一种精准测量平整物整体曲面的测量装置及测量方法，所述测量装置包括一带有水平仪的支柱，该支柱上横向连接有一带有导轨的主尺，所述的导轨上安装有可沿着主尺直线水平移动测量的电子千分表，且该电子千分表通过数据线相连有可自动输入测量数据的电脑；所述测量方法包括如下步骤：a）将所述支柱2放置于被测物体的表面，若选择扇形的形式进行测量，则将支柱放置于被测物体的一个角；b）结合支柱顶端的水平仪对支架进行调整，使得整体水平；c）确定数据记录的形式及测量点的间距，将电子千分表连接电脑后，打开软件，进行测量；d）电子千分表以主尺为轴，从左到右，结合副尺移动准确距离后进行测量。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及的是，该测量方法精度范围为0.0Olmm一25mm，适用于精度要求较高而表面积范围较小(一般不大于0.25m2)的物体表面整体曲面的测量。
技术介绍
目前对物体表面的几何量测方式一般采用三坐标测量仪，它是指一种具有可作三个方向移动的探测器，可在三个相互垂直的导轨上移动，此探测器以接触或非接触等方式传送讯号，三个轴的位移测量系统经数据处理器计算出工件的各点坐标(X、Y、Z)及各项功能测量的仪器。三维可测的空间范围内，能够根据测头系统返回的点数据，通过三坐标的软件系统计算各类几何形状、尺寸等测量能力的仪器。三坐标测量仪具有机械结构刚性强、几何误差小、高精度和高稳定性的优点，但其的缺点为价格昂贵。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服现有技术存在的不足，而提供一种结构简单，使用操作方便，精度高，可靠性好的精准测量平整物整体曲面的测量装置及测量方法，它在避免了高额的设备成本的同时具备一定的精度及可操作性。本专利技术所采用的技术方案是:一种精准测量平整物整体曲面的测量装置，它包括一带有水平仪的支柱，该支柱上横向连接有一带有导轨的主尺，所述的导轨上安装有可沿着主尺直线水平移动测量的电子千分表，且该电子千分表通过数据线相连有可自动输入测量数据的电脑。所述的导轨带有可准确控制测量点之间距离的副尺；所述的主尺通过轴承相接在支柱上并可以相对支柱进行旋转，所述的支柱底部存在用以调节水平的支架，顶端装有可确保电子千分表可以沿着主尺水平移动的水平仪。所述支柱顶端水平仪为带有X、Y轴刻度的水平仪；所述的支柱上设置有整体高度可调整机构；所述的轴承可旋转并带有刻度，即可以带动主尺以支柱为轴进行固定角度的旋转，并为后续曲面模拟提供准确坐标； 所述支柱底部的支架接触于测量物体表面并保持水平，且所述支架确定的平面以支柱横截面的圆心为基准点，使电子千分表的测头与圆心的连线平行于电子千分表移动方向。—种利用所述精准测量平整物整体曲面的测量装置进行测量方法，所述的测量方法包括如下步骤: a)将所述支柱放置于被测物体的表面，若选择扇形的形式进行测量，则将支柱放置于被测物体的一个角； b)结合支柱顶端的水平仪对支架进行调整，使得整体水平； c)确定数据记录的形式及测量点的间距，以自动记录为例，将电子千分表连接电脑后，打开软件，进行测量并且将量测所得的参考数值进行手动或由计算机直接透过量测的千分表直接抓取数值； d)电子千分表以主尺为轴，从左到右，结合副尺移动准确距离后进行测量；将主尺通过轴承进行旋转一定角度，重复之前的测量步骤即可，最终将所测得的数据透过可以呈现三维图形的套装软件或自行开发的软件即可呈现出被测物体的曲面状况。与现有技术相比，本专利技术的有益效果是:避免了高额的设备费用却可以达到0.0Olmm的精度的要求。并且测量方式操作简单，仪器携带方便。【附图说明】图1是本专利技术所述精准测量平整物整体曲面的测量装置示意图。【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术进一步说明。图1所示，本专利技术所述的一种精准测量平整物整体曲面的测量装置，它包括一带有水平仪的支柱2，该支柱2上横向连接有一带有导轨7的主尺9，所述的导轨7上安装有可沿着主尺直线水平移动测量的电子千分表6，且该电子千分表6通过数据线5相连有可自动输入测量数据的电脑8。图中所示，所述的导轨7带有可准确控制测量点之间距离的副尺；所述的主尺通过轴承3相接在支柱上并可以相对支柱进行旋转，所述的支柱底部存在用以调节水平的支架4，顶端装有可确保电子千分表可以沿着主尺水平移动的水平仪。本专利技术所述支柱顶端水平仪I为带有X、Y轴刻度的水平仪；所述的支柱2上设置有整体高度可调整机构；所述的轴承3可旋转并带有刻度，即可以带动主尺以支柱为轴进行固定角度的旋转，并为后续曲面模拟提供准确坐标； 所述支柱底部的支架4接触于测量物体表面并保持水平，且所述支架确定的平面以支柱横截面的圆心为基准点，使电子千分表的测头与圆心的连线平行于电子千分表移动方向。一种利用所述精准测量平整物整体曲面的测量装置进行测量方法，所述的测量方法包括如下步骤: a)将所述支柱2放置于被测物体的表面，若选择扇形的形式进行测量，则将支柱2放置于被测物体的一个角； b)结合支柱顶端的水平仪I对支架4进行调整，使得整体水平； c)确定数据记录的形式及测量点的间距，以自动记录为例，将电子千分表6连接电脑8后，打开软件，进行测量并且将量测所得的参考数值进行手动或由计算机直接透过量测的千分表直接抓取数值； d)电子千分表以主尺9为轴，从左到右，结合副尺7移动准确距离后进行测量；将主尺通过轴承3进行旋转一定角度，重复之前的测量步骤即可，最终将所测得的数据透过可以呈现三维图形的套装软件或自行开发的软件即可呈现出被测物体的曲面状况。以上结合附图对本专利技术的【具体实施方式】作了说明，但这些说明不能被理解为限制了本专利技术的范围，本专利技术的保护范围由随附的权利要求书限定，任何在本专利技术去权利要求基础上的改动都是本专利技术的保护范围。【主权项】1.一种精准测量平整物整体曲面的测量装置，它包括一带有水平仪的支柱，该支柱上横向连接有一带有导轨的主尺，其特征在于所述的导轨上安装有可沿着主尺直线水平移动测量的电子千分表，且该电子千分表(6)通过数据线(5)相连有可自动输入测量数据的电脑(8)02.根据权利要求1所述的精准测量平整物整体曲面的测量装置，其特征在于所述的导轨(7)带有可准确控制测量点之间距离的副尺；所述的主尺通过轴承(3)相接在支柱上并可以相对支柱进行旋转，所述的支柱底部存在用以调节水平的支架(4)，顶端装有可确保电子千分表可以沿着主尺水平移动的水平仪。3.根据权利要求2所述的精准测量平整物整体曲面的测量装置，其特征在于所述支柱顶端水平仪(I)为带有X、Y轴刻度的水平仪；所述的支柱(2)上设置有整体高度可调整机构；所述的轴承(3)可旋转并带有刻度，即可以带动主尺以支柱为轴进行固定角度的旋转，并为后续曲面模拟提供准确坐标。4.根据权利要求2或3所述的精准测量平整物整体曲面的测量装置，其特征在于所述支柱底部的支架(4)接触于测量物体表面并保持水平，且所述支架确定的平面以支柱横截面的圆心为基准点，使电子千分表的测头与圆心的连线平行于电子千分表移动方向。5.一种利用权利要求1或2或3或4所述精准测量平整物整体曲面的测量装置进行测量方法，其特征在于所述的测量方法包括如下步骤: a)将所述支柱2放置于被测物体的表面，若选择扇形的形式进行测量，则将支柱2放置于被测物体的一个角； b)结合支柱顶端的水平仪(I)对支架(4)进行调整，使得整体水平； c)确定数据记录的形式及测量点的间距，以自动记录为例，将电子千分表(6)连接电脑(8)后，打开软件，进行测量并且将量测所得的参考数值进行手动或由计算机直接透过量测的千分表直接抓取数值； d)电子千分表以主尺(9)为轴，从左到右，结合副尺(7)移动准确距离后进行测量；将主尺通过轴承(3)进行旋转一定角度，重复之前的测量步骤即可，最终将所测得的数据透过可以呈现三维图形的套装软件或自行开发的软件即可呈现出被测物体的曲面状况。【专利摘要】，所述测量装置包括一带有水平仪的支柱，该支柱上横向连接有一带有导轨的主尺，所述的导本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种精准测量平整物整体曲面的测量装置，它包括一带有水平仪的支柱，该支柱上横向连接有一带有导轨的主尺，其特征在于所述的导轨上安装有可沿着主尺直线水平移动测量的电子千分表，且该电子千分表（6）通过数据线（5）相连有可自动输入测量数据的电脑（8）。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：戴志展，姚钧，
申请(专利权)人：嘉兴斯达微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。