图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置制造方法及图纸

技术编号:12466552 阅读:98 留言:0更新日期:2015-12-09 16:31
本发明专利技术以提供即使不使用高价的亮度传感器等,也可以高精度地补正在低亮度侧对画质劣化影响大的发光开始电压移动的劣化预测值(估算值)的偏差的图像信号处理电路、图像信号处理方法、以及具有该图像信号处理电路的显示装置为目的。图像信号处理电路具备:显示面板(13),具有配置在有效像素区域之外的第1伪像素(17);电流检测单元(32),检测第1伪像素(17)的电流变化;修正处理单元(30),根据电流检测单元(32)检测出的电流的实际劣化量,修正预先决定的劣化预测值;以及补正处理单元(20),根据由修正处理单元(30)修正后的劣化预测值,补正驱动有效像素的图像信号。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置
本公开涉及一种图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置。
技术介绍
在显示装置(更具体地说是平板型(平面型)的显示装置)中,关于显示面板的经时亮度劣化,根据从像素信号的信息和显示面板的代表性的劣化特性预测的劣化值(劣化预测值)进行补正。但是,因为每个显示面板的劣化特性会有偏差,所以仅根据代表性的劣化预测值(估算值)不能进行充分的劣化补正。作为其对策,提出了如下技术(例如,参照专利文献1):使用伪像素通过亮度传感器测定每个显示面板的亮度实际劣化状态,并且根据该测定结果定期修正劣化预测值(估算值)以使其适合实际劣化状态,来保证补正精度。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开2007-187761号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的技术问题但是,如上述以往的技术那样,在通过亮度传感器进行实际劣化状态的测定中,在低亮度侧很难高精度地检测出对画质劣化影响大的亮度变化、即发光开始点的电压移动(发光开始电压移动/偏移)。可是,使用亮度传感器不是不可能高精度地检测发光开始电压移动(阶调劣化)。但是,因为下列因素:需要使用受光灵敏度高的大面积亮度传感器、测定需要很长时间等、作为亮度传感器需要具有与高价的测定器同等的性能,所以导致成本上涨、调整工时的增加,并且给用户使用时的便利性带来限制等的影响变大。本公开以提供一种即使不使用高价的亮度传感器等,也可以高精度地补正在低亮度侧对画质劣化影响大的发光开始电压移动的劣化预测值(估算值)的偏差的图像信号处理电路、图像信号处理方法、以及具有该图像信号处理电路的显示装置为目的。解决技术问题的手段用于达成上述目的的本公开的图像信号处理电路的构造具备:显示面板,具有配置在有效像素区域之外的第1伪像素;电流检测单元,检测第1伪像素的电流变化;修正处理单元,根据电流检测单元检测出的电流的实际劣化量,修正预先决定的劣化预测值;以及补正处理单元,根据由修正处理单元修正后的劣化预测值,补正驱动有效像素的图像信号。另外,用于达成上述目的的本公开的图像信号处理方法的构成是:检测配置在显示面板的有效像素区域之外的第1伪像素的电流变化;根据检测出的电流的实际劣化量,修正预先决定的劣化预测值;根据修正后的劣化预测值,补正驱动有效像素的图像信号。另外,用于达成上述目的的本公开的显示装置的构造具有图像信号处理电路。该图像信号处理电路具备:显示面板,具有配置在有效像素区域之外的第1伪像素;电流检测单元,检测第1伪像素的电流变化;修正处理单元,根据电流检测单元检测出的电流的实际劣化量,修正预先决定的劣化预测值;以及补正处理单元,根据由修正处理单元修正后的劣化预测值,补正驱动有效像素的图像信号。作为显示面板的经时亮度劣化的要素,为有效像素的发光单元的发光效率的降低,再加上驱动发光单元的晶体管的特性的劣化(降低)。在显示面板的有效像素区域之外设置伪像素,并且检测该伪像素的电流的实际劣化量,由此能够检测出驱动发光单元的晶体管的特性的劣化份。于是,对用于对驱动有效像素的图像信号进行补正的预先决定的劣化预测值,根据伪像素的电流的实际劣化量进行修正,并且使用该修正后的劣化预测值进行补正处理,由此能够补正考虑过晶体管特性的劣化份的亮度劣化。专利技术的效果根据本公开,因为即使不使用高价的亮度传感器等,也能够高精度地补正在低亮度侧对画质劣化影响大的发光开始电压移动的劣化预测值(估算值)的偏差,所以能够提高显示面板的经时亮度劣化的补正精度。此外,本说明书所记载的效果只是例示,并不限于此,另外也可以具有附加效果。附图说明[图1]图1是表示本公开的实施方式的显示装置的系统构造的方框图。[图2]图2是有关在补正处理单元执行的烧屏补正的想法的说明图。[图3]图3A是表示初期处理步骤的处理程序的流程图,图3B是表示通常处理的通常动作模式的处理程序的流程图。[图4]图4是表示通常处理的测定/LUT修正模式的处理程序的流程图。[图5]图5A是方格图案结构的检测图案(Pattern)的模式图,图5B是竖条图案结构的检测图案的模式图。[图6]图6是有关劣化量计算方法的说明图。[图7]图7A是表示在测定亮度劣化的情况下的初期测定时的V-L特性的图,图7B是表示在测定亮度劣化的情况下的通常测定时的V-L特性的图。[图8]图8A是表示在测定阶调劣化的情况下的初期测定时的V-L特性的图,图8B是表示在测定阶调劣化的情况下的通常测定时的V-L特性的图。[图9]图9是表示亮度劣化曲线特性的图。[图10]图10是表示有效像素的具体的电路构造的一例的电路图。[图11]图11是表示电流传感器(电流检测电路)的构造的一例的电路图。[图12]图12是表示用于检测阶调劣化测定用伪像素的电流的电源线的配线引出的一例的配线图。[图13]图13是表示电流传感器的2个开关的动作例的图。[图14]图14是表示适用于阶调劣化测定用伪像素、用于检测电流变化的检测图案的一例的图。[图15]图15是表示适用于阶调劣化测定用伪像素、用于检测电流变化的检测图案的其他例的图。[图16]图16是表示变形例的伪像素的电路构造的电路图。具体实施方式在下文中利用附图对用于实施本公开的技术的方式(在下文中称为“实施方式”)进行详细说明。本公开不限定于实施方式,实施方式的各种数值为例示。在以下的说明中,对同一要素或具有同一功能的要素使用相同的符号,省略重复的说明。再有,说明按以下的顺序进行。1.关于本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置、整体的说明2.关于实施方式的说明3.变形例<关于本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置、整体的说明>本公开的图像信号处理电路或者图像信号处理方法适用于:有助于图像显示的有效像素的发光单元由根据电流的强度(大小)控制发光的电流驱动型发光元件构成的显示装置。作为电流驱动型发光元件,例如能够使用有机电致发光元件(以下记述为“有机EL元件”),该有机EL元件利用“若向有机薄膜施加电场则发光”的现象。作为电流驱动型发光元件,除了有机EL元件之外,能够列举无机EL元件、LED元件、半导体激光元件等。使用有机EL元件作为像素发光单元的有机EL显示装置具有如下优点。也就是说,因为有机EL元件在10V以下的外加电压下能够驱动,所以有机EL显示装置是低耗电。因为有机EL元件是自发光元件,所以有机EL显示装置与同样的平面型显示装置液晶显示装置相比,图像的视认性高,而且因为不需要背照灯等照明构件,所以能够容易地实现轻量化和薄型化。进一步说,因为有机EL元件的应答速度为数微秒(μsec)左右、非常高速,所以有机EL显示装置不发生动画显示时的残像。在本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置中,能够将电流检测单元检测出的电流作为流过晶体管的电流,该晶体管驱动第1伪像素的发光单元。因此,能够检测出显示面板的经时亮度劣化的要素之一、即驱动发光单元的晶体管的特性的劣化(降低)。在包含上述优选的构造的本公开的图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置中,能够采用如下构造:在有效像素区域之外设置第2伪像素,并且具备检测该第2伪像素的亮度变化的亮度检测单元。因此,就能够检测出显示面板的经时亮度劣化本文档来自技高网...
图像信号处理电路、图像信号处理方法以及显示装置

【技术保护点】
一种图像信号处理电路,其中,具备:显示面板,具有配置在有效像素区域之外的第1伪像素;电流检测单元,检测第1伪像素的电流变化;修正处理单元,根据电流检测单元检测出的电流的实际劣化量,修正预先决定的劣化预测值;以及补正处理单元,根据由修正处理单元修正后的劣化预测值,补正驱动有效像素的图像信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.05.23 JP 2013-1084661.一种图像信号处理电路,其中,具备:显示面板,具有配置在有效像素区域之外的第1伪像素;电流检测单元,检测第1伪像素的电流变化;修正处理单元,根据电流检测单元检测出的电流的实际劣化量,修正预先决定的劣化预测值;以及补正处理单元,根据由修正处理单元修正后的劣化预测值,补正驱动有效像素的图像信号,显示面板具有从左右两侧供给电源电压的构造,电流检测单元具有在检测出电流变化时,从显示面板的一侧遮断电源电压的供给的开关。2.根据权利要求1所述的图像信号处理电路,其中,电流检测单元检测出的电流是流过驱动第1伪像素的发光单元的晶体管的电流。3.根据权利要求1所述的图像信号处理电路,其中,具备亮度检测单元,显示面板具有配置在有效像素区域之外的第2伪像素,亮度检测单元检测第2伪像素的亮度变化,修正处理单元根据电流检测单元检测出的电流的实际劣化量、以及亮度检测单元检测出的亮度的实际劣化量,修正预先决定的劣化预测值。4.根据权利要求3所述的图像信号处理电路,其中,第1伪像素及第2伪像素具有与有效像素相同的构造,并且动作条件也与有效像素相同。5.根据权利要求3所述的图像信号处理电路,其中,在有效像素区域之外设置有1行以上的第1伪像素及第2伪像素。6.根据权利要求3所述的图像信号处理电路,其中,第1伪像素及第2伪像素由共同的像素构成。7.根据权利要求3所述的图像信号处理电路,其中,第1伪像素及第2伪像素具有遮光构造。8.根据权利要求1所述的图像信号处理电路,其中,电流检测单元具有:检测电阻,连接在驱动第1伪像素的驱动器的输出端与对第1伪像素供给电源电压的电源线之间;以及检测放大器,检测在检测电阻的两端之间产生的电压值。9.根据权利要求8所述的图像信号处理电路,其中,电流检测单元具有选择性地使检测电阻的两端之间短路的开关。10.根据权利要求1所述的图像信号处理电路,其中,电流检测单元在第1伪像素的发光电流成为脉冲状应答的情况下,与脉冲状应答的发光电流同步检测电流变化。11.根据权利要求1所述的图像信号处理电路,其中,用于...

【专利技术属性】
技术研发人员:前山光一
申请(专利权)人:株式会社日本有机雷特显示器
类型:发明
国别省市:日本;JP

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