触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板技术

本申请涉及一种触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板。该检测电路包括：第一晶体管的栅极和第二晶体管的栅极与数据开关端子电性连接；第一晶体管电性连接于第一数据端子和第一数据线组节点之间；第二晶体管电性连接于第二数据端子和第二数据线组节点之间；第三晶体管的栅极和第四晶体管的栅极与公共开关端子电性连接；第三晶体管的漏极与第二数据端子电性连接；第三晶体管的源极和第四晶体管的漏极与第一公共电极块组节点电性连接；第四晶体管的源极和公共端子与第二公共电极块组节点电性连接。本申请的触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板能够减少检测端子的数量，有利于边框的窄边化及走线设计。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术总体涉及显示
，具体而言，涉及一种触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板。
技术介绍
近年来，信息通讯领域的迅速发展，提高了各种类型的显示设备的需求。目前，触控显示装置越来越流行，触控显示装置一般包括触控显示面板，然而，实际生产触控显示面板时，发现存在难以检测触控显示面板上触控引线的断路和/或短路问题。如图1A-1C所示，为现有技术中的一种触控检测方法。参考图1A，公共电极层有多个公共电极块，所述多个公共电极块还用于触控传感器，将上述多个公共电极块以交替间隔的方式分成两个公共电极块组，分别为A公共电极块组和B公共电极块组。参考图1B，A公共电极块组和B公共电极块组分别通过晶体管开关元件与COMA公共端子和COMB公共端子连接，由COMA公共端子和COMB公共端子提供检测信号。晶体管开关元件由COMSW开关端子提供的信号进行开关控制。进行触控检测时，通过给COMA公共端子和COMB公共端子施加不同的检测电压，产生如图1C所示的检测画面。其中，第一帧时，对所有公共电极块组施加第一电位，以使得整个触控显示面板显示白色。第二帧时，通过COMA公共端子对A公共电极块组施加第二电位，B公共电极块组不被施加第二电位，以使得A公共电极块组所在区域显示黑色，B公共电极块组所在区域保持白色，如图1C所示。其中，在A公共电极块组所在区域中，显示为白色的区域所对应的公共电极块的引线发生断路;在B公共电极块组所在区域中，显示为黑色的区域所对应的公共电极块的引线发生短路。上述触控电路中，需要额外增加两个检测端子，S卩COMSW开关端子和一个公共端子以实现检测，而端子数量的增加对显示边框的宽度减小和走线都会产生不利的影响。并且，在显示时，由于同时给两个公共电压，可能由于公共电压的不均而出现画面质量问题。因此，针对上述问题需要一种新的触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板。在所述
技术介绍
部分公开的上述信息仅用于加强对本公开的背景的理解，因此它可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
技术实现思路
本专利技术提供一种触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板，能够减少检测端子的数量。本专利技术的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本公开的实践而习得。根据本专利技术的一方面，一种触控显示面板的检测电路，包括:数据开关端子，第一数据端子，第二数据端子，第一晶体管，第二晶体管，第一数据线组节点，第二数据线组节点，公共开关端子，公共端子，第三晶体管，第四晶体管，第一公共电极块组节点，第二公共电极块组节点，其中，所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极与所述数据开关端子电性连接；所述第一晶体管电性连接于所述第一数据端子和所述第一数据线组节点之间；所述第二晶体管电性连接于所述第二数据端子和所述第二数据线组节点之间；所述第三晶体管的栅极和所述第四晶体管的栅极与所述公共开关端子电性连接；所述第三晶体管和所述第四晶体管，其中之一为N型晶体管，其中另一为P型晶体管；所述第三晶体管的漏极与所述第二数据端子电性连接；所述第三晶体管的源极和所述第四晶体管的漏极与所述第一公共电极块组节点电性连接；所述第四晶体管的源极和所述公共端子与所述第二公共电极块组节点电性连接。根据本专利技术的一实施方式，还包括第五晶体管，所述第五晶体管处于导通状态且串联于所述公共端子与所述第二公共电极块组节点之间。根据本专利技术的二方面，一种基于本专利技术第一方面提供的检测电路的触控显示面板检测方法，包括:进行显示检测时，所述数据开关端子提供导通信号，所述公共开关端子提供使所述第四晶体管导通的信号；向所述第一数据端子施加第一检测电压，向所述第二数据端子施加第二检测电压；向所述公共端子施加公共电压；进行触控检测时，所述数据开关端子提供导通信号，所述公共开关端子提供使所述第三晶体管导通的信号；向所述第一数据端子和所述第二数据端子施加数据电压；向所述公共端子施加公共电压，所述数据电压与所述公共电压不同。根据本专利技术的三方面，一种基于本专利技术第一方面提供的检测电路的触控显示面板。根据本专利技术的一实施方式，所述触控显示面板包括显示区与围绕所述显示区的非显示区，所述检测电路设置在所述非显示区。根据本专利技术的一实施方式，还包括一数据线层，所述数据线层包括多根数据线，所述多根数据线包括第一数据线组和第二数据线组，所述第一数据线组与所述第一数据线组节点电性连接，所述第二数据线组与所述第二数据线组节点电性连接，所述数据线设置在所述显示区。根据本专利技术的一实施方式，还包括一公共电极层，所述公共电极层划分为多个公共电极块，所述多个公共电极块包括第一公共电极块组和第二公共电极块组，所述第一公共电极块组与所述第一公共电极块组节点电性连接，所述第二公共电极块组与所述第二公共电极块组节点电性连接，所述公共电极块设置在所述显示区。本申请的触控显示面板的检测电路及检测方法、触控显示面板通过复用触控检测电路和显示检测电路中的开关端子，减少了开关端子数量。通过控制晶体管开关元件的导通/截止，复用数据电压与公共电压，进一步减少了检测端子的数量。从而，减少了在触控显示面板边框区域部分设置的检测端子数量，有利于边框的窄边化及走线设计。同时，也实现了电压的一致性，这样使画面显示更均匀。【附图说明】通过参照附图详细描述其示例实施例，本专利技术的上述和其它目标、特征及优点将变得更加显而易见。图1A示意性示出现有技术中的触控显示面板示意图。图1B示意性示出现有技术中的触控显示面板的检测电路示意图。图1C示意性示出基于图1A的检测示意图。图2示意性示出根据本专利技术示例实施方式的触控显示面板的检测电路示意图。图3示意性示出根据本专利技术示例实施方式的另一触控显示面板的检测电路示意图。图4示意性示出根据本专利技术示例实施方式的触控显示面板的示意图。【具体实施方式】现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例;相反，提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。附图仅为本专利技术的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本专利技术的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本专利技术的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免喧宾夺主而使得本专利技术的各方面变得模糊。图2示意性示出根据本专利技术示例实施方式的触控显示面板的检测电路示意图。如图2所示，触控显示面板的检测电路包括:数据开关端子200，第一数据端子201，第二数据端子202，第一晶体管203，第二晶体管204，第一数据线组节点205，第二数据线组节点206，公共开关端子207，公共端子208，第三晶体管209，第四晶体管210，第一公共电极块组节点211，第二公共电极块组节点212。其中，第一晶体管203的栅极和第二晶体管204的栅极本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控显示面板的检测电路，其特征在于，包括：数据开关端子，第一数据端子，第二数据端子，第一晶体管，第二晶体管，第一数据线组节点，第二数据线组节点，公共开关端子，公共端子，第三晶体管，第四晶体管，第一公共电极块组节点，第二公共电极块组节点，其中，所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极与所述数据开关端子电性连接；所述第一晶体管电性连接于所述第一数据端子和所述第一数据线组节点之间；所述第二晶体管电性连接于所述第二数据端子和所述第二数据线组节点之间；所述第三晶体管的栅极和所述第四晶体管的栅极与所述公共开关端子电性连接；所述第三晶体管和所述第四晶体管，其中之一为N型晶体管，其中另一为P型晶体管；所述第三晶体管的漏极与所述第二数据端子电性连接；所述第三晶体管的源极和所述第四晶体管的漏极与所述第一公共电极块组节点电性连接；所述第四晶体管的源极和所述公共端子与所述第二公共电极块组节点电性连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：苏凌志，王慧敏，
申请(专利权)人：厦门天马微电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35