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本发明公开了一种计算机硬盘批量测试装置，其包括有：多个计算机、多个继电器及一主控单元，多个计算机的地址码不同，所述计算机上设有待测硬盘，所述计算机的操作系统安装于该待测硬盘下，所述计算机用于当其上电时启动操作系统，并在进入操作系统后发出地址...
该专利属于深圳市金泰克半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市金泰克半导体有限公司授权不得商用。

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