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本公开提出一种智能设备的测试方法，所述方法包括：从指定存储器中读取累计工作时长；判断读取到的累计工作时长是否大于预设的测试时长；当读取到的所述累计工作时长小于或等于所述预设的测试时长时，进入测试模式。本公开可以实现通过判断智能设备的累计工作...
该专利属于小米科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过小米科技有限责任公司授权不得商用。

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