显示装置(10)具备：发光元件(Px)；多个像素电路(PCC)，包括晶体管(Tr)；多个扫描线(Ls)，与像素电路(PCC)连接；多个数据线(Ld)，与像素电路(PCC)连接；选择驱动器(20)，将多个扫描线(Ls)中的某1个作为选择对象来选择；控制部(50)。控制部(50)依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作、检测动作，在灰度显示动作中使对应的发光元件(Px)成为灰度显示状态，在非灰度显示动作中使对应的发光元件(Px)成为非灰度显示状态，在检测动作中，在非灰度显示状态下将多个扫描线(Ls)的一部分作为检测对象来选择，经由数据线(Ld)来检测与该检测对象连接的像素电路(PCC)的晶体管(Tr)的特性，使用通过检测动作得到的检测结果来校正灰度显示电压(Vd)。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本公开涉及具备经由晶体管被供给驱动电流的发光元件的。
技术介绍
专利文献I及2所记载的显示装置，通过扫描线的扫描而依次对配置为矩阵状的多个电致发光元件(EL元件)进行驱动。在专利文献I所记载的显示装置中，按每个有机EL元件分别设置的2个晶体管、即电流控制晶体管和采样晶体管控制向与I个扫描线连接的多个有机EL元件的每个的驱动电流的供给。每当采样晶体管被切换到导通状态，电流控制晶体管的栅极-源极之间以与显示数据相应的电平被施加电压。由此，基于电流控制晶体管的栅极-源极间电压的漏极电流作为驱动电流被供给至有机EL元件，按每个有机EL元件控制发光亮度的灰度。现有技术文献专利文献专利文献1:日本特开平8-330600号公报专利文献2:日本特开2010-128397号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题但是，电流控制晶体管中的阈值电压等元件特性会由于时间经过等而变化。因此，即使电流控制晶体管的栅极-源极间电压相同的情况下，经由电流控制晶体管供给的驱动电流也有可能在短期间内成为不同的值。其结果，与电流驱动晶体管的元件特性的变化相对应，对于有机EL元件的发光亮度的灰度控制的精度下降，显示装置所显示的图像的亮度、对比度及色调等画质可能会变化。本公开的目的在于，提供一种，能够抑制因向发光元件供给驱动电流的像素电路中的元件特性的变化而导致画质变化的情况。解决课题所采用的手段本公开的显示装置的一个方式，具备:多个发光元件；多个像素电路，包括分别向所述发光元件供给驱动电流的晶体管；多个扫描线，与所述像素电路连接；多个数据线，与所述像素电路连接；选择驱动器，将多个扫描线中的某I个作为选择对象来选择；以及控制部，对所述选择驱动器的驱动进行控制。所述控制部依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作、检测动作。在所述灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为灰度显示状态。在所述非灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加非灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为非灰度显示状态。在所述检测动作中，在所述非灰度显示状态下将所述多个扫描线的一部分作为检测对象来选择，经由所述数据线来检测与该检测对象连接的所述像素电路的所述晶体管的特性。并且，所述控制部使用通过所述检测动作得到的检测结果，对所述灰度显示电压进行校正。本公开的显示方法的一个方式，包括:依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作和检测动作的步骤，在所述灰度显示动作中，将与包含向发光元件供给驱动电流的晶体管的像素电路连接的多个扫描线，逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由数据线施加灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为灰度显示状态，在所述非灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加非灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为非灰度显示状态，在所述检测动作中，在所述非灰度显示状态下将所述多个扫描线的一部分作为检测对象来选择，经由所述数据线来检测与该检测对象连接的所述像素电路的所述晶体管的特性；以及使用通过所述检测动作得到的检测结果，对所述灰度显示电压进行校正的步骤。根据上述结构，通过检测动作来检测像素电路中的晶体管的特性，向像素电路供给的灰度显示电压基于检测结果而被校正。因此，在晶体管的特性发生了变动时，灰度显示电压与晶体管的特性的变动相应地被校正。结果，抑制了因晶体管的特性变动而导致画质变动、进而因晶体管的特性变动而导致画质劣化。此外，由于依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作、检测动作，所以与例如仅在显示装置启动时进行检测动作的结构相比，灰度显示动作的定时与检测动作的定时之间的时间差变短。因此，晶体管的特性在短期间内较大变化时，有效地抑制了画质的劣化。而且，仅对与一部分扫描线连接的像素电路进行检测动作，所以与通过I次检测动作对全部像素电路进行检测动作的结构相比，I次检测动作所需的时间变短。因此，抑制了因检测动作所需的时间而导致非显示状态过度变长。结果，抑制了检测动作直接给显示装置中的图像的显示性能带来影响。在本公开的显示装置其他方式中，所述控制部构成为，每当进行所述检测动作时变更所述检测对象。根据上述结构，晶体管的特性被检测的像素电路被设定为检测对象，每当进行检测动作时检测对象变化。因此，与每次检测动作中检测对象相同的结构相比，检测对象的范围变大。因此，检测晶体管的特性的像素电路和被施加了校正后的灰度显示电压的像素电路相同时，画质的劣化被抑制的范围变大。此外，晶体管的特性的变动依赖于晶体管的制造过程或晶体管的工作温度时，该变动的程度有时在彼此不同的多个像素电路间接近。因此，对I个像素电路校正其灰度显示电压时，有时可以使用其他像素电路中的检测结果。关于这一点，如果采用上述的结构则检测对象的范围变大，所以对I个像素电路校正其灰度显示电压时，该校正所使用的检测结果的候选增加。结果，晶体管的特性的变动被认为彼此相近的像素电路间的检测结果能够共用，所以能够提高灰度显示电压的校正的精度。在本公开的显示装置的其他方式中，所述控制部构成为，将I次所述检测动作中的所述检测对象的条数设定为I条。根据上述结构，在I次检测动作中，仅对与I条扫描线连接的像素电路检测晶体管的特性。因此，与I次检测动作中选择的检测对象的条数被设定为2条以上的结构相比，I次检测动作所需的时间变短。结果，抑制了检测动作给作为显示装置的图像的显示性能带来影响。在本公开的显示装置的其他方式中，所述控制部构成为，每当进行所述检测动作时将所述检测对象切换为邻接的检测对象。根据上述结构，每当进行检测动作时，将检测晶体管的特性的像素电路的位置切换为I条I条地邻接的扫描线，所以与每当进行检测动作将检测动作中的检测对象切换为隔着2条以上的检测对象的结构相比，能够将画质的劣化抑制为非常微小。在本公开的显示装置的其他方式中，所述控制部构成为，每当进行所述检测动作时将所述检测对象切换为隔开数条的检测对象。根据上述结构，与每当进行检测动作时将检测对象切换为I条I条地邻接的检测对象的结构相比，晶体管的特性被检测的像素电路的位置在每单位时间上被分散。因此，晶体管的特性的变动散布在大范围的情况下，与每当进行检测动作将检测对象切换为I条I条地邻接的检测对象的结构相比，有效地抑制了画质的劣化。在本公开的显示装置的其他方式中，所述控制部构成为，将所述多个扫描线划分为由彼此相邻的多个扫描线构成的多个扫描线群，将与所述检测结果有关的数据与包含所述检测对象的所述扫描线群建立对应地存储，每当进行所述检测动作时，按照所述扫描线群切换所述检测对象，使用与所述扫描线群建立了对应的所述数据，对向与该扫描线群连接的所述像素电路施加的所述灰度显示电压进行校正。根据上述结构，与晶体管的特性的检测结果有关的数据按每个扫描线群被存储。因此，相比于与晶体管的特性的检测结果有关的数据按每个扫描线被存储的结构，存储部所需的存储容量变小，并且该数据的更新周期也变短。在本公开的显示装置的其他方式中，所述选择驱动器构成为，在所本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种显示装置，其中，具备：多个发光元件；多个像素电路，包括分别向所述发光元件供给驱动电流的晶体管；多个扫描线，与所述像素电路连接；多个数据线，与所述像素电路连接；选择驱动器，将多个扫描线中的某1个作为选择对象来选择；以及控制部，对所述选择驱动器的驱动进行控制，所述控制部构成为，依次反复进行灰度显示动作、非灰度显示动作、检测动作，在所述灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为灰度显示状态，在所述非灰度显示动作中，将所述扫描线逐个地依次作为选择对象来选择，对与该选择对象连接的所述像素电路经由所述数据线施加非灰度显示电压，使对应的所述发光元件成为非灰度显示状态，在所述检测动作中，在所述非灰度显示状态下将所述多个扫描线的一部分作为检测对象来选择，经由所述数据线来检测与该检测对象连接的所述像素电路的所述晶体管的特性，使用通过所述检测动作得到的检测结果，对所述灰度显示电压进行校正。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：小仓润，坂本正则，
申请(专利权)人：凸版印刷株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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