图像捕获装置及其图像缺陷校正方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种图像捕获装置及其图像缺陷校正方法，适用于具有第一镜头、第二镜头、对焦致动器以及预存第一对焦步数与对焦距离的对应关系的图像捕获装置，包括下列步骤。利用第一镜头以及第二镜头捕获多组图像，其中各所述组图像分别包括第一图像以及第二图像，所述组图像包括参考组图像。检测参考组图像是否发生图像缺陷。当检测到参考组图像发生图像缺陷时，根据各所述组图像所对应的对焦步数以及对焦距离，校正第一对焦步数与对焦距离的对应关系，其中各所述组图像所对应的对焦步数为对焦致动器移动第一镜头与第二镜头至对焦位置而产生各所述组图像所需的步数。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种图像捕获装置，且特别是有关于一种图像捕获装置及其图像 缺陷校正方法。
技术介绍
随着科技的发展，各式各样的智能图像捕获装置，例如平板型电脑、个人数字助 理、及智能手机等，已成为现代人不可或缺的工具。其中，高级款的智能图像捕获装置所搭 载的相机镜头已经与传统消费型相机不相上下，甚至可W取而代之，少数高级款还具有接 近数字单眼的画素和画质或是拍摄S维图像的功能。 一般而言，图像捕获装置在执行自动对焦程序的过程可W是通过步进马达 (SteppingMotor)、音圈马达（VoiceCoilMotor,简称；VCM)等对焦致动器（fo州sing actuator)移动镜头的方式达到对焦。因此，此类图像捕获装置在出厂前可预先求得目标物 的对焦距离与对焦致动器的移动步数（Step)的对应关系，汇整为一个对照表，并预存于图 像捕获装置中。如此一来，当图像捕获装置在对目标物执行自动对焦程序时，可依据目标物 的深度信息取得目标物的对焦距离，继而查询到对焦致动器所需移动的步数，并据此移动 镜头。然而，一般在使用者实际地使用上述图像捕获装置时，图像捕获装置往往会由于不慎 摔落、撞击、挤压、温度或湿度的变化等外在因素，而导致第一镜头、第二镜头W及对焦致动 器产生变形或移位，进而使得图像捕获装置在对物体进行拍摄时，在进行对焦程序时产生 误差。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种，其可随时检测 图像捕获装置的第一镜头、第二镜头W及对焦致动器是否产生变形或移位，并且随时对图 像捕获装置进行校正，W确保图像捕获装置的稳定品质。 本专利技术提出一种图像捕获装置的图像缺陷校正方法，适用于具有第一镜头、第二 镜头、对焦致动器W及预存第一对焦步数与对焦距离的对应关系的图像捕获装置，此图像 缺陷校正方法包括下列步骤。首先，利用第一镜头W及第二镜头捕获多组图像，其中各所述 组图像分别包括对应于第一镜头的第一图像W及对应于第二镜头的第二图像，所述组图像 包括参考组图像，参考组图像包括对应于第一镜头的第一参考图像W及对应于第二镜头的 第二参考图像。接着，检测参考组图像是否发生图像缺陷。当检测到参考组图像发生图像 缺陷时，根据各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦步数W及对焦距离，校正第一对 焦步数与对焦距离的对应关系，其中各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦步数为对 焦致动器移动第一镜头与第二镜头至对焦位置而产生各所述组图像所需的步数。 在本专利技术的一实施例中，上述检测参考组图像是否发生图像缺陷的步骤包括；检 测参考组图像中的特征点分别在第一参考图像W及第二参考图像的图像坐标；判断特征点 分别在第一参考图像与第二参考图像的图像坐标之间的偏移量是否超过一口槛值；若是， 则判断参考组图像发生图像缺陷。在本专利技术的一实施例中，上述检测参考组图像是否发生图像缺陷的步骤包括；针 对第一参考图像与第二参考图像进行=维深度估测，W产生参考组图像中的参考对焦目标 物的参考深度信息；根据参考深度信息取得参考对焦目标物所对应的对焦距离；判断参考 对焦目标物所对应的对焦步数W及对焦距离是否符合第一对焦步数与对焦距离的对应关 系；若否，则判断参考组图像发生图像缺陷。[000引在本专利技术的一实施例中，上述检测参考组图像是否发生图像缺陷的步骤包括；检 测第一参考图像W及第二参考图像是否失焦；当第一参考图像W及第二参考图像当中至少 一个失焦时，则判断参考组图像发生图像缺陷。 在本专利技术的一实施例中，当检测到参考组图像发生图像缺陷时，在根据各所述组 图像中的对焦目标物所对应的对焦步数W及对焦距离，校正第一对焦步数与对焦距离的对 应关系的步骤之前，上述的图像缺陷校正方法还包括下列步骤。检测该图像捕获装置的对 焦条件，其中对焦条件包括远景对焦条件W及近景对焦条件。 在本专利技术的一实施例中，当检测到参考组图像发生图像缺陷并且上述对焦条件为 远景对焦条件时，根据各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦步数W及对焦距离，校 正第一对焦步数与对焦距离的对应关系的步骤包括：记录各所述组图像中的对焦目标物所 对应的对焦步数；当各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦步数达到收敛值时，取得 第一对焦步数与对焦距离的对应关系中的最小对焦步数，并且计算最小对焦步数与收敛值 的差值，据W校正该第一对焦步数与对焦距离的对应关系。 在本专利技术的一实施例中，而当检测到参考组图像发生图像缺陷并且上述对焦条件 为近景对焦条件时，根据各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦步数W及对焦距离， 校正第一对焦步数与对焦距离的对应关系的步骤包括；针对各所述组图像进行=维深度估 巧U，W产生各所述组图像中的对焦目标物的深度信息；根据各所述深度信息，取得各所述组 图像中的对焦目标物所对应的对焦距离；根据各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦 距离W及对焦步数，进行回归运算，并且根据回归运算的结果，校正第一对焦步数与对焦距 离的对应关系。 在本专利技术的一实施例中，上述根据各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦距 离W及对焦步数，进行回归运算的步骤包括：将各所述组图像中的对焦目标物所对应的对 焦距离W及对焦步数设定为多个数据点；依据所述对焦距离，将所述数据点分类成多个邻 近数据群组；针对各所述邻近数据群组中的数据点进行加权平均运算，W产生对应于各所 述邻近数据群组的加权平均数据点；W及针对所述加权平均数据点进行回归运算。 本专利技术另提出一种图像捕获装置，包括第一镜头、第二镜头、对焦致动器、储存单 元W及一或多个处理单元，其中对焦致动器禪接第一镜头W及第二镜头，所述处理单元禪 接第一镜头、第二镜头、对焦致动器W及储存单元。储存单元用W记录多个模块W及第一 对焦步数与对焦距离的对应关系。所述处理单元用W存取并执行储存单元中记录的所述模 块。所述模块包括图像捕获模块、对焦模块、缺陷检测模块W及校正模块。图像捕获模块利 用第一镜头W及第二镜头捕获多组图像，其中各所述组图像分别包括对应于第一镜头的第 一图像W及对应于第二镜头的第二图像，所述组图像包括参考组图像，参考组图像包括对 应于第一镜头的第一参考图像W及对应于第二镜头的第二参考图像。对焦模块用W控制对 焦致动器移动第一镜头与第二镜头至对焦位置。缺陷检测模块用w检测参考组图像是否发 生图像缺陷。当缺陷检测模块检测到参考组图像发生图像缺陷时，校正模块根据各所述组 图像中的对焦目标物所对应的对焦步数W及对焦距离，校正第一对焦步数与对焦距离的对 应关系，其中各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦步数为对焦致动器移动第一镜头 与第二镜头至对焦位置而产生各所述组图像所需的步数。 在本专利技术的一实施例中，上述的缺陷检测模块检测参考组图像中的特征点分别在 第一参考图像W及第二参考图像的图像坐标，并且判断特征点分别在第一参考图像与第二 参考图像的图像坐标之间的偏移量是否超过口槛值。若是，则缺陷检测模块判断参考组图 像发生图像缺陷。 在本专利技术的一实施例中，上述的缺陷检测模块针对第一参考图像与第二参考图像 进行=维深度估测，W产生参考组图像中的参考对焦目标物的参考深度信息，再根据参考 深度信息取得参考对焦目标物所对应的对焦距离，并且判断参考对焦目标物所对应的对焦 步数W及对焦距离本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种图像捕获装置的图像缺陷校正方法，其特征在于，适用于具有第一镜头、第二镜头、对焦致动器以及预存第一对焦步数与对焦距离的对应关系的图像捕获装置，该图像缺陷校正方法包括：利用该第一镜头以及该第二镜头捕获多组图像，其中各所述组图像分别包括对应于该第一镜头的第一图像以及对应于该第二镜头的第二图像，所述组图像包括参考组图像，该参考组图像包括对应于该第一镜头的第一参考图像以及对应于该第二镜头的第二参考图像；检测该参考组图像是否发生图像缺陷；以及当检测到该参考组图像发生该图像缺陷时，根据各所述组图像中的对焦目标物所对应的对焦步数以及对焦距离，校正该第一对焦步数与对焦距离的对应关系，其中各所述组图像中的该对焦目标物所对应的对焦步数为该对焦致动器移动该第一镜头与该第二镜头至对焦位置而产生各所述组图像所需的步数。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：周宏隆，廖明俊，蔡庆隆，王煜智，罗梦麟，
申请(专利权)人：聚晶半导体股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71