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本发明实施例公开了一种防止测试工序遗漏的内存条测试方法、装置、设备及介质，涉及内存条测试技术领域。方法包括：按顺序从测试序列中获取一测试工序作为目标测试工序；判断目标测试工序是否是第一个测试工序；若否，判断内存条预设的存储器是否存储有目标测...
该专利属于深圳市金泰克半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市金泰克半导体有限公司授权不得商用。

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