智能设备的测试方法和装置制造方法及图纸

本公开提出一种智能设备的测试方法，所述方法包括：从指定存储器中读取累计工作时长；判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。本公开可以实现通过判断智能设备的累计工作时长是否达到预设的测试时长，来触发智能设备进入测试模式，使得不具备触发按钮的智能设备也能够正常的进入测试模式。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及通信领域，尤其涉及智能设备的测试方法和装置。
技术介绍
智能设备在出厂前，为了保证设备的质量，通常需要进行一系列的测试。在测试模式下，智能设备执行的任务和正常工作模式不同，因此在针对智能设备进行测试时，需要智能设备配合进入测试模式。
技术实现思路
本公开提供一种智能设备的测试方法和装置。根据本公开实施例的第一方面，提供一种智能设备的测试方法，所述方法包括:从指定存储器中读取累计工作时长；判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。可选的，所述方法还包括:当未读取到所述累计工作时长，或者读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，进入正常工作模式。可选的，所述方法还包括:上电后，基于预设的写入周期向所述指定存储器写入最新的累计工作时长，以对所述指定存储中记录的累计工作时长进行更新；并在读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，停止向所述指定存储器写入最新的累计工作时长；其中，初始状态下所述指定存储器中记录的累计工作时长为O。可选的，所述方法还包括:当读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，将所述指定存储中已记录的累计工作时长清除。可选的，所述进入测试模式包括:运行所述智能设备中预先加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使所述智能设备进入测试模式；所述进入正常工作模式包括:运行所述智能设备中预先加载到的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使所述智能设备进入正常工作模式。根据本公开实施例的第二方面，提供一种智能设备的测试装置，所述装置包括:读取模块，用于从指定存储器中读取累计工作时长；判断模块，用于判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；第一进入模块，用于在读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。可选的，所述装置还包括:第二进入模块，用于在读取模块未读取到所述累计工作时长，或者读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，进入正常工作模式。可选的，所述装置还包括:写入模块，用于在上电后，基于预设的写入周期向所述指定存储器写入最新的累计工作时长，以对所述指定存储中记录的累计工作时长进行更新；并在读取模块读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，停止向所述指定存储器写入最新的累计工作时长；其中，初始状态下所述指定存储器中记录的累计工作时长为O。可选的，所述装置还包括:清除模块，用于在读取模块读取到的所述累计工作时长大于所述预设的测试时长时，将所述指定存储中已记录的累计工作时长清除。可选的，所述第一进入模块包括:第一运行子模块，用于运行所述智能设备中预先加载的用于在测试模式下运行的测试代码，以使所述智能设备进入测试模式；所述第二进入子模块包括:第二运行子模块，用于运行所述智能设备中预先加载的用于在正常工作模式下运行的通用代码，以使所述智能设备进入正常工作模式。根据本公开实施例的第三方面，提供一种智能设备的测试装置，包括:处理器；用于存储处理器可执行指令的存储器；其中，所述处理器被配置为:从指定存储器中读取累计工作时长；判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:本公开的以上实施例中，通过从指定存储器中读取累计工作时长，并判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式，从而可以实现通过判断智能设备的累计工作时长是否达到预设的测试时长，来触发智能设备进入测试模式，使得不具备触发按钮的智能设备也能够正常的进入测试模式。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。【附图说明】此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。图1是根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试方法的流程示意图；图2是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试方法的流程示意图；图3是根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试装置的示意框图；图4是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；图5是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；图6是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；图7是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；图8是根据一示例性实施例示出的另一种智能设备的测试装置的示意框图；图9是根据一示例性实施例示出的一种用于所述智能设备的测试装置的一结构示意图。【具体实施方式】这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。在本公开使用的术语是仅仅出于描述特定实施例的目的，而非旨在限制本公开。在本公开和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。还应当理解，本文中使用的术语“和/或”是指并包含一个或多个相关联的列出项目的任何或所有可能组合。应当理解，尽管在本公开可能采用术语第一、第二、第三等来描述各种信息，但这些信息不应限于这些术语。这些术语仅用来将同一类型的信息彼此区分开。例如，在不脱离本公开范围的情况下，第一信息也可以被称为第二信息，类似地，第二信息也可以被称为第一信息。取决于语境，如在此所使用的词语“如果”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。在针对智能设备进行测试时，通常需要智能设备配合进入测试模式。例如，可以为智能设备设置用于触发智能设备进入测试模式的触发按钮，测试人员在针对该智能设备进行测试时，可以通过手动触发该触发按钮控制智能设备进入测试模式，当智能设备在后台检测到针对该触发按钮的触发事件时，则可以自动切换至测试模式，然而，在上述方案中，对于一些不具备触发按钮的智能设备，例如，智能灯泡，将存在无法进入测试模式的问题。有鉴于此，本公开提出一种智能设备的测试方法，通过从指定存储器中读取累计工作时长，并判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式，从而可以实现通过判断智能设备的累计工作时长是否达到预设的测试时长，来触发智能设备进入测试模式，使得不具备触发按钮的智能设备也能够正常的进入测试模式。如图1所示，图1是根据一示例性实施例示出的一种智能设备的测试方法，包括以下步骤:...

【技术保护点】
一种智能设备的测试方法，其特征在于，所述方法包括：从指定存储器中读取累计工作时长；判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙启民，侯恩星，孟德国，
申请(专利权)人：小米科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11