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一种测试模式下自动校准环振的方法，包括测试电路、内置环振、测试机台、非异失性存储器，其操作步骤如下：（1）在测试模式下，测试机台通过某个GPIO向测试电路灌入频率为几十KHz的低频时钟，作为校准环振的基准时钟；（2）内置环振的输出作为被测时...
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