【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种测试模式下自动校准环振的方法及装置。
技术介绍
稳定、高精度的时钟输入是芯片稳定工作的前提，通常在芯片设计时封装出晶振脚，通过该晶振脚外接无源/有源晶振，由芯片外部的晶振提供时钟源。随着电子产品向更小尺寸、更高集成度发展，很多应用已经没法提供外部晶振的贴片空间，如SIM卡/银行IC卡类产品、手机应用产品等。对于这类应用可以将外部晶振的功能在芯片内部实现，设计芯片内的晶体振荡器(ROSC)，由该振荡器提供芯片的时钟。芯片内的晶体振荡器是一个模拟组件，极容易受到芯片生产厂商工艺偏差、环境温度、工作电压波动影响，使得晶体振荡器的输出频率产生偏差(与标准频率不同)，这些偏差会使芯片的功能失效。由芯片生产厂商工艺引起的偏差的特性如下: 1.输出频率偏差不仅在不同的生产批次上会产生，在同一批次的不同芯片上也会产生。2.单颗芯片在不同的时间点输出频率不变。3.单颗芯片间输出频率偏差较大。专利CN201310214856提出了一种USB从设备的系统时钟自动校准系统和方法，解决了由于环境温度缓变、工作电压波动导致的系统时钟偏离USB工作要求的问题。由于...
【技术保护点】
一种测试模式下自动校准环振的方法，包括测试电路、内置环振、测试机台、非异失性存储器，其操作步骤如下：（1）在测试模式下，测试机台通过某个GPIO向测试电路灌入频率为几十KHz的低频时钟，作为校准环振的基准时钟；（2）内置环振的输出作为被测时钟提供到测试电路；（3）测试电路在测试机台灌入的基准时钟下，对内置环振的输出频率进行频率计数，依据计数结果，逐次调整校准值，测试电路并将调整后的校准值配置给内置环振；每调整一次校准值，测试电路重新进行一次频率计数，直到频率计数结果与期望值一致；（4）测试机台从测试电路将步骤（3）得到的最终校准值写入非易失性存储器的指定区域，完成对内置环振的校准。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：徐功益，李兆亮，钱志恒，
申请(专利权)人：杭州晟元芯片技术有限公司，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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