【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及单晶体取向测量
，尤其涉及一种工程化单晶体取向的测量方 法及装置。
技术介绍
随着科技的逐步发展，在高尖端制造领域不断提高材料性能以成为目前热点。众 所周知，由于单晶的各项异性，使得它的力学性能、磁性能、导电性能方面有着独特的优势。 目前，在航空、航天、发电、核工业等装备制造领域的产品质量检测，特别是在单晶 产品取向控制，及单晶完整性的检测技术已成为我国高尖端技术发展的瓶颈。近期，在单晶 取向工程化测定设备上，仅有国外个别厂商（PROTO公司）能够提供单晶取向检测设备。但 由于供应商技术支持、测试标准等问题，导致该类设备并未投入到工程化应用中。目前，国 外提供的测试设备主要分为以下两类：劳埃法测量法和利用衍射仪附加功能测量单晶取向 的仪器。劳埃法测量单晶取向的投入成本高（约45万美元），并且对操作人员的专业素质 要求高（操作人员需要有丰富的晶体学知识），同时对被测样品的表面要求高，适用范围受 到一定限制。而利用衍射仪附加功能测量单晶取向的仪器成本更高、操作更复杂、对操作人 员的要求也更高。并且由于是附加功能，单晶取向测试功能没有专...
【技术保护点】
工程化单晶体取向的测量方法，包括如下步骤：以单晶体的试样的待测面所在平面为基准面，所述基准面为Ф面，X射线发射装置和X射线探测装置所在平面为2θ面；扫描时，针对单晶体固定衍射角，2θ面以其与Ф面的交线为回转轴在一定范围内转动，从而实现X射线发射装置和X射线探测装置在衍射球面上摆动，试样以垂直于基准面的轴为旋转轴转动，旋转轴与基准面交于O点，回转轴过O点，X射线发射装置扫描试样的入射点始终为O点；测得在衍射方向探测到的X射线衍射峰最强，根据布拉格定律确定试样内待测晶面的法线方向，所述法线方向即为单晶体试样的该晶面的取向。
【技术特征摘要】
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