本实用新型专利技术涉磁通检测及技术领域，具体地说是一种磁通防干扰检测装置，其设有检测槽，检测槽经导线连接到电控箱上，检测槽内设有检测台，检测台的中心部位设有磁片放置凸台，特征在于磁片放置凸台上设有磁片载体，磁片载体底部设有与磁片放置凸台相配合的凹槽，磁片载体内部设有与磁片大小相配合的载物槽，载物槽的轴线与磁片放置凸台的轴线相重合，磁片载体侧面设有与载物槽相连通的通孔，具有结构简单、使用方便、测量结果准确等优点。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉磁通检测及
，具体地说是一种使用方便、测量结果准确的磁通防干扰检测装置。
技术介绍
钕铁硼磁性材料是钕、氧化铁等的合金，又称磁钢，由于其优异的磁性能而被称为“磁王”，钕铁硼因其高磁能、高矫顽力和高能量密度的性能，使钕铁硼永磁材料在现代工业和电子技术中获得了广泛应用，从而实现仪器、仪表、电机等设备的小型化、轻量化、薄型化，具有性价比高，机械特性好等优点。目前，磁通防干扰监测装置设有检测槽，检测槽经导线连接到电控箱上，检测槽内设有检测台，检测台的中心部位设有磁片放置凸台，检测钕铁硼磁柱磁通的方法一般是通过人工将待检测的磁片放到检测槽内的磁片放置凸台上，然后进行检测，但是由于人工放置存在偏差，不能精准的将待测磁柱置于中间位置，导致检测结果存在误差。
技术实现思路
本技术的目的是解决上述现有技术的不足，提供一种使用方便、测量结果准确的磁通防干扰检测装置。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种磁通防干扰检测装置，设有检测槽，检测槽外经导线连接到电控箱上，检测槽内设有检测台，检测台的中心部位设有磁片放置凸台，其特征在于磁片放置凸台上设有磁片载体，磁片载体底部设有与磁片放置凸台相配合的凹槽，磁片载体内部设有与磁片大小相配合的载物槽，载物槽的轴线与磁片放置凸台的轴线相重合，保证检测数据准确，磁片载体侧面设有与载物槽相连通的通孔，用于放置待检测的磁片。本技术所述的载物槽的下底面低于通孔的下底面，将待测磁片卡在载物槽上，保证待测磁片不发生移动，确保待测磁片的轴线与磁片放置凸台的轴线重合，使检测结果准确。本技术所述的磁片载体上下两端设有与载物槽相连通的圆孔，方便待测磁片的取出。本技术由于设有磁片载体，保证待检测磁片的轴线与磁片放置凸台的轴线重合，降低检测数据误差，保证检测结果的准确性，磁片载体内设有载物槽，载物槽的下底面低于通孔的下底面，进一步确保磁片轴线与磁片放置凸台轴线重合，保证检测数据准确，具有结构简单、使用方便、测量结果准确等优点。【附图说明】图1是本技术的俯视图。图2是图1中A-A剖面图。图3是本技术的中磁片载体俯视图。图4是图3的主视图。图5是图3的右视图。图6是图3的仰视图。图7是图3中B-B剖面图。图8是图4中C-C剖面图。【具体实施方式】下面结合附图对本技术进一步说明:如附图所示，一种磁通防干扰检测装置，设有检测槽1，检测槽I经导线连接到电控箱上，检测槽I内设有检测台2，检测台2的中心部位设有磁片放置凸台3，其特征在于磁片放置凸台3上设有磁片载体4，磁片载体4底部设有与磁片放置凸台3相配合的凹槽，磁片载体4内部设有与磁片大小相配合的载物槽5，载物槽5的轴线与磁片放置凸台3的轴线相重合，保证检测数据准确，磁片载体4侧面设有与载物槽5相连通的通孔6，用于放置待检测的磁片，载物槽5的下底面低于通孔6的下底面，将待测磁片卡在载物槽5上，保证待测磁片不发生移动，确保待测磁片的轴线与磁片放置凸台3的轴线重合，使检测结果准确，磁片载体4上下两端设有与载物槽5相连通的圆孔7，方便待测磁片的取出。本技术由于设有磁片载体4，保证待检测磁片的轴线与磁片放置凸台3的轴线重合，降低检测数据误差，保证检测结果的准确性，磁片载体4内设有载物槽5，载物槽5的下底面低于通孔6的下底面，进一步确保磁片轴线与磁片放置凸3台轴线重合，保证检测数据准确，磁片载体4上下两端设有与载物槽5相连通的圆孔，在磁片置于载物槽5内需要取出时，用顶针从圆孔7中将磁片顶出，具有结构简单、使用方便、测量结果准确等优点。 本技术在使用时，将待测磁片通过通孔6置于载物槽5内，磁片载体4通过底部凹槽固定在磁片放置凸台3处，固定住待测磁片，保证待测磁片的轴线与磁片放置凸台3的轴线相重合，不产生偏差，具有结构简单、使用方便、测量结果准确等优点。【主权项】1.一种磁通防干扰检测装置，设有检测槽，检测槽经导线连接到电控箱上，检测槽内设有检测台，检测台的中心部位设有磁片放置凸台，其特征在于磁片放置凸台上设有磁片载体，磁片载体底部设有与磁片放置凸台相配合的凹槽，磁片载体内部设有与磁片大小相配合的载物槽，载物槽的轴线与磁片放置凸台的轴线相重合，磁片载体侧面设有与载物槽相连通的通孔。2.根据权利要求1所述的一种磁通防干扰检测装置，其特征在于载物槽的下底面低于通孔的下底面。3.根据权利要求1所述的一种磁通防干扰检测装置，其特征在于磁片载体上下两端设有与载物槽相连通的圆孔。【专利摘要】本技术涉磁通检测及
，具体地说是一种磁通防干扰检测装置，其设有检测槽，检测槽经导线连接到电控箱上，检测槽内设有检测台，检测台的中心部位设有磁片放置凸台，特征在于磁片放置凸台上设有磁片载体，磁片载体底部设有与磁片放置凸台相配合的凹槽，磁片载体内部设有与磁片大小相配合的载物槽，载物槽的轴线与磁片放置凸台的轴线相重合，磁片载体侧面设有与载物槽相连通的通孔，具有结构简单、使用方便、测量结果准确等优点。【IPC分类】G01R33-12【公开号】CN204595189【申请号】CN201520323059【专利技术人】马跃华, 刘楠 【申请人】荣成宏秀山磁业有限公司【公开日】2015年8月26日【申请日】2015年5月19日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种磁通防干扰检测装置，设有检测槽，检测槽经导线连接到电控箱上，检测槽内设有检测台，检测台的中心部位设有磁片放置凸台，其特征在于磁片放置凸台上设有磁片载体，磁片载体底部设有与磁片放置凸台相配合的凹槽，磁片载体内部设有与磁片大小相配合的载物槽，载物槽的轴线与磁片放置凸台的轴线相重合，磁片载体侧面设有与载物槽相连通的通孔。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：马跃华，刘楠，
申请(专利权)人：荣成宏秀山磁业有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。