一种修复TFT面板阵列T形缺陷的测试结构制造技术

技术编号:12859551 阅读:97 留言:0更新日期:2016-02-12 16:38
本实用新型专利技术提供一种修复TFT面板阵列T形缺陷的测试结构,包括:支撑件和连接件;所述支撑件包括支撑平台和安装在所述支撑平台上的缓冲层和支撑柱;所述缓冲层上承载有待修复的非晶硅TFT面板阵列,所述非晶硅TFT面板阵列具有第一表面和第二表面,所述第一表面形成有闪烁体层,所述闪烁体层与所述缓冲层物理接触;所述连接件包括柔性电路板和信号处理电路板,所述信号处理电路板由所述支撑柱所支撑。本实用新型专利技术通过在支撑平台上设置支撑件,再利用柔性电路板和信号处理电路板,使非晶硅TFT面板阵列能够倒置于支撑平台上,从而将使激光可以从非晶硅TFT面板阵列的背面入射,找到并隔离修复受损像素点,这样能够避免返工,提升产品合格率,保证产品的品质。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及医疗检测领域,特别是涉及一种修复TFT面板阵列T形缺陷的测试结构
技术介绍
从1995年RSNA上推出第一台平板探测器(Flat Panel Detector)设备以来,随着近年平板探测技术取得飞跃性的发展,在平板探测器的研发和生产过程中,平板探测技术可分为直接和间接两类。间接FPD的结构主要是由闪烁体或荧光体层加具有光电二极管作用的非晶娃层(amorphous Silicon,a_Si)再加薄膜半导体阵列(Thin Film Transistorarray, TFT)构成。非晶硅X射线平板探测器的成像过程需要经历“X射线”到“可见光”,然后“电荷图像”到“数字图像”的成像转换过程,是一种以非晶硅光电二极管阵列为核心的X射线影像探测器。在X射线照射下探测器的闪烁体或荧光体层将X射线光子转换为可见光,而后由具有光电二极管作用的非晶硅阵列变为图像电信号,通过外围电路积分读出及A/D变换,从而获得数字化图像。非晶硅平板探测器具有成像速度快,良好的空间及密度分辨率,高信噪比,直接数字输出等显著优点。但是,在非晶硅TFT面板阵列的生产过程中,会引入一些杂质,导致个别像素点本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种修复TFT面板阵列T形缺陷的测试结构,其特征在于,所述测试结构至少包括:支撑件和连接件;所述支撑件包括支撑平台和安装在所述支撑平台上的缓冲层和支撑柱;所述缓冲层上承载有待修复的非晶硅TFT面板阵列,所述非晶硅TFT面板阵列具有第一表面和第二表面,所述第一表面形成有闪烁体层,所述闪烁体层与所述缓冲层物理接触;所述连接件包括与所述非晶硅TFT面板阵列电连的柔性电路板、和与所述柔性电路板电连的信号处理电路板,所述信号处理电路板由所述支撑柱所支撑。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:周作兴程丙勋崔亚辉何其军
申请(专利权)人:上海奕瑞光电子科技有限公司
类型:新型
国别省市:上海;31

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