一种改善差分走线阻抗失配的设计方法技术

本发明专利技术提供一种改善差分走线阻抗失配的设计方法，涉及信号完整性技术领域，本发明专利技术具体实施步骤如下：1）、上件PCB板进行阻抗实测，看是否超出阻抗公差；2）、上件PCB板进行信号眼图测试，观察其信号Jitter是否过大；3）、在差分线之间并接可调电阻；4）、再次进行信号眼图测试，调节电阻值直至Jitter抖动满足信号要求。可有效改善信号质量，阻抗匹配后的板卡可如期进行产品功能测试，保证计划顺利进行。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及信号完整性
，尤其涉及。
技术介绍
随着互联网的快速发展以及市场竞争的不断加剧，产品周期和产品质量也面临着越来越苛刻的要求。从产品研发设计阶段到量产出货要经历数十个流程，随着设计经验的积累和仿真技术的日益成熟，设计阶段的问题避规能力越来越强。在PCB制程方面，由于工序繁多、自动化程度不够高等原因，操作员的人为疏忽却是无法避免的，而且，此类问题的出现是随机的、不可预知的，这将极大的影响项目计划，给项目带来不确定性。例如:在某SAS存储背板产品开发时，其EVT阶段PCB板加工后，实测阻抗超出Spec规定100ohm+/_10%要求，其测试SAS信号Topology及阻抗值。因此，为确保产品质量，需要PCB制板厂重新加工一批PCB板。同时，将该批次不良板抽出5片进行PCBA加工焊接上件后，对其进行信号测试，分析此批次不良板是否还能满足信号质量要求。对于Server产品的开发，主板上的各种高速信号都有各自要求的特性阻抗值，如PCIE Gen3阻抗为85ohm，SATA阻抗为lOOohm，DDR4阻抗为40ohm等。因此，在PCB设计时，我们将按此阻抗值进行layout差分线宽线距设计，同时，PCB厂也以此阻抗值进行目标管控。但PCB板加工流程比较复杂，由于某环节工艺疏漏，常常会出现一批PCB板阻抗超标。这样，此批PCB板就需要重新加工，从而会导致PCBA厂焊接元器件及后期产品功能测试的延迟，严重影响项目开发计划。
技术实现思路
为了解决该问题，本专利技术提出了，可以使超标的阻抗值满足在目标阻抗范围内，以便按计划启动产品功能测试，避免项目进度的延迟。本专利技术提出。在Server产品的开发中，主板上的各种高速信号都有各自要求的特性阻抗值(比如:PCIE Gen3信号阻抗为85ohm、SATA信号阻抗为lOOohrn、DDR4信号阻抗为40ohm等)。在PCB设计时，需要将按此阻抗值对高速信号的layout走线进行差分线宽线距进行设定仿真，并通过仿真对layout走线进行调整，使得这些高速信号在PCB走线的阻抗值控制在给定的范围内，PCB厂也以此阻抗值进行目标管控。但PCB板加工流程比较复杂，一旦某个环节的工艺出现疏漏，常常会造成一批PCB板阻抗超标。这样，此批PCB板就需要重新加工，从而引起PCBA厂焊接元器件及后期产品功能测试的延迟，严重影响项目开发计划。为此，本文提出:在差分线之间并接合适电阻，使其高阻抗降低到目标值管控范围之内。此方法可有效改善信号质量，阻抗匹配后的板卡可如期进行产品功能测试，保证计划顺利进行。具体实施步骤如下: 1)、上件PCB板进行阻抗实测，看是否超出阻抗公差； 2)、上件PCB板进行信号眼图测试，观察其信号Jitter是否过大； 3)、在差分线之间并接可调电阻； 4)、再次进行信号眼图测试，调节电阻值直至Jitter抖动满足信号要求。利用电阻并联原理，即差分线并接电阻与差分线特性阻抗进行并接，其等效信号传播路径阻抗会整体偏低；调节并接电阻值，使其高阻抗降低到目标值管控范围之内。进行rework调试，然后再测试阻抗超标的SAS通道，使阻抗值满足目标阻抗管控范围之内，同时，再次进行SAS眼图的测试，观察其信号Jitter的改善情况。本专利技术的有益效果是 可以使超标的阻抗值满足在目标阻抗范围内，改善信号失真问题，以便按计划启动产品功能测试，避免项目进度的延迟。通过在阻抗失配的差分线之间并接电阻前后的眼图对比，可快速定位引起信号失真的主要因素是否是阻抗失配，而不用等待重新加工的PCB板来验证，提高板卡debug效率。【具体实施方式】下面对本专利技术的内容进行更加详细的阐述: 具体实施步骤如下: 1)、上件PCB板进行阻抗实测，看是否超出阻抗公差； 2)、上件PCB板进行信号眼图测试，观察其信号Jitter是否过大； 3)、在差分线之间并接可调电阻； 4)、再次进行信号眼图测试，调节电阻值直至Jitter抖动满足信号要求。以SAS信号为例，进行信号眼图测试。发现SAS信号jitter抖动太大。造成信号误码率(BER)的提升，将影响到系统功能的使用。即:有可能造成硬盘重新掉盘。其造成SAS眼图Jitter过大的根本原因就是:SAS差分信号线阻抗不匹配超标，引起信号在传播路径上反射。影响到后面信号码形的质量，即产生ISI码间干扰。针对上述情况，在bug分析时，根据电阻串并联原理，采用以下方案:在差分线之间并接电阻，使其高阻抗降低到目标值管控范围之内(100ohm±10%)。从上述SAS Topology中，利用电阻并联原理，即差分线并接R电阻与差分线特性阻抗Z进行并接，其等效信号传播路径阻抗会整体偏低。当选择较合适的并接R电阻值后，其差分路径的阻抗会降低到目标阻抗管控范围之内。因此，根据理论假设，进行相关rework调试，然后再测试阻抗超标的SAS通道，其阻抗值满足目标阻抗管控范围之内。同时，再次进行SAS眼图的测试，观察其信号Jitter有明显的改善。综上所述，在阻抗失配的差分线之间并接合适电阻，使其高阻抗降低到目标值管控范围之内可有效改善信号质量，阻抗匹配后的板卡可如期进行产品功能测试，保证计划顺利进行。【主权项】1.，其特征在于， 具体实施步骤如下: 1)、上件PCB板进行阻抗实测，看是否超出阻抗公差； 2)、上件PCB板进行信号眼图测试，观察其信号Jitter是否过大； 3)、在差分线之间并接可调电阻； 4)、再次进行信号眼图测试，调节电阻值直至Jitter抖动满足信号要求。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于， 利用电阻并联原理，即差分线并接电阻与差分线特性阻抗进行并接，其等效信号传播路径阻抗会整体偏低；调节并接电阻值，使其高阻抗降低到目标值管控范围之内。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于， 进行rework调试，然后再测试阻抗超标的SAS通道，使阻抗值满足目标阻抗管控范围之内，同时，再次进行SAS眼图的测试，观察其信号Jitter的改善情况。【专利摘要】本专利技术提供，涉及信号完整性
，本专利技术具体实施步骤如下：1）、上件PCB板进行阻抗实测，看是否超出阻抗公差；2）、上件PCB板进行信号眼图测试，观察其信号Jitter是否过大；3）、在差分线之间并接可调电阻；4）、再次进行信号眼图测试，调节电阻值直至Jitter抖动满足信号要求。可有效改善信号质量，阻抗匹配后的板卡可如期进行产品功能测试，保证计划顺利进行。【IPC分类】H05K3/00【公开号】CN104994687【申请号】CN201510366005【专利技术人】孙龙, 武宁 【申请人】浪潮电子信息产业股份有限公司【公开日】2015年10月21日【申请日】2015年6月29日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种改善差分走线阻抗失配的设计方法，其特征在于，具体实施步骤如下：1）、上件PCB板进行阻抗实测，看是否超出阻抗公差；2）、上件PCB板进行信号眼图测试，观察其信号Jitter是否过大；3）、在差分线之间并接可调电阻；4）、再次进行信号眼图测试，调节电阻值直至Jitter抖动满足信号要求。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙龙，武宁，
申请(专利权)人：浪潮电子信息产业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37