防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质，涉及内存条测试技术领域。方法包括：按顺序从测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；判断目标测试工序是否是第一个测试工序；若否，判断内存条预设的存储器是否存储有目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；若是，对内存条执行目标测试工序；判断内存条是否通过目标测试工序；若是，判断目标测试工序是否是最后一个测试工序；若否，将目标测试工序对应的标识信息写入存储器中，并转到按顺序从测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。本发明专利技术能够有效避免内存条的测试工序遗漏。本发明专利技术能够有效避免内存条的测试工序遗漏。本发明专利技术能够有效避免内存条的测试工序遗漏。

【技术实现步骤摘要】
防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及内存条测试
，尤其涉及一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]内存条(Memory module)，是电脑必不可少的组成部分，主要作用是临时存放CPU的运算数据以及与硬盘等外部存储器交换的数据。内存条在电脑中起到至关重要的作用。
[0003]因此，内存条在出厂之前需要经过多项测试。现有技术中，对内存条的各项测试是独立进行的，经常出现遗漏部分测试工序的情况发生，由此可能会导致一些不合格的内存条出厂，给企业造成严重的损失。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供了一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质，旨在解决现有内存条测试中遗漏测试工序的问题。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法，预设的测试序列中包括多个按顺序排列的测试工序，所述方法用于测试内存条，所述方法包括：
[0006]按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；
[0007]判断所述目标测试工序是否是第一个测试工序；
[0008]若所述目标测试工序不是第一个测试工序，判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；
[0009]若所述内存条预设的存储位置存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，对所述内存条执行所述目标测试工序；
[0010]判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；
[0011]若所述内存条通过所述目标测试工序，判断所述目标测试工序是否是最后一个测试工序；
[0012]若所述目标测试工序不是最后一个测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
[0013]其进一步的技术方案为，所述方法还包括：
[0014]若所述目标测试工序是第一个测试工序，对所述内存条执行所述目标测试工序；判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；若所述内存条通过所述目标测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。
[0015]其进一步的技术方案为，所述方法还包括：
[0016]若所述目标测试工序是最后一个测试工序，输出测试结果。
[0017]其进一步的技术方案为，所述方法还包括：
[0018]若所述内存条预设的存储位置未存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，输出告警信息。
[0019]其进一步的技术方案为，所述存储器为所述内存条中用于存储所述内存条的SPD信息的EEPROM，所述将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，包括：
[0020]将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述EEPROM的SPD标志位中。
[0021]其进一步的技术方案为，所述判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，包括：
[0022]读取所述EEPROM的SPD标志位中的信息作为目标信息；
[0023]判断所述目标信息是否包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；
[0024]若所述目标信息包括所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，判定所述内存条预设的存储器存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息。
[0025]其进一步的技术方案为，所述测试序列的测试工序包括ET测试、MT测试、烧机测试以及SPD检测。
[0026]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种防止测试工序遗漏的内存条测试装置，其包括用于执行上述方法的单元。
[0027]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机设备，其包括存储器及处理器，所述存储器上存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述方法。
[0028]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序当被处理器执行时可实现上述方法。
[0029]本专利技术实施例提供了一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质。其中，所述方法包括：按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；判断所述目标测试工序是否是第一个测试工序；若所述目标测试工序不是第一个测试工序，判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；若所述内存条预设的存储位置存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，对所述内存条执行所述目标测试工序；判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；若所述内存条通过所述目标测试工序，判断所述目标测试工序是否是最后一个测试工序；若所述目标测试工序不是最后一个测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。本专利技术实施例由于在执行一个测试工序(第一个测试工序除外)之前，首先判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，即判断上一个测试工序是否执行完成；同时，在测试工序(最后一个测试工序除外)完成后，将该测试工序的标识信息储存到存储器中，从而能够有效避免测试工序的遗漏。
附图说明
[0030]为了更清楚地说明本专利技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0031]图1为本专利技术实施例提供的防止测试工序遗漏的内存条测试方法的流程示意图；
[0032]图2为本专利技术实施例提供的防止测试工序遗漏的内存条测试装置的示意性框图；
[0033]图3为本专利技术实施例提供的计算机设备的示意性框图。
具体实施方式
[0034]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0035]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0036]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0037]还应当本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，预设的测试序列中包括多个按顺序排列的测试工序，所述方法用于测试内存条，所述方法包括：按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；判断所述目标测试工序是否是第一个测试工序；若所述目标测试工序不是第一个测试工序，判断所述内存条预设的存储器是否存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息；若所述内存条预设的存储位置存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标识信息，对所述内存条执行所述目标测试工序；判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；若所述内存条通过所述目标测试工序，判断所述目标测试工序是否是最后一个测试工序；若所述目标测试工序不是最后一个测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。2.根据权利要求1所述的防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，所述方法还包括：若所述目标测试工序是第一个测试工序，对所述内存条执行所述目标测试工序；判断所述内存条是否通过所述目标测试工序；若所述内存条通过所述目标测试工序，将所述目标测试工序对应的标识信息写入所述存储器中，并转到所述按顺序从所述测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序的步骤。3.根据权利要求1所述的防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，所述方法还包括：若所述目标测试工序是最后一个测试工序，输出测试结果。4.根据权利要求1所述的防止测试工序遗漏的内存条测试方法，其特征在于，所述方法还包括：若所述内存条预设的存储位置未存储有所述目标测试工序的上一个测试工序对应的标...

【专利技术属性】
技术研发人员：李创锋，赵戈，张进剑，
申请(专利权)人：深圳市金泰克半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：