GOA测试与清除关机残影的共用电路制造技术

本发明专利技术提供一种GOA测试与清除关机残影的共用电路，设置有第一测试端(3)、电性连接第一测试端(3)的测试信号线(AT1)、第二测试端(5)、电性连接第二测试端(5)的反馈信号线(AT2)、以及与级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT(T0)，通过将每一测试TFT(T0)的栅极电性连接测试信号线(AT1)、源极电性连接反馈信号线(AT2)，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线，能够测试GOA电路中任何一级GOA单元电路的输出信号，判定GOA电路出现异常的具体位置，还能够在关机时释放液晶面板显示区内液晶电容和存储电容的残留电荷，清除关机残影。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及液晶显示
，尤其涉及一种GOA测试与清除关机残影的共用电路。
技术介绍
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有机身薄、省电、无福射等众多优点，得到了广泛的应用。如:液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等，在平板显示领域中占主导地位。现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板的工作原理是在薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片基板(ColorFilter, CF)之间灌入液晶分子，并在两片基板上施加驱动电压来控制液晶分子的旋转方向，以将背光模组的光线折射出来产生画面。液晶显示面板显示区内包含多个呈矩阵式排列的像素，每一行像素共同电性连接一条扫描线，每一列像素共同电性连接一条数据线。如图1所示，设m、η为正整数，第η行m列像素的像素驱动电路具有一个薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT) T，该TFT T的栅极连接至沿水平方向延伸的第η行的栅极扫描线Gate (η)，漏极连接至沿垂直方向延伸的第m列的数据线Data (m)，源极连接至对应的像素电极；在该TFT T的源极与公共电压线Com之间等效并联了一个液晶电容Clc和一个存储电容Cst。液晶显示面板正常工作时，在扫描线上施加足够的正电压，使得连接在该条栅极扫描线上的所有TFT T导通，将数据线上所加载的数据信号电压写入像素电极中，控制不同液晶的透光度进而达到控制色彩的效果以显示不同画面。液晶显示面板内的液晶电容Clc和存储电容Cst在正常工作中会充电而累积电荷，在关机时，这些累积电荷由于得不到有效释放，导致液晶DC残留，会在液晶显示面板上残留影像，造成关机残影。液晶显示面板栅极扫描线的驱动最初由外接的集成电路(Integrated Circuit，IC)来完成，外接的IC可以控制栅极扫描线的逐级充电和放电。GOA技术(Gate Driver onArray)即阵列基板行驱动技术，可以运用液晶显示面板的阵列制程将栅极扫描线的驱动电路制作在显示区周围的基板上，使之能替代外接IC来完成栅极扫描线的驱动。GOA技术能减少外接IC的焊接(bonding)工序，有机会提升产能并降低产品成本，而且可以使液晶显示面板更适合制作窄边框或无边框的显示产品。由于GOA电路受TFT电性的稳定性和均匀性的影响会在一定程度上影响产品的良率，因此需要对GOA电路进行测试。现有常见的测试方法是对GOA电路的最后一级GOA单元的输出信号进行测试，判断GOA电路工作是否出现异常。但这种方法由于只能测试最后一级GOA单元的输出信号，无法发现具体是哪一级GOA单元出现了异常，这就限制了对GOA电路问题的解析和改进。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种GOA测试与清除关机残影的共用电路，能够测试GOA电路中任何一级GOA单元电路的输出信号，判定GOA电路出现异常的具体位置，还能够在关机时释放液晶电容和存储电容的残留电荷，清除关机残影。为实现上述目的，本专利技术提供一种GOA测试与清除关机残影的共用电路电路，至少包括:设于液晶显示面板显示区一侧的级联的多个GOA单元电路，设η为正整数，第η级GOA单元电路的输出端对应连接第η条栅极扫描线；设于所述液晶显示面板显示区一侧的第一测试端；设于所述液晶显示面板显示区一侧的第二测试端；设于所述液晶显示面板显示区一侧的电性连接第一测试端的测试信号线；设于所述液晶显示面板显示区一侧的电性连接第二测试端的反馈信号线；以及设于所述液晶显示面板显示区一侧的与所述级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT ;每一测试TFT的栅极电性连接测试信号线、源极电性连接反馈信号线，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线。所述GOA测试与清除关机残影的共用电路还包括:设于液晶显示面板显示区另一侧的级联的多个GOA单元电路，设η’为正整数，第η’级GOA单元电路的输出端对应连接第η’条栅极扫描线；设于所述液晶显示面板显示区另一侧的第一测试端；设于所述液晶显示面板显示区另一侧的第二测试端；设于所述液晶显示面板显示区另一侧的电性连接第一测试端的测试信号线；设于所述液晶显示面板显示区另一侧的电性连接第二测试端的反馈信号线；以及设于所述液晶显示面板显示区另一侧的与所述级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT ;每一测试TFT的栅极电性连接测试信号线、源极电性连接反馈信号线，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线。所述GOA测试与清除关机残影的共用电路在测试第η级GOA单元电路时，所述第一测试端向测试信号线提供测试用高电位脉冲信号，所述第二测试端接收反馈信号线传输的对应连接第η级GOA单元电路的输出端及第η条栅极扫描线的测试TFT所反馈的第η级GOA单元电路的输出信号，并判定第η级GOA单元电路是否异常。所述GOA测试与清除关机残影的共用电路在测试第η级GOA单元电路时，所述第一测试端根据第η级GOA单元电路的输出信号相对扫描启始信号的延时向测试信号线提供测试用高电位脉冲信号。所述的GOA测试与清除关机残影的共用电路在测试第η级GOA单元电路时，所述测试用高电位脉冲信号的高电位时长大于正常第η级GOA单元电路的输出信号的高电位时长，且测试用高电位脉冲信号的上升沿早于正常第η级GOA单元电路的输出信号的上升沿，测试用高电位脉冲信号的下降沿晚于正常第η级GOA单元电路的输出信号的下降沿。所述第二测试端接收反馈信号线传输的对应连接第η级GOA单元电路的输出端及第η条栅极扫描线的测试TFT所反馈的第η级GOA单元电路的输出信号为一高电位脉冲信号时，判定第η级GOA单元电路正常；所述第二测试端接收反馈信号线传输的对应连接第η级GOA单元电路的输出端及第η条栅极扫描线的测试TFT所反馈的第η级GOA单元电路的输出信号为一恒压低电位时，判定第η级GOA单元电路异常。在关机瞬间，所述第一测试端向所述测试信号线提供高电位信号，同时所述第二测试端向反馈信号线提供高电位信号，所有的测试TFT均导通，将所有GOA单元电路的输出信号拉升至高电位。所述GOA测试与清除关机残影的共用电路用于测试单边单驱的GOA电路。所述GOA测试与清除关机残影的共用电路用于测试双边双驱或双边单驱的GOA电路。本专利技术的有益效果:本专利技术提供的一种GOA测试与清除关机残影的共用电路，设置有第一测试端、电性连接第一测试端的测试信号线、第二测试端、电性连接第二测试端的反馈信号线、以及与级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT，通过将每一测试TFT的栅极电性连接测试信号线、源极电性连接反馈信号线，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线，能够测试GOA电路中任何一级GOA单元电路的输出信号，判定GOA电路出现异常的具体位置，还能够在关机时释放液晶面板显示区内液晶电容和存储电容的残留电荷，清除关机残影。为了能更进一步了解本专利技术的特征以及
技术实现思路
，请参阅以下有关本专利技术的详细说明与附图，然本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种GOA测试与清除关机残影的共用电路，其特征在于，至少包括：设于液晶显示面板显示区(1)一侧的级联的多个GOA单元电路，设n为正整数，第n级GOA单元电路的输出端对应连接第n条栅极扫描线(Gate(n))；设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的第一测试端(3)；设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的第二测试端(5)；设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的电性连接第一测试端(3)的测试信号线(AT1)；设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的电性连接第二测试端(5)的反馈信号线(AT2)；以及设于所述液晶显示面板显示区(1)一侧的与所述级联的多个GOA单元电路对等数量的测试TFT(T0)；每一测试TFT(T0)的栅极电性连接测试信号线(AT1)、源极电性连接反馈信号线(AT2)，漏极电性连接对应GOA单元电路的输出端及栅极扫描线。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：曹尚操，
申请(专利权)人：武汉华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42