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双立面回转式质量质心偏心测试装置制造方法及图纸

技术编号:12399866 阅读:133 留言:0更新日期:2015-11-26 04:55
本发明专利技术公开了一种双立面回转式质量质心偏心测试装置,包括基座、固定测试台、移动测试台、光栅定位机构,固定测试台包括固定测试箱体、固定传感器、固定回转机构、固定V型滚轮架、固定升降机构,移动测试台包括移动测试箱体、移动传感器、移动回转机构、移动V型滚轮架、移动升降机构。所述的固定V型滚轮架固定在固定回转机构上,固定回转机构的回转架固定在固定传感器固定前传感器上,固定回转机构的固定回转支脚浮动在固定传感器固定后传感器上,移动V型滚轮架固定在移动回转机构上,移动回转机构的移动回转架固定在移动传感器移动前传感器上,移动回转机构移动回转支脚浮动在移动传感器移动后传感器上。

【技术实现步骤摘要】
双立面回转式质量质心偏心测试装置
本专利技术属于质量质心偏心测试领域,涉及一种双立面回转式质量质心偏心测试装置。
技术介绍
对于大型弹箭,尤其像布撒器、组合化面对称导弹、无人机等外形复杂的大型弹箭,采用传统测量方式--托架式测量法,其重量重、结构复杂、附载大,很难满足测试要求。采用双立面测试技术和测试方法,理论可行并具有现实意义,但要保证在两个测试平面内多点同时受力并符合传感器受力特点,对测试台的加工制造和安装调试要求十分高,安装被测体时不能产生结构内力,对测试过程也有很高的要求,现有的双立面结构很难满足弹箭高精度的测量,保证测试系统的重复性,已阻碍了双立面测试技术和测试方法的实际应用。双立面的固定测试台和移动测试台对自身测试台面的平面度和两个测试台等高要求很高,精度一般控制在0.01mm。由于传感器采用面接触式,传感器安装后不能产生变形、扭曲,在两个测试台传感器与测试台面和V型滚轮架有八个固定接触面,根据力矩平衡原理需要知道支点和受力点,要将面接触面变到点接触,理论上讲,四个底安装面中心点是传感器与测试台面的受力点,另外四个上安装面中心点是传感器与V型滚轮架的受力点,要同时保证八个受力点的位置不变,对加工制造、安装调试、测试过程的技术要求明显很高,也是难以实现的。由于传感器八个接触点的不确定性,就会影响力臂的变化,从而影响力矩平衡公式的准确计算。另外,被测体与原滚轮架的接触点是线,受力点不确定,从而大大影响测试精度。原双立面结构传感器上平面固定在V型滚轮架上,下平面固定在测试台面上,均为刚性连接,由于加工、安装多会引起传感器产生内力,另外由于结构变形、上被测体时也会造成结构内力,这些内力无法释放,造成传感器不能正常去除皮重,十分影响测试精度。
技术实现思路
技术问题:本专利技术的目的在于提供一种降低测试装置对加工制造、安装调试、操作过程的技术要求,实现在两个测试平面内进行多点多方向同时测量的双立面回转式质量质心偏心测试装置。技术方案:本专利技术的双立面回转式质量质心偏心测试装置,包括基座、设置在所述基座上的固定测试台、移动测试台、设置在所述固定测试台上的光栅定位机构。所述基座包括从下至上依次设置的水平调节座、底板和导轨,所述移动测试台安装在导轨上并能相对底板运动,所述固定测试台固定安装在底板上。所述固定测试台包括从下至上依次连接的固定测试箱体、设置在所述固定测试箱体上的固定传感器、固定回转机构、固定V型滚轮架,在固定测试箱体内设置有固定升降机构,所述固定传感器包括固定前传感器、固定后传感器,所述固定回转机构由固定回转平台、设置在所述固定回转平台下方的固定回转架和固定回转支脚组成,所述固定回转平台的顶面与固定V型滚轮架的底面连接,所述固定回转架包括通过轴承连接的固定上回转支架和固定下回转支架,所述固定下回转支架的底面与固定后传感器顶面连接,所述固定回转支脚的底端设置有固定滚轴,固定回转支脚通过固定滚轴压在固定前传感器的顶面上;所述移动测试台包括从下至上依次连接的移动测试箱体、设置在所述移动测试箱体上的移动传感器、移动回转机构、移动V型滚轮架,在移动测试箱体内设置有移动升降机构,所述移动传感器包括移动前传感器、移动后传感器,所述移动回转机构由移动回转平台、设置在所述移动回转平台下方的移动回转架和移动回转支脚组成,所述移动回转平台的顶面与移动V型滚轮架的底面连接,所述移动回转架包括通过轴承连接的移动上回转支架和移动下回转支架,所述移动下回转支架的底面与移动后传感器顶面连接,所述移动回转支脚的底端设置有移动滚轴,移动回转支脚通过移动滚轴压在移动前传感器的顶面上;所述光栅定位机构包括设置在固定测试箱体台面上的光栅支承架、安装在所述光栅支承架上的光栅导轨和定位块、安装在所述光栅导轨上的光栅滑块、安装在所述光栅滑块上的光栅座、安装在所述光栅座侧面的靠栅,所述定位块设置在光栅尺零位置基准处;所述固定V型滚轮架与移动V型滚轮架的连线平行于导轨和光栅支承架。进一步的,所述固定V型滚轮架包括固定V型托架、通过轴承安装在所述固定V型托架前端的固定球面滚轮、通过轴承安装在所述固定V型托架后端的固定主球面滚轮、驱动所述固定主球面滚轮的固定驱动电机,所述固定V型托架的前端位于固定前传感器一侧,后端位于固定后传感器一侧,固定V型托架的底面与固定回转平台上侧面连接;所述移动V型滚轮架包括移动V型托架、通过轴承安装在所述移动V型托架前端的移动球面滚轮、通过轴承安装在所述移动V型托架后端的移动球面滚轮,所述移动V型托架的前端位于移动前传感器一侧,后端位于移动后传感器一侧,移动V型托架的底面与移动回转平台上侧面连接。进一步的,所述固定升降机构包括设置在所述固定测试箱体底板上的固定升降机、驱动所述固定升降机的固定电机、水平设置在固定测试箱体中部的固定升降板、竖直设置在固定测试箱体中的固定导柱、与所述固定升降机顶部连接的固定顶柱、安装在所述固定顶柱顶端的固定小V型托架,所述固定顶柱顶端穿过固定升降板和固定试箱体的顶板置于固定V型滚轮架内。所述移动升降机构包括设置在所述移动测试箱体底板上的移动升降机、驱动所述移动升降机的移动电机、水平设置在移动测试箱体中部的移动升降板、竖直设置在移动测试箱体中的移动导柱、与所述移动升降机顶部连接的移动顶柱、安装在所述移动顶柱顶端的移动小V型托架,所述移动顶柱顶端穿过移动升降板和移动试箱体的顶板置于移动V型滚轮架内;本专利技术的双立面质量、质心、偏心测试仪,测试原理是将弹箭简化为刚性转子,在二个测量截面内进行质心和偏心测量,大大降低了弹箭对托架的要求,简化测量装置结构,满足各种弹箭尤其是外形复杂的大型弹箭的测量要求,测量时需采用四个传感器,四点称重求和测量质量,两两传感器通过力矩平衡原理求出质心,再通过两个传感器作为支点另外两个传感器作为受力点求出偏心,在同一个工位一次安装同时完成质量质心偏心的测量。本专利技术降低测试装置对加工制造、安装调试、操作过程的技术要求,采用球面滚轮结构、一维回转架结构保证双立面理论力学模型的准确性,实现在两个测试平面内进行多点多方向同时测量,V型滚轮架与传感器采用固定连接和浮动连接方式,自动释放或消除安装被测体时所产生的内力,保证多点测量与单点测量传感器受力物理状态相同,提高系统的测试精度和重复性,使双立面测量技术和测试方法能够得到广泛实际应用。本专利技术采用球面滚轮结构、一维回转架结构保证双立面理论力学模型的准确性,实现在两个测试平面内进行多点多方向同时测量,V型滚轮架与传感器采用固定连接和浮动连接方式,自动释放或消除安装被测体时所产生的内力,保证多点测量与单点测量传感器受力物理状态相同,提高系统的测试精度和重复性,使双立面测量技术和测试方法能够得到广泛实际应用。有益效果:本专利技术与现有技术相比,具有以下优点:(1)测试装置的加工制造、安装调试、测试过程的技术要求明显降低,使测量操作更加容易;(2)采用滚轮球面结构和一维回转结构,使双立面理论力学模型更加准确,成功解决了在两个测试平面内进行多点多方向同时测量问题,使测试精度和重复性大大提高;(3)滚轮架与传感器连接方式采用固定和浮动连接结构,自动释放或消除安装被测体时所产生的结构内力,保证多点测量与单点测量传感器受力物理状态相同,符合应变式压力传感器本文档来自技高网
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双立面回转式质量质心偏心测试装置

【技术保护点】
一种双立面回转式质量质心偏心测试装置,其特征在于,该装置包括基座(1)、设置在所述基座(1)上的固定测试台(2)、移动测试台(3)、设置在所述固定测试台(2)上的光栅定位机构(4);所述基座(1)包括从下至上依次设置的水平调节座(11)、底板(12)和导轨(13),所述移动测试台(3)安装在导轨(13)上并能相对底板(12)运动,所述固定测试台(2)固定安装在底板(12)上;所述固定测试台(2)包括从下至上依次连接的固定测试箱体(21)、固定回转机构(23)、固定V型滚轮架(24)、设置在所述固定测试箱体(21)上的固定传感器22、设置在固定测试箱体(21)内的固定升降机构(25),所述固定传感器(22)包括固定前传感器(221)、固定后传感器(222),所述固定回转机构(23)由固定回转平台(231)、设置在所述固定回转平台(231)下方的固定回转架(232)和固定回转支脚(233)组成,所述固定回转平台(231)的顶面与固定V型滚轮架(24)的底面连接,所述固定回转架(232)包括通过轴承连接的固定上回转支架(2321)和固定下回转支架(2324),所述固定下回转支架(2324)的底面与固定后传感器(222)顶面连接,所述固定回转支脚(233)的底端设置有固定滚轴(2333),固定回转支脚(233)通过固定滚轴(2333)压在固定前传感器(221)的顶面上;所述移动测试台(3)包括从下至上依次连接的移动测试箱体(31)、移动回转机构(33)、移动V型滚轮架(34)、设置在所述移动测试箱体(31)上的移动传感器(32)、设置在移动测试箱体(31)内的移动升降机构(35),所述移动传感器(32)包括移动前传感器(321)、移动后传感器(322),所述移动回转机构(33)由移动回转平台(331)、设置在所述移动回转平台(331)下方的移动回转架(332)和移动回转支脚(333)组成,所述移动回转平台(331)的顶面与移动V型滚轮架(34)的底面连接,所述移动回转架(332)包括通过轴承连接的移动上回转支架(3321)和移动下回转支架(3324),所述移动下回转支架(3324)的底面与移动后传感器(322)顶面连接,所述移动回转支脚(333)的底端设置有移动滚轴(3333),移动回转支脚(333)通过移动滚轴(3333)压在移动前传感器(321)的顶面上;所述光栅定位机构(4)包括设置在固定测试箱体(21)台面上的光栅支承架(47)、安装在所述光栅支承架(47)上的光栅导轨(43)和定位块(46)、安装在所述光栅导轨(43)上的光栅滑块(44)、安装在所述光栅滑块(44)上的光栅座(41)、安装在所述光栅座(41)侧面的靠栅(45),所述定位块(46)设置在光栅尺零位置基准处;所述固定V型滚轮架(24)与移动V型滚轮架(34)的连线平行于导轨(13)和光栅支承架(47)。...

【技术特征摘要】
1.一种双立面回转式质量质心偏心测试装置,其特征在于,该装置包括基座(1)、设置在所述基座(1)上的固定测试台(2)、移动测试台(3)、设置在所述固定测试台(2)上的光栅定位机构(4);所述基座(1)包括从下至上依次设置的水平调节座(11)、底板(12)和导轨(13),所述移动测试台(3)安装在导轨(13)上并能相对底板(12)运动,所述固定测试台(2)固定安装在底板(12)上;所述固定测试台(2)包括从下至上依次连接的固定测试箱体(21)、设置在所述固定测试箱体(21)上的固定传感器(22)、固定回转机构(23)、固定V型滚轮架(24),在固定测试箱体(21)内设置有固定升降机构(25),所述固定传感器(22)包括固定前传感器(221)、固定后传感器(222),所述固定回转机构(23)由固定回转平台(231)、设置在所述固定回转平台(231)下方的固定回转架(232)和固定回转支脚(233)组成,所述固定回转平台(231)的顶面与固定V型滚轮架(24)的底面连接,所述固定回转架(232)包括通过轴承连接的固定上回转支架(2321)和固定下回转支架(2324),所述固定下回转支架(2324)的底面与固定后传感器(222)顶面连接,所述固定回转支脚(233)的底端设置有固定滚轴(2333),固定回转支脚(233)通过固定滚轴(2333)压在固定前传感器(221)的顶面上;所述移动测试台(3)包括从下至上依次连接的移动测试箱体(31)、设置在所述移动测试箱体(31)上的移动传感器(32)、移动回转机构(33)、移动V型滚轮架(34),在移动测试箱体(31)内设置有移动升降机构(35),所述移动传感器(32)包括移动前传感器(321)、移动后传感器(322),所述移动回转机构(33)由移动回转平台(331)、设置在所述移动回转平台(331)下方的移动回转架(332)和移动回转支脚(333)组成,所述移动回转平台(331)的顶面与移动V型滚轮架(34)的底面连接,所述移动回转架(332)包括通过轴承连接的移动上回转支架(3321)和移动下回转支架(3324),所述移动下回转支架(3324)的底面与移动后传感器(322)顶面连接,所述移动回转支脚(333)的底端设置有移动滚轴(3333),移动回转支脚(333)通过移动滚轴(3333)压在移动前传感器(321)的顶面上;所述光栅定位机构(4)包括设置在固定测试箱体(21)台面上的光栅支承架(47)、安装在所述光栅支承架(47...

【专利技术属性】
技术研发人员:孔丹群
申请(专利权)人:孔丹群
类型:发明
国别省市:江苏;32

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