本发明专利技术提供缺陷检查系统以及膜的制造装置。缺陷检查系统包含：粘贴辊，其粘贴第一膜与第二膜而形成膜；输送线，其在粘贴辊的下游侧输送膜；缺陷检查装置，其被设置于输送线；以及记录装置，其被设置于比缺陷检查装置靠下游侧的输送线，并且将与通过缺陷检查装置检测出的缺陷有关的缺陷信息记录于膜，缺陷检查装置被配置于比除粘贴辊以外最初与第二膜的第一膜侧的相反侧的面接触的辊靠上游侧的输送线。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及缺陷检查系统以及膜的制造装置。本申请主张基于在2013年6月4日提出的日本国专利申请2013 — 117947号的优先权，并且在此引用其内容。
技术介绍
作为带状的膜的缺陷检查系统，公知有专利文献1所记载的缺陷检查系统。专利文献1的缺陷检查系统在膜的输送线上具备缺陷检查装置与将缺陷信息记录于膜的记录 目.ο另一方面，作为膜的制造装置，公知有专利文献2所记载的膜的制造装置。专利文献2的膜的制造装置具备:粘贴辊，其粘贴第一膜与第二膜并形成膜；输送线，其在粘贴辊的下游侧输送膜；以及缺陷检查装置，其被设置于输送线。例如，在膜的生产线中，粘贴第一膜与第二膜并且卷绕为辊状从而制造膜的原料辊。在粘贴第一膜与第二膜时，存在在第一膜与第二膜之间产生混入气泡等的啮入异物的情况。缺陷检查装置检查在第一膜与第二膜之间有无异物缺陷等。专利文献1:日本国特开2011 — 7779号公报专利文献2:日本国特开2008 - 49604号公报缺陷检查装置通常被设置于输送线的下游侧。与将缺陷检查装置设置于输送线的上游侧相比设置于输送线的下游侧能够对在输送中在膜产生的瑕疵等的缺陷进行集中检查。例如，缺陷检查装置在膜与10?20的辊接触之后检查膜有无缺陷。另一方面，在将最终制品的第二膜从第一膜剥离的情况下，第二膜的表面的瑕疵不会成为问题。例如，即便在第二膜的表面产生瑕疵，在第一膜与第二膜之间不存在异物缺陷等的情况下，也能够将膜作为最终制品没有问题地进行使用。然而，若在膜的输送中在第二膜的表面产生瑕疵，则存在本来不会成为问题的第二膜的表面的瑕疵被误检测为缺陷的情况。在该情况下，能够作为最终制品使用的膜被识别为缺陷品。
技术实现思路
本专利技术的方式是鉴于这种情况产生的，其目的在于提供一种能够抑制由瑕疵的检测引起的虚报缺陷的缺陷检查系统以及膜的制造装置。为了实现上述目的，本专利技术的方式的缺陷检查系统以及膜的制造装置采用了以下结构。(1)本专利技术的第一方式的缺陷检查系统是具有第一膜与以能够剥离的方式被层叠于上述第一膜的第二膜的带状的膜的缺陷检查系统，上述缺陷检查系统包含:粘贴辊，其粘贴上述第一膜与上述第二膜而形成上述膜；输送线，其在上述粘贴辊的下游侧输送上述膜；缺陷检查装置，其被设置于上述输送线；以及记录装置，其被设置于比上述缺陷检查装置靠下游侧的上述输送线，并且将与通过上述缺陷检查装置检测出的缺陷有关的缺陷信息记录于上述膜，上述缺陷检查装置被配置于比除上述粘贴辊以外、最初与上述第二膜的上述第一膜侧的相反侧的面接触的辊靠上游侧的上述输送线。(2)在上述(1)所记载的缺陷检查系统中，上述缺陷检查装置也可以包含:光源，其被配置于上述膜的上述第一膜一侧，并且向上述膜照射光；拍摄装置，其被配置于上述膜的上述第二膜一侧，并且拍摄上述膜的透过光像；第一偏光滤光片，其被配置于上述光源与上述膜之间的光路上，并且具有第一吸收轴；以及第二偏光滤光片，其被配置于上述拍摄装置与上述膜之间的光路上，并且具有与上述第一吸收轴正交的第二吸收轴。(3)在上述(1)所记载的缺陷检查系统中也可以为，上述第一膜是偏振器，上述缺陷检查装置包含:光源，其被配置于上述膜的上述偏振器一侧，并且向上述膜照射光；拍摄装置，其被配置于上述膜的上述第二膜一侧，并且拍摄上述膜的透过光像；以及偏光滤光片，其被配置于上述拍摄装置与上述膜之间的光路上，并且具有与上述偏振器的吸收轴正交的吸收轴。(4)本专利技术的第二方式的膜的制造装置包含上述(1)?(3)中的任一项所记载的缺陷检查系统。专利技术的效果根据本专利技术的方式，能够提供能够抑制由瑕疵的检测引起的虚报缺陷的缺陷检查系统以及膜的制造装置。【附图说明】图1是表示第一实施方式的膜的制造装置的侧视图。图2是用于说明第一偏光滤光片的第一吸收轴与第二偏光滤光片的第二吸收轴的配置关系的图。图3是第一实施方式的缺陷检查装置的俯视图。图4是用于说明基于比较例1的缺陷检查系统的膜的缺陷检查的图。图5是用于说明基于第一实施方式的缺陷检查系统的膜的缺陷检查的图。图6是表示第二实施方式的膜的制造装置的侧视图。图7是用于说明偏振器的吸收轴与偏光滤光片的吸收轴的配置关系的图。图8是用于说明基于比较例2的缺陷检查系统的膜的缺陷检查的图。图9是用于说明基于第二实施方式的缺陷检查系统的膜的缺陷检查的图。【具体实施方式】以下，参照附图对本专利技术的实施方式进行说明，但本专利技术并不限定于以下的实施方式。此外，在以下的全部附图中，为了容易观察附图，使各构成要素的尺寸、比率等适当地不同。另外，在以下的说明以及附图中，对于相同或者相当的要素，标注相同的附图标记，并且省略重复说明。(第一实施方式)图1是表示本专利技术的第一实施方式的膜的制造装置1的侧视图。在图1中，附图标记sn是膜F的上表面，并且是第一膜F1侧的面。附图标记Sf2是膜F的下表面，并且是第二膜F2侧的面。在以下的说明中，根据需要设定XYZ正交坐标系，参照该XYZ正交坐标系对各部件的位置关系进行说明。在本实施方式中，将带状的膜的输送方向设为X方向，将膜的面内的与X方向正交的方向(长条的膜的宽度方向)设为Y方向，将与X方向以及Y方向正交的方向设为Z方向。如图1所示，膜的制造装置1具备:第一供给部7，其供给第一膜F1 ;第二供给部8，其供给第二膜F2 ;缺陷检查系统2，其检查膜F有无缺陷；多个辊(例如在本实施方式中，第一导辊10、第二导辊11以及第三导辊12)，它们形成膜F的输送路径；以及卷绕部9，其卷绕膜F。此外，在本实施方式中，作为形成膜F的输送路径的多个辊，设置有第一导辊10、第二导辊11以及第三导辊12的三个导辊，但并不限定于此。例如，作为形成膜F的输送路径的多个辊，也可以设置四个以上导辊，除导辊之外，也可以设置夹持辊、张力调节辊。另夕卜，除这种接触辊以外，也可以设置气动杆等的非接触辊。膜F是具有第一膜F1与以能够剥离的方式被层叠于第一膜F1的第二膜F2的带状的膜。本实施方式中所使用的膜F例如是作为最终制品被使用的膜亦即第一膜F1的一方的面被分离膜亦即第二膜F2覆盖的构造。作为第一膜F1，例如能够使用TAC(Triacetylcellulose:三乙酰纤维素)膜、相位差膜、提高亮度膜、可视角放大膜等膜。作为第二膜F2，例如能够使用带离型膜的粘结膜。此外，膜F也可以在第一膜F1的另一方的面层叠有相位差膜、亮度提高膜等的多个光学膜。另外，在将膜F的第二膜F2从第一膜F1剥离的情况下，不是将第二膜F2整体从第一当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种缺陷检查系统，其是具有第一膜和以能够剥离的方式被层叠于所述第一膜的第二膜的带状的膜的缺陷检查系统，其包括：粘贴辊，其粘贴所述第一膜与所述第二膜而形成所述膜；输送线，其在所述粘贴辊的下游侧输送所述膜；缺陷检查装置，其被设置于所述输送线；以及记录装置，其被设置于比所述缺陷检查装置靠下游侧的所述输送线，并且将与通过所述缺陷检查装置检测出的缺陷有关的缺陷信息记录于所述膜，所述缺陷检查装置被配置于比除所述粘贴辊以外、最初与所述第二膜的所述第一膜侧的相反侧的面接触的辊靠上游侧的所述输送线。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：井村圭太，
申请(专利权)人：住友化学株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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