本发明专利技术公开了一种多通道可调谐激光器的性能测试装置，包括准直耦合透镜(3)、第一分光束器(4)、功率测试单元(5)、边模抑制比测试单元(6)、波长测试单元(7)、控制与驱动单元(8)，第一分束器(4)的反射光路设置功率测试单元(5)；第一分束器(4)的透射光路设置波长测试单元(7)，第二分束器(501)的反射光路设置边模抑制比测试单元(6)，控制与驱动单元(8)同功率测试单元(5)、边模抑制比测试单元(6)、波长测试单元(7)控制相连，本发明专利技术具有结构简单、成本低、使用便捷等优点。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种低成本的多通道可调谐激光器的输出性能测试装置，具体地说是一种将测试多通道可调激光器的多种输出特性集成于一体的测试装置，本专利技术测试装置可适用于DWDM通信系统中多通道可调谐激光器性能测试，本专利技术属于通信领域。
技术介绍
随着各种新兴数据应用的发展，用户对高清视频和高速数据业务的需求迅速增加，对网络带宽的需求也随之迅速增大，使得宽带光纤接入网络的建设显得更为迫切，城域网络和骨干网络需要更高的速率。光网络将朝着面向IP网、能融入更多业务、能灵活进行资源配置、具有更高可靠性的方向发展、高速率、大容量的光通信系统是未来光传送网络的发展目标，100Gbit/S的通信系统已开始逐步商用，而400Gbit/s的通信系统已成为必然的发展趋势。传输速率的提高对作为通信光源的激光器提出了更高的要求。若采用传统的固定波长激光器，不但需要多个激光器，增加了系统的成本，而且限制了光网络的扩展及网络灵活性。可调谐激光器的使用，不仅可有效减少激光器模块数量、降低成本，还可以增强网络的功能性，是高速相干通信系统光源的最佳选择方案。可调谐激光器可以有单片集成、夕卜腔、混合集成等多种实现形式。目前，100Gbit/s的高速通信系统多采用C波段输出波长符合ITU-T标准波长、通道间隔为50GHz的多通道可调谐激光器。通常这种激光器具有100个通道左右，根据系统使用要求，需要测试激光器各通道输出功率、输出波长、边模抑制比等多种输出特性，使得激光器的测试工作非常繁琐。传统测试方法多采用功率计测试激光器输出功率、波长计测试激光器输出波长、光谱仪测试激光器的边模抑制比的多仪表测试方案，使测试工作面临仪表多、成本高、耗时长等问题。针对这些问题，本工作提出了一种多通道可调谐激光器测试装置，将可调谐激光器的多种性能测试功能集成于一体，降低了测试系统成本、减少测试仪表数量、使用简捷；通过计算机的控制可实现激光器自动测试系统，有效提高测试效率，可用于可调谐激光器的批量生产测试工作。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术方案存在的技术缺陷，针对多通道可调谐激光器测试工作，提出了一种多通道可调谐激光器的性能测试装置，该装置可同时测试多通道可调激光器的输出功率、输出波长、边模抑制比等输出特性，并可进一步与计算机组合实现自动测试系统。本专利技术所采用的技术方案是:一种多通道可调谐激光器的性能测试装置，包括准直耦合透镜、第一分光束器、功率测试单元、边模抑制比测试单元、控制与驱动单元，控制与驱动单元同功率测试单元、边模抑制比测试单元控制相连；功率测试单元包括第二分光束器、第一光探测器，第一光探测器位于第二分光束器的透射光路，第二分光束器位于第一分光束器的反射光路；边模抑制比测试单元包括第三分光束器、第四分光束器、第一标准具、第二标准具、第三标准具、第二光探测器、第三光探测器、第四光探测器；所述第三分光束器位于第二分光束器的反射光路中，第三分光束器的反射光路依次设置第一标准具、第二光探测器；第三分光束器的透射光路设置有第四光分束器，第四分光束器的反射光路依次设置第二标准具、第三光探测器；第四分光束器的透射光路依次设置第三标准具、第四光探测器；所述第一标准具、第二标准具、第三标准具的自由光谱范围是待测所述可调谐激光器通道间隔的三倍，任意两个标准具的透射峰之间的最近距离为所述待测可调谐激光器的通道间隔。所述功率测试单元的第一光探测器需定标，其定标方法为:建立所述该多通道可调谐激光器的性能测试装置的输入光功率与第一光探测器采样光电流的对应关系。进一步包括设置于第一分光束器透射光路的波长测试单元，波长测试单元和控制与驱动单元相连接，波长测试单元包括第五分光束器、第六分光束器、可调光滤波器、第四标准具、第五光探测器、第六光探测器、第七光探测器，第五分光束器的透射光路依次设置可调光滤波器、第五光探测器；第五分光束器的反射光路设置有第六分光束器，第六分光束器的透射光路设置第七光探测器，第六分光束器的反射光路依次设置第四标准具、第六光探测器。所述可调光滤波器的波长可调谐范围等于或大于待测可调谐激光器的波长可调谐范围，所述可调光滤波器滤波带的3dB带宽小于待测可调谐激光器的两个通道之间间隔。所述可调光滤波器采用光栅和机械可调平面镜组合而成的可调谐滤波器或者采用液晶可调谐滤波器或者采用温度可调热光可调谐滤波器。所述第一标准具、第二标准具、第三标准具、第四标准具为两端面镀部分反射膜的空气隙标准具。所述第一分光束器、第二分光束器、第三分光束器、第四光分束器、第五光分束器、第六光分束器米用薄膜分束片或者胶合立方棱镜分束器。所述边模抑制比测试单元的第三分光束器、第四分光束器是用于分配该单元的入射光功率的分光束器组合。所述第三分光束器的分光比米用反射光与透射光比值为1:2，第四分光束器的分光比采用反射光与透射光比值为1:1。进一步设置有计算机，所述计算机可实现设置多通道可调谐激光器输出激光，并且记录测试当前通道激光输出特性。本专利技术具有以下优点和积极效果:I)本专利技术装置将多通道可调谐激光器的功率测试功能、波长测试和边模抑制比测试多种测试功能集成于一体，与传统的多测试仪表测试方法相比，测试装置简单，有效的降低了测试系统的成本；2)本专利技术提出的性能测试装置可以与计算机搭建多通道可调谐激光器自动测试系统，在批量生产测试中可提高多通道可调谐激光器测试效率。【附图说明】图1一本专利技术一种多通道可调谐激光器的性能测试装置的结构示意图；图2—本专利技术光功率测试单元测试原理图；图3—本专利技术边模抑制比测试单元测试原理图；图4(a)一本专利技术光波长测试单元波长粗测原理图；图4(b)—本专利技术光波长测试单元波长精测原理图；其中:I—待测可调谐激光器；2—多通道可调谐激光器的性能测试装置；3—准直耦合透镜；4一第一分光束器；5—功率测试单元；501一第二分光束器；502—第一光探测器；6—边模抑制比测试单元；601一第三分光束器；602—第一标准具；603一第二光探测器；604—第四分光束器；605—第二标准具；606—第三光探测器；607—第三标准具；608—第四光探测器；7—波长测试单元；701 —第五分光束器；702—可调光滤波器；703一第五光探测器；704—第六分光束器；705—第四标准具；706—第六光探测器；707—第七光探测器；8—控制与驱动单元；9—计算机；【具体实施方式】下面结合附图和实施例进一步说明。本专利技术所涉及的多通道可调谐激光器的性能测试装置的结构图如图1所示，多通道可调谐激光器的性能测试装置2主要由用于光束准直的准直耦合透镜3、第一分光束器4、功率测试单元5、边模抑制比测试单元6、波长测试单元7和控制与驱动单元8构成。控制与驱动单元8同功率测试单元5、边模抑制比测试单元6、波长测试单元7控制相连，各测试单元将测试信号反馈给控当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种多通道可调谐激光器的性能测试装置，其特征在于：包括准直耦合透镜(3)、第一分光束器(4)、功率测试单元(5)、边模抑制比测试单元(6)、控制与驱动单元(8)，控制与驱动单元(8)同功率测试单元(5)、边模抑制比测试单元(6)控制相连；功率测试单元(5)包括第二分光束器(501)、第一光探测器(502)，第一光探测器(502)位于第二分光束器(501)的透射光路，第二分光束器(501)位于第一分光束器(4)的反射光路；边模抑制比测试单元(6)包括第三分光束器(601)、第四分光束器(604)、第一标准具(602)、第二标准具(605)、第三标准具(607)、第二光探测器(603)、第三光探测器(606)、第四光探测器(608)；所述第三分光束器(601)位于第二分光束器(501)的反射光路中，第三分光束器(601)的反射光路依次设置第一标准具(602)、第二光探测器(603)；第三分光束器(601)的透射光路设置有第四光分束器(604)，第四分光束器(604)的反射光路依次设置第二标准具(605)、第三光探测器(606)；第四分光束器(604)的透射光路依次设置第三标准具(607)、第四光探测器(608)；所述第一标准具(602)、第二标准具(605)、第三标准具(607)的自由光谱范围是待测所述可调谐激光器通道间隔的三倍，任意两个标准具的透射峰之间的最近距离为所述待测可调谐激光器的通道间隔。...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：钱坤，傅焰峰，汤学胜，唐毅，陈义宗，张玓，胡胜磊，马卫东，
申请(专利权)人：武汉光迅科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42
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