本发明专利技术实施例公开了一种LED均匀性评估方法及装置，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题。本发明专利技术实施例LED均匀性评估方法包括：在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积；将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及LED显示
，尤其涉及一种LED均匀性评估方法及装置。
技术介绍
目前LED在选择晶元等原材料存在离散性，当晶元封装成LED灯珠后在一定的电 流条件下发光亮度以及波长都存在一定区域范围，不同范围的灯珠被分成不同的产品批 次，为了避免不在同一范围的灯珠尽可能的被消耗，在LED显示屏厂存在同一订单使用 2-3个BIN的灯珠在灯板上混装情况。 其次，由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示 墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高。如果贴片 的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，从而导致了LED拼接显示 的效果低的技术问题。
技术实现思路
本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估方法及装置，解决了目前由于LED生产 企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购 的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次 的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题。 本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估方法，包括： 在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定； 根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的距离的一半为一个正 方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积； 将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值。 可选地，在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定具体包括： 记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例； 在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定。 可选地，根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的距离的一半 为一个正方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积具体包括： 根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的所述中心点之间的距离的一半为一 个正方形的边长； 根据所述边长按照正方形面积计算公式计算所述正方形的所述批次灯珠面积。 可选地，根据所述边长按照正方形面积计算公式计算所述正方形的所述批次灯珠 面积之后还包括： 对其余批次的所述灯珠一一进行两两相邻像素点的确定，并计算两两相邻像素点 的边长所构造的其余每个所述批次对应的批次灯珠面积。 可选地，将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值具体包括： 将所述批次灯珠面积与记录每个所述批次的所述灯珠占灯珠总量的比例进行批 次面积占比之和的计算； 将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求第一差值； 对所述批次面积占比之和与所述差值计算第二差值。 本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估装置，包括： 确定单元，用于在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定； 第一计算单元，用于根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的 距离的一半为一个正方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积； 第二计算单元，用于将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值。 可选地，所述确定单元具体包括： 记录子单元，用于记录每个批次的灯珠占灯珠总量的比例； 第一确定子单元，用于在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确 定。 可选地，第一计算单元具体包括： 第二确定子单元，用于根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的所述中心点 之间的距离的一半为一个正方形的边长； 第一计算子单元，用于根据所述边长按照正方形面积计算公式计算所述正方形的 所述批次灯珠面积。 可选地，第一计算单元还包括： 第二计算子单元，用于对其余批次的所述灯珠一一进行两两相邻像素点的确定， 并计算两两相邻像素点的边长所构造的其余每个所述批次对应的批次灯珠面积。 可选地，第二计算单元具体包括： 第三计算子单元，用于将所述批次灯珠面积与记录每个所述批次的所述灯珠占灯 珠总量的比例进行批次面积占比之和的计算； 第四计算子单元，用于将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求第一差值； 第五计算子单元，用于对所述批次面积占比之和与所述差值计算第二差值。 从以上技术方案可以看出，本专利技术实施例具有以下优点： 本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估方法及装置，其中，LED均匀性评估方法 包括：在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；根据两两相邻像素点， 确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批 次灯珠面积；将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值。本实施例中，通过在灯板上基 于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定，然后根据两两相邻像素点，确定像素点的 中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据边长计算正方形的批次灯珠面积， 最后将计算的灯板总面积与批次灯珠面积求差值，便可以是判断灯板总面积与批次灯珠面 积的差值越趋于零，则说明批次灯珠面积越接近灯板总面积，得到了对应批次的在灯板的 均匀性高的评估，解决了目前由于LED生产企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个 LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很 高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED 拼接显示的效果低的技术问题。【附图说明】 为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现 有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本 专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可 以根据这些附图获得其它的附图。 图1为本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估方法的一个实施例的流程示意 图；图2为本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估方法的另一个实施例的流程示意 图；图3为本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估装置的一个实施例的结构示意 图；图4为本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估装置的另一个实施例的结构示意 图； 图5为图2实施例的应用例示意图。【具体实施方式】 本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估方法及装置，解决了目前由于LED生产 企业一次性采购大量的LED灯珠，但是在同一个LED拼接显示墙中，往往需要采用多次采购 的LED灯珠，这样对于LED贴片的均匀性要求很高，如果贴片的均匀性不好，造成同一批次 的灯珠贴在灯板上的同一个区域，所导致的LED拼接显示的效果低的技术问题。 为使得本专利技术的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术 实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述 的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域 普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护 的范围。 请参阅图1，本专利技术实施例提供的一种LED均匀性评估方法的一个实施例包括： 101、在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定； 本实施例中，当需要衡量评估多批次LED灯珠贴片在灯板上的均匀性时，首先需 要在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定。 102、根据两两相邻像素点，确定像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形 的边长，并本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种LED均匀性评估方法，其特征在于，包括：在灯板上基于同一批次的灯珠进行两两相邻像素点的确定；根据两两相邻所述像素点，确定所述像素点的中心点之间的距离的一半为一个正方形的边长，并根据所述边长计算所述正方形的批次灯珠面积；将计算的灯板总面积与所述批次灯珠面积求差值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：陈永权，
申请(专利权)人：广东威创视讯科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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