镀膜后硅片缺陷检测分选设备制造技术

本实用新型专利技术公开了镀膜后硅片缺陷检测分选设备，属于太阳能电池片生产领域，包括传送带，传送带依次贯穿设置在下料机械装置和暗箱的下方，再经第一单轴机械臂和第二单轴机械臂的下方穿过直至与合格硅片传送装置相连接，传送带设置在金属横梁上；暗箱通过支架设置在机柜上，在暗箱内的顶部设有配合使用的工业相机和镜头，在镜头的下方设有圆顶光源，在暗箱正下方放置传送带的金属横梁上镶嵌设置白色背景板，在白色背景板上设有光电传感器。本实用新型专利技术的镀膜后硅片缺陷检测分选设备，可以对镀膜后硅片进行实时、在线、稳定、高效、快速的缺陷检测和分选，且生产线无需停顿，对硅片非接触式，实现了对均匀红片的回收利用，具备很好的实用性。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于太阳能电池片生产领域，具体涉及镀膜后硅片缺陷检测分选设备。
技术介绍
太阳能电池是光能转换为电能的核心载体，镀膜后硅片是太阳能电池的主要来源。镀膜质量的好坏直接影响后续工艺中太阳能电池片印刷的质量，决定着整个太阳能系统的效率和性能。因此，对镀膜后硅片进行缺陷检测和分选是必须的。但由于石墨舟、外界环境、人工操作等因素的影响，镀膜后硅片会出现发黄片、均匀红片、发白片、污渍片、碎片等不同类别的硅片。现有的技术中基本是通过人工目测检测和分选，不仅效率低，而且容易发生漏检、漏分、错分现象。
技术实现思路
专利技术目的：本技术的目的在于提供镀膜后硅片缺陷检测分选设备，能高效、稳定、快速地对镀膜后硅片进行缺陷检测和分选。技术方案：为实现上述专利技术目的，本技术采用如下技术方案：镀膜后硅片缺陷检测分选设备，包括传送带，所述的传送带依次贯穿设置在下料机械装置和暗箱的下方，再经第一单轴机械臂和第二单轴机械臂的下方穿过直至与合格硅片传送装置相连接，所述的传送带设置在金属横梁上，金属横梁固定在机柜上；在所述的下料机械装置内设有用于放置镀膜后硅片的花篮；所述的暗箱通过支架设置在机柜上，在所述的暗箱内的顶部设有配合使用的工业相机和镜头，在镜头的下方设有圆顶光源，在所述的暗箱正下方放置传送带的金属横梁上镶嵌设置白色背景板，在白色背景板上设有光电传感器。所述的传送带从暗箱底部的支架上穿过，传送带的上表面贴紧暗箱的底部。所述的合格硅片传送装置与硅片收集盒相连。所述的传送带为白色无标识的传送带。>在所述的第一单轴机械臂和第二单轴机械臂上均分别设有两个双向吸盘。有益效果：与现有技术相比，本技术的镀膜后硅片缺陷检测分选设备，可以对镀膜后硅片进行实时、在线、稳定、高效、快速的缺陷检测和分选，且生产线无需停顿，对硅片非接触式，无损耗；不仅结构紧凑，易于保养和维护，而且实现了对均匀红片的回收利用，降低了生产成本，具备很好的实用性。附图说明图1是镀膜后硅片缺陷检测分选设备的主视图；图2为嵌有光电传感器的白色背景板俯视图。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本技术做进一步的说明。如图1～2所示，镀膜后硅片缺陷检测分选设备，包括传送带15，传送带15依次贯穿设置在下料机械装置1和暗箱3的下方，再经第一单轴机械臂6和第二单轴机械臂7的下方直至与合格硅片传送装置8相连接，传送带15设置在金属横梁上，金属横梁固定在机柜10上；在下料机械装置1内设有用于放置镀膜后硅片14的花篮2，待检的镀膜后硅片14经花篮2流出后直接落在传送带15上。暗箱3通过支架设置在机柜10上，暗箱3和支架可以是一体式的结构也可以是分体式的结构，分体结构更有利于暗箱3内部部件的保养和维护。在暗箱3内的顶部设有配合使用的工业相机11和镜头12，在镜头12的下方设有圆顶光源13，在暗箱3正下方放置传送带15的金属横梁上镶嵌设置白色背景板4，在白色背景板4上设有光电传感器16。传送带15从暗箱3底部的支架上穿过，传送带15的上表面贴近暗箱3的底部。在第一单轴机械臂6和第二单轴机械臂7上均分别设有两个双向吸盘，吸盘用于分选镀膜后硅片。其中，第一单轴机械臂6将废弃不合格品挑选出，第二单轴机械臂7将均匀红片挑选出，分选后送入指定硅片盒。合格硅片传送装置8与硅片收集盒9相连，分选后合格的硅片经传送带15流入硅片收集盒9中。在机柜10的顶部设有配合暗箱3和机柜10使用的工控机5。下料机械装置1通过气缸驱动。传送带15没有任何标识，传送带15为白色，使得镀膜后硅片14能好的被识别，为硅片的分选做准备。工作过程：镀膜后硅片14依次从由机柜10及气缸调度的下料机械装置1中的花篮2流出，当其在白色传送带15上流动到暗箱3内部、工业相机11下方、白色背景板4上方时，遮挡住光电传感器16，通过工控机5触发工业相机11和镜头12采集图像，同时传递给机柜10，机柜10控制第一单轴机械臂6和第二单轴机械臂7进行相应的机械动作，将废弃不合格品由机械臂6挑选出、将均匀红片由机械臂7挑选出后续回收利用，而合格品则全部经合格硅片传送装置8流送到硅片收集盒9中。本技术的镀膜后硅片缺陷检测和分选设备可以快速、稳定、可靠地检测镀膜后硅片的缺陷，并将硅片分类筛选，分为合格品类、废弃不合格品类、均匀红片类，合格品类直接由合格硅片传送装置传输到硅片收集盒中，废弃不合格品类和均匀红片类分别由第一单轴机械臂6和第二单轴机械臂7的两个吸盘实时吸入指定硅片盒。本文档来自技高网...

【技术保护点】
镀膜后硅片缺陷检测分选设备，其特征在于：包括传送带(15)，该传送带(15)依次贯穿设置在下料机械装置(1)和暗箱(3)的下方，再经第一单轴机械臂(6)和第二单轴机械臂(7)的下方穿过直至与合格硅片传送装置(8)相连接，所述的传送带(15)设置在金属横梁上，金属横梁固定在机柜(10)上；在所述的下料机械装置(1)内设有用于放置镀膜后硅片(14)的花篮(2)；所述的暗箱(3)通过支架设置在机柜(10)上，在所述的暗箱(3)内的顶部设有配合使用的工业相机(11)和镜头(12)，在镜头(12)的下方设有圆顶光源(13)，在所述的暗箱(3)正下方放置传送带(15)的金属横梁上镶嵌设置白色背景板(4)，在白色背景板(4)上设有光电传感器(16)；其中，在所述的机柜(10)的顶部设有配合暗箱(3)和机柜(10)使用的工控机(5)。

【技术特征摘要】
1.镀膜后硅片缺陷检测分选设备，其特征在于：包括传送带(15)，该传送带(15)依次贯穿设置在下料机械装置(1)和暗箱(3)的下方，再经第一单轴机械臂(6)和第二单轴机械臂(7)的下方穿过直至与合格硅片传送装置(8)相连接，所述的传送带(15)设置在金属横梁上，金属横梁固定在机柜(10)上；在所述的下料机械装置(1)内设有用于放置镀膜后硅片(14)的花篮(2)；所述的暗箱(3)通过支架设置在机柜(10)上，在所述的暗箱(3)内的顶部设有配合使用的工业相机(11)和镜头(12)，在镜头(12)的下方设有圆顶光源(13)，在所述的暗箱(3)正下方放置传送带(15)的金属横梁上镶嵌设置白色背景板(4)，在白色背景板(4)上设有光电传感器(16)；其中，在所述的机柜(...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙智权，童钢，赵不贿，张千，周奇，
申请(专利权)人：镇江苏仪德科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32