路路，杨磊，王超，杨盟，胡重粮，丁多龙，顺布乐，李瑶，孙士民，谢霖，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11