本发明专利技术公开了一种测试机台及测试装置，属于显示技术领域。所述测试机台包括：底座和平整组件，底座用于放置待测面板；平整组件用于通过平整平面向待测面板的测试面施加压力，直至平整平面与底座上放置待测面板的放置平面的距离减小至预设距离。本发明专利技术解决了无法改善因液晶显示面板的弯曲而出现的液晶显示面板的显示不良的问题，达到了能够改善因待测面板的弯曲而出现的待测面板的显示不良的效果，本发明专利技术用于测试待测面板。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示
，特别涉及一种测试机台及测试装置。
技术介绍
在液晶显示面板的生产过程中，为了保证液晶显示面板的质量，通常需要测试液晶显示面板的特性。相关技术中，使用测试装置对液晶显示面板的特性进行测试。测试装置包括:测试机台和探头，探头设置在测试机台上，探头能够在测试机台的测试区域内移动。液晶显示面板包括:对盒成形的阵列基板和彩膜基板，以及位于阵列基板和彩膜基板之间的液晶。在测试液晶显示面板的特性时，可以将液晶显示面板置于测试机台的测试区域内，然后控制探头在测试机台的测试区域内按照特定的路线进行移动，获取液晶显示面板各个位置与测试机台的距离，并结合阵列基板以及彩膜基板的厚度，确定液晶显示面板上的各个位置对应的阵列基板与彩膜基板的距离，进而确定液晶显示面板的特性。在实际生产过程中，液晶显示面板可能由于制造缺陷等原因，出现弯曲，此时，需要获取该弯曲的液晶显示面板处于弯曲状态和平坦状态下的特性，并对该弯曲状态和平坦状态下的特性进行对比分析，改善因液晶显不面板的弯曲而出现的液晶显不面板的显不不良。由于相关技术中的测试机台无法获取弯曲的液晶显示面板处于平坦状态下的特性，因此，无法改善因液晶显示面板的弯曲而出现的液晶显示面板的显示不良。
技术实现思路
为了解决无法改善因液晶显示面板的弯曲而出现的液晶显示面板的显示不良的问题，本专利技术提供了一种测试机台及测试装置。所述技术方案如下:第一方面，提供了一种测试机台，所述测试机台包括:底座和平整组件，所述底座用于放置待测面板；所述平整组件用于通过平整平面向所述待测面板的测试面施加压力，直至所述平整平面与所述底座上放置所述待测面板的放置平面的距离减小至预设距离。可选的，所述平整组件包括:施力结构和夹片，所述夹片设置在所述施力结构与所述待测面板之间，所述夹片在所述底座上的投影与所述放置平面存在重叠区域，所述施力结构用于向所述夹片施加压力。可选的，所述施力结构包括:设置在所述底座上所述放置平面所在一侧的螺杆，以及与所述螺杆相匹配的螺母，所述螺杆的轴线垂直于所述放置平面，所述夹片上设置有供所述螺杆穿过的通孔；或，所述施力结构包括:设置在所述底座上所述放置平面所在一侧的螺孔，以及与所述螺孔相匹配的螺钉，所述螺孔的轴线垂直于所述放置平面，所述夹片上设置有供所述螺钉穿过的通孔。可选的，所述测试机台还包括:垫片，所述垫片由弹性材质制成，所述垫片设置在所述底座和所述夹片之间，且所述垫片和所述待测面板分别位于所述通孔的两侧。可选的，所述测试机台包括:至少两个夹具和轨道，每个所述夹具包括:所述底座和所述平整组件，每个所述夹具的底座上设置有与所述轨道相匹配的凹槽，所述凹槽位于所述底座上的非放置平面，所述非放置平面与所述放置平面为所述底座上的不同平面。可选的，所述放置平面上形成有凸起，所述垫片位于所述凸起和所述通孔之间。可选的，所述轨道为回字形轨道。可选的，所述至少两个夹具的底座组成回字形结构。可选的，所述弹性材质为橡胶。第二方面，提供了一种测试装置，所述测试装置包括:测试机台和探头，所述测试机台为第一方面所述的测试机台。本专利技术提供了一种测试机台及测试装置，由于测试机台包括底座和平整组件，在待测面板发生弯曲的情况下，可以将该弯曲的待测面板置于底座上，获取弯曲的待测面板区域弯曲状态的特性；且由于平整组件能够通过平整平面向放置于底座上的待测面板的测试面施加压力，直至平整平面与底座上放置待测面板的放置平面之间的距离减小至预设距离，使得发生弯曲的待测面板处于平坦状态，从而该测试机台可以获取该弯曲的待测面板处于弯曲状态和平坦状态下的特性，所以，能够改善因待测面板的弯曲而出现的待测面板的显示不良。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本专利技术。【附图说明】为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术实施例提供的一种测试机台的结构示意图；图2是本专利技术实施例提供的另一种测试机台的结构示意图；图3-1是本专利技术实施例提供的又一种测试机台的结构示意图；图3-2是本专利技术实施例提供的再一种测试机台的结构示意图；图4是本专利技术另一实施例提供的一种测试机台的结构示意图；图5是本另一专利技术实施例提供的另一种测试机台的结构示意图；图6是图5所示的测试机台的局部结构示意图。通过上述附图，已示出本专利技术明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本专利技术构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本专利技术的概念。【具体实施方式】为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术实施方式作进一步地详细描述。如图1所示，本专利技术实施例提供了一种测试机台0，该测试机台O可以包括:底座01和平整组件02。该底座01可以用于放置待测面板A。平整组件02可以用于通过平整组件02上的平整平面B向待测面板A的测试面C施加压力，直至平整组件02上的平整平面B与底座01上放置待测面板A的放置平面D的距离减小至预设距离。综上所述，本专利技术实施例提供的测试机台中，由于测试机台包括底座和平整组件，在待测面板发生弯曲的情况下，可以将弯曲的待测面板置于底座上，获取弯曲的待测面板区域弯曲状态的特性；且由于平整组件能够通过平整平面向放置于底座上的待测面板的测试面施加压力，直至平整平面与底座上放置待测面板的放置平面之间的距离减小至预设距离，使得发生弯曲的待测面板处于平坦状态，从而该测试机台可以获取该弯曲的待测面板处于弯曲状态和平坦状态下的特性，所以，能够改善因待测面板的弯曲而出现的待测面板的显示不良。可选的，图2为本专利技术实施例提供的另一种测试机台0，如图2所示，平整组件02可以包括:施力结构021和夹片022，夹片022设置在施力结构021与待测面板A之间，夹片022在底座01上的投影与底座01上放置待测面板A的放置平面D存在重叠区域，施力结构021可以用于向夹片022施加压力，此时，该平整组件02的平整平面B为该夹片022靠近底座的表面，在施力结构021向夹片022施力后，夹片022可以将施力结构021施加的力转移至待测面板A上，使得夹片022与底座01对待测面板A进行挤压。—方面，如图3-1所示，本专利技术实施例提供了又一种测试机台0，施力结构021可以包括:设置在底座01上放置平面D所在一侧的螺杆0211，以及与螺杆0211相匹配的螺母0212，螺杆0211的轴线垂直于放置平面D，夹片022上设置有供螺杆0211穿过的通孔Fl ;另一方面，如图3-2所示，本专利技术实施例提供了再一种测试机台0，施力结构021可以包括:设置在底座01上放置平面D所在一侧的螺孔0213，以及与螺孔0213相匹配的螺钉0214，螺孔0123的轴线垂直于放置平面D，夹片022上设置有供螺钉0214穿过的通孔F2。相关技术中，若在测试的过程中，液晶显示面板发生移动，使得液晶显示面板的一部分位于测试区域外，则探头会漏测位于测试区域外的液晶显示面板的特性，因此，无法获取液晶显示面板各个位置本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试机台，其特征在于，所述测试机台包括：底座和平整组件，所述底座用于放置待测面板；所述平整组件用于通过平整平面向所述待测面板的测试面施加压力，直至所述平整平面与所述底座上放置所述待测面板的放置平面的距离减小至预设距离。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：孙东领，曲博文，权宁万，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，合肥京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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