基板抽检方法技术

本发明专利技术提供了一种基板抽检方法，通过设置抽检频率和待抽检侧别信息，当基板到达时先通过基板计数判断是否达到抽检频率，再判断基板的侧别信息与待抽检侧别信息是否一致、及基板的侧别信息与已存储的基板的侧别信息是否相同，判定是否对基板进行抽检，通过加入侧别信息判断的步骤使得来自于不同制程舱及工作台的产品都能够被抽检到，避免因固定不变的抽检频率，导致每次抽检的基板均来自同一个制程舱或同一侧工作台而漏检存在缺陷的制程舱或工作台的问题，提高产品良率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种。
技术介绍
液晶显示装置(LCD，Liquid Crystal Display)具有机身薄、省电、无福射等众多优点，得到了广泛的应用。如:液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等。通常液晶显示装置包括壳体、设于壳体内的液晶显示面板及设于壳体内的背光模组(Backlight module) 0其中，液晶显示面板的结构主要是由一薄膜晶体管阵列基板(Thin Film Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)、一彩膜基板(Color Filter，CF)、以及配置于两基板间的液晶层(Liquid Crystal Layer)所构成，其工作原理是通过在两片玻璃基板上施加驱动电压来控制液晶层的液晶分子的旋转，将背光模组的光线折射出来产生画面。通常液晶显示面板由彩膜基板、阵列基板、夹于彩膜基板与阵列基板之间的液晶、及密封胶框组成。阵列基板的制作方法是先制作薄膜晶体管层、再制作平坦层、及像素电极。彩膜基板的制作方法先制作完黑色矩阵后，再制作彩色光阻层(红/绿/蓝光阻层)，最后制作光阻间隔物，完成彩膜基板的制作。在基板的制作过程中，为了保证基板的品质，需要对基板的制程质量进行抽检，现有技术对基板的抽检方法是，首先提供一检测设备，并在该检测设备上预设一抽检频率，当经过检测机的彩膜基板的数量达到预设的抽检频率后，通过检测机对基板进行检测。然而，在基板的大规模生产过程中，为了提升生产效能，制程的设备通常会设置多个制程舱(chamber)或多个侧别的工作台(stage)，多个制程舱或工作台同时进行制程，如此对于分别由不同制程舱或工作台制作的多个基板来说，配合固定不变的抽检频率，可能会使得每次抽检的基板均来自同一个制程舱或同一侧工作台，而无法抽检到其他的制程舱或工作台，导致漏检存在缺陷的制程舱或工作台制作的基板，导致无法及时发现产品异常，降低产品良率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种，采用抽检频率和待抽检侧别信息，相结合的方法进行抽检，使来自于不同制程舱及工作台的产品都被检测到，避免漏检问题。为实现上述目的，本专利技术提供了一种，包括如下步骤:步骤1、提供一检测机，设η为正整数，预设检测机的抽检频率为η及一个或多个待抽检侧别信息，基板计数归零；提供数个基板，基板逐一进入检测机；步骤2、一基板到达检测机，基板计数以I为增量进行迭代累加，计算公式为:count = count+1，其中count代表基板计数；步骤3、检测机根据基板计数判定是否达到抽检频率，如果达到抽检频率则继续进行步骤4，如果未达到抽检频率则继续判定基板计数是否与η相等，若相等则将基板计数归零后返回步骤2，若不相等则直接返回步骤2 ;步骤4、检测机识别基板的侧别信息，并判断基板的侧别信息与待抽检侧别信息是否相同、基板的侧别信息与已存储的基板的侧别信息是否相同，若基板的侧别信息与待抽检的侧别信号相同且与已存储的基板的侧别信息不同则继续进行步骤5，否则将基板计数归零并返回步骤2 ;步骤5、检测机对基板进行检测并存储该基板的侧别信息；步骤6、检测机比较存储的基板的侧别信息与预设的待抽检侧别信息是否完全相同，若完全相同则清空存储的基板的侧别信息再返回步骤2，否则直接返回步骤2。所述步骤3中，若基板计数的值为1，则判定达到抽检频率，否则判定未达到抽检频率。所述基板为液晶显示面板的彩膜基板。所述步骤5中检测彩膜基板的黑色矩阵、彩色光阻层、及光阻间隔物的质量。所述步骤I中预设检测机的抽检频率为10。所述侧别信息为制作所述基板的制程舱及工作台的信息。所述待抽检侧别信息为:彩膜涂胶机的第一真空干燥舱、第二真空干燥舱、及彩膜曝光机的第一烘烤台。本专利技术的有益效果:本专利技术提供了一种用于基板检测的抽检方法，通过设置抽检频率和待抽检侧别信息，当基板到达时先通过基板计数判断是否达到抽检频率，再判断基板的侧别信息与待抽检侧别信息是否一致、及基板的侧别信息与已存储的基板的侧别信息是否相同，判定是否对基板进行抽检，通过加入侧别信息判断的步骤使得来自于不同制程舱及工作台的产品都能够被抽检到，避免因固定不变的抽检频率，导致每次抽检的基板均来自同一个制程舱或同一侧工作台而漏检存在缺陷的制程舱或工作台的问题，提高产品良率。为了能更进一步了解本专利技术的特征以及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本专利技术加以限制。【附图说明】下面结合附图，通过对本专利技术的【具体实施方式】详细描述，将使本专利技术的技术方案及其它有益效果显而易见。附图中，图1为本专利技术的的流程图。【具体实施方式】为更进一步阐述本专利技术所采取的技术手段及其效果，以下结合本专利技术的优选实施例及其附图进行详细描述。请参阅图1，本专利技术提供了一种，包括如下步骤:步骤1、提供一检测机，设η为正整数，预设检测机的抽检频率为η及一个或多个待抽检侧别信息，基板计数归零；提供数个基板，基板逐一进入检测机；具体的，所述侧别信息为制作所述基板的制程舱及工作台的信息，所述基板为液晶显示面板的彩膜基板，所述抽检频率η = 10，预设的待抽检侧别信息为:Aligner CP#KCoater VCWl、及Coater V⑶#2，分别代表彩膜曝光机的第一烘烤台、及彩膜涂胶机的第一真空干燥舱和第二真空干燥舱。步骤2、一基板到达检测机，基板计数以I为增量进行迭代累加，计算公式为:count = count+1，其中count代表基板计数；步骤3、检测机根据基板计数判定是否达到抽检频率，如果达到抽检频率则继续进行步骤4，如果未达到抽检频率则继续判定基板计数是否与η相等，若相等则将基板计数归零后返回步骤2，若不相等则直接返回步骤2 ;具体的，若基板计数的值为1，即count = I时，则判定达到抽检频率，否则判定未达到抽检频率，每次基板计数count累加到10，即count = η时，将count清零。步骤4、检测机识别基板的侧别信息，并判断基板的侧别信息与待抽检侧别信息是否相同、基板的侧别信息与已存储的基板的侧别信息是否相同，若基板的侧别信息与待抽检的侧别信号相同且与已存储的基板的侧别信息不同则继续进行步骤5，否则将基板计数归零并返回步骤2 ;步骤5、检测机对基板进行检测并存储该基板的侧别信息；具体的，所述检测机检测彩膜基板的黑色矩阵、彩色光阻层、及光阻间隔物的质量。步骤6、检测机比较存储的基板的侧别信息与预设的待抽检侧别信息是否完全相同，若完全相同则清空存储的基板的侧别信息再返回步骤2，否则直接返回步骤2。综上所述，本专利技术提供了一种用于基板检测的抽检方法，通过设置抽检频率和待抽检侧别信息，当基板到达时先通过基板计数判断是否达到抽检频率，再判断基板的侧别信息与待抽检侧别信息是否一致、及基板的侧别信息与已存储的基板的侧别信息是否相同，判定是否对基板进行抽检，通过加入侧别信息判断的步骤使得来自于不同制程舱及工作台的产品都能够被抽检到，避免因固定不变的抽检频率，导致每次抽检的基板均来自同一个制程舱或同一侧工作台而漏检存在缺陷的制程舱或工作台的问题，提高产品良率。以上所述，对于本领域的普通技术人员来说本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基板抽检方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、提供一检测机，设n为正整数，预设检测机的抽检频率为n及一个或多个待抽检侧别信息，基板计数归零；提供数个基板，基板逐一进入检测机；步骤2、一基板到达检测机，基板计数以1为增量进行迭代累加，计算公式为：count＝count+1，其中count代表基板计数；步骤3、检测机根据基板计数判定是否达到抽检频率，如果达到抽检频率则继续进行步骤4，如果未达到抽检频率则继续判定基板计数是否与n相等，若相等则将基板计数归零后返回步骤2，若不相等则直接返回步骤2；步骤4、检测机识别基板的侧别信息，并判断基板的侧别信息与待抽检侧别信息是否相同、及基板的侧别信息与已存储的基板的侧别信息是否相同，若基板的侧别信息与待抽检的侧别信号相同且与已存储的基板的侧别信息不同则继续进行步骤5，否则将基板计数归零并返回步骤2；步骤5、检测机对基板进行检测并存储该基板的侧别信息；步骤6、检测机比较存储的基板的侧别信息与预设的待抽检侧别信息是否完全相同，若完全相同则清空存储的基板的侧别信息再返回步骤2，否则直接返回步骤2。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郭翥，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42