一种计算机硬盘批量测试装置及测试方法制造方法及图纸

技术编号:11898266 阅读:202 留言:0更新日期:2015-08-19 09:38
本发明专利技术公开了一种计算机硬盘批量测试装置,其包括有:多个计算机、多个继电器及一主控单元,多个计算机的地址码不同,所述计算机上设有待测硬盘,所述计算机的操作系统安装于该待测硬盘下,所述计算机用于当其上电时启动操作系统,并在进入操作系统后发出地址码;所述继电器与计算机一一对应,所述继电器的开关触点串接于计算机的电源回路;所述主控单元用于接收计算机发出的地址码,记录与该地址码所对应的计算机的启动次数,并控制与该计算机所对应的继电器的开关触点先断开再闭合。上述测试装置在计算机、继电器和主控单元的共同作用下,能够对每台计算机进行自动测试,不仅提高了测试效率,还降低了人工成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机配件测试装置,尤其涉及。
技术介绍
电脑硬盘是计算机最主要的存储设备,由于其具有存储功能,所以硬盘需具备应对异常掉电而数据不会丢失的能力,为了测试硬盘的可靠性,现有技术中通常将计算机的操作系统安装于待测硬盘下,之后人工启动计算机,当计算机重新进入操作系统后,说明待测硬盘数据完好,之后断开计算机电源,令硬盘异常掉电,之后再次启动计算机,经多次测试,直至计算机无法启动,说明硬盘数据丢失,记录计算机的启动次数,作为判断硬盘应对异常掉电能力的依据。上述测试方式,需人工对每台计算机进行测试,其存在效率低、成本高、不具自动化性能等缺陷。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于提供一种测试效率高、成本低、具备自动化性能的计算机硬盘批量测试装置及测试方法。为解决上述技术问题,本专利技术采用如下技术方案。一种计算机硬盘批量测试装置,其包括有:多个计算机,每个计算机设有一地址码,多个计算机的地址码不同,所述计算机上设有待测硬盘,所述计算机的操作系统安装于该待测硬盘下,所述计算机用于当其上电时启动操作系统,并在进入操作系统后发出地址码;多个继电器,所述继电器与计算机一一对应,所述继电器的开关触点串接于计算机的电源回路;一主控单元,所述计算机的信号输出端和继电器的控制端分别电连接于主控单元,所述主控单元用于接收计算机发出的的地址码,记录与该地址码所对应的计算机的启动次数,并控制与该计算机所对应的继电器的开关触点先断开再闭合。优选地,所述主控单元包括有一路由器、一服务器及一单片机,其中:多个计算机分别电连接于路由器,所述计算机进入操作系统后发出的地址码为IP地址,所述路由器用于接收所述地址码,并将该地址码上传至服务器;多个继电器的控制端分别电连接于单片机的输出端;所述路由器和单片机分别电连接于服务器,所述服务器用于接收路由器上传的地址码,并通过单片机控制与该地址码相对应的继电器的开关触点先断开再闭合。一种计算机硬盘批量测试方法,其包括有:步骤SI,所述计算机启动操作系统,所述计算机进入操作系统后发出地址码;步骤S2,所述主控单元接收地址码,记录与该地址码所对应的计算机的启动次数;步骤S3,所述主控单元控制与该计算机所对应的继电器的开关触点先断开再闭合,以令计算机再次上电;重复执行步骤SI至步骤S3。优选地,所述主控单元包括有一路由器、一服务器及一单片机,其中:多个计算机分别电连接于路由器,所述计算机进入操作系统后发出的地址码为IP地址,所述路由器用于接收所述地址码,并将该地址码上传至服务器;多个继电器的控制端分别电连接于单片机的输出端;所述路由器和单片机分别电连接于服务器,所述服务器用于接收路由器上传的地址码,并通过单片机控制与该地址码相对应的继电器的开关触点先断开再闭合。优选地,所述单片机用于控制继电器的开关触点断开,并在断开状态下持续预设时间,之后闭合,以令计算机重新上电启动。本专利技术公开的计算机硬盘批量测试装置中,当计算机上电启动并进入操作系统后发出地址码,所述主控单元接收地址码,记录与该地址码所对应的计算机的启动次数,之后该主控单元控制与该计算机所对应的继电器的开关触点先断开再闭合,以令计算机再次上电,当其中的某个计算机无法启动时,说明对应的待测硬盘数据丢失,记录该计算机的启动次数,作为判断该待测硬盘应对异常掉电能力的依据,上述测试装置中,在计算机、继电器和主控单元的共同作用下,能够对每台计算机进行自动测试,不仅提高了测试效率,还降低了人工成本,此外,本专利技术采用计算机与继电器一一对应的方式对硬盘进行掉电测试,所以每个硬盘的测试过程是独立的,特别在测试前或测试中能方便调整待测硬盘的数量,使得本专利技术在应用过程中更具灵活性。【附图说明】图1为计算机硬盘批量测试装置的电路框图。图2为计算机硬盘批量测试方法的流程图。【具体实施方式】下面结合附图和实施例对本专利技术作更加详细的描述。本专利技术公开了一种计算机硬盘批量测试装置,如图1所示,其包括有多个计算机1、多个继电器2及一主控单元3,其中:每个计算机I设有一地址码,多个计算机I的地址码不同,所述计算机I上设有待测硬盘,所述计算机I的操作系统安装于该待测硬盘下,所述计算机I用于当其上电时启动操作系统,并在进入操作系统后发出地址码;所述继电器2与计算机I 一一对应,所述继电器2的开关触点串接于计算机I的电源回路;所述计算机I的信号输出端和继电器2的控制端分别电连接于主控单元3,所述主控单元3用于接收计算机I发出的的地址码,记录与该地址码所对应的计算机I的启动次数,并控制与该计算机I所对应的继电器2的开关触点先断开再闭合。上述计算机硬盘批量测试装置中,当计算机I上电启动并进入操作系统后发出地址码,所述主控单元3接收地址码,记录与该地址码所对应的计算机I的启动次数,之后该主控单元3控制与该计算机I所对应的继电器2的开关触点先断开再闭合,以令计算机I再次上电,当其中的某个计算机I无法启动时,说明对应的待测硬盘数据丢失,记录该计算机I的启动次数,作为判断该待测硬盘应对异常掉电能力的依据,上述测试装置中,在计算机1、继电器2和主控单元3的共同作用下,能够对每台计算机进行自动测试,不仅提高了测试效率,还降低了人工成本,此外,本专利技术采用计算机I与继电器2 —一对应的方式对硬盘进行掉电测试,所以每个硬盘的测试过程是独立的,特别在测试前或测试中能方便调整待测硬盘的数量,使得本专利技术在应用过程中更具灵活性。关于主控单元3的具体结构,所述主控单元3包括有一路由器30、一服当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种计算机硬盘批量测试装置,其特征在于包括有:多个计算机,每个计算机设有一地址码,多个计算机的地址码不同,所述计算机上设有待测硬盘,所述计算机的操作系统安装于该待测硬盘下,所述计算机用于当其上电时启动操作系统,并在进入操作系统后发出地址码;多个继电器,所述继电器与计算机一一对应,所述继电器的开关触点串接于计算机的电源回路;一主控单元,所述计算机的信号输出端和继电器的控制端分别电连接于主控单元,所述主控单元用于接收计算机发出的的地址码,记录与该地址码所对应的计算机的启动次数,并控制与该计算机所对应的继电器的开关触点先断开再闭合。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邹念锋武鑫周育永
申请(专利权)人:深圳市金泰克半导体有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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