本实用新型专利技术是一种晶体自动分选机，包括晶体振动盘和检测机构，所述检测机构设在晶体振动盘的下前方，晶体振动盘的出料口与检测机构之间通过倾斜的输送机构相连通，所述晶体输送轨道和晶体滑轨上沿其长度方向均设有对接的单个晶体滑槽；所述检测机构包括沿晶体滑槽方向设置、并与晶体的两个引脚配合的上探针和下探针，所述的上探针和下探针均设有针座和探针体，探针体装在针座上，所述探针体的针头与针座之间通过铜线导通。本实用新型专利技术通过晶体振动盘将晶体按序排列通过检测机构，检测机构的两个探针在气缸的作用下压在晶体引线上进行检测。为防止探针长期使用后探针体与针座接触不好，通过铜线将探针体的针头与针座导通即可。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种分选机，特别是一种晶体自动分选机。
技术介绍
晶体制作完后需要进行检测筛选，将达不到要求的晶体挑选出来。现在常人工手动进行检测，其检测效率低，费时费力。另外检测头上的探针长时间使用后，针头与针座之间会出现接触不良的现象，影响检测效果。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是针对现有技术的不足，提供一种设计合理，使用方便，能有效分选的晶体自动分选机。本技术所要解决的技术问题是通过以下的技术方案来实现的，本技术是一种晶体自动分选机，其特点是:包括晶体振动盘和检测机构，所述检测机构设在晶体振动盘的下前方，晶体振动盘的出料口与检测机构之间通过倾斜的输送机构相连通，所述的输送机构包括与晶体振动盘的出料口相接的晶体输送轨道，以及设在检测机构下方的晶体滑轨，所述的晶体滑轨的上端与晶体输送轨道下端相接，所述晶体输送轨道和晶体滑轨上沿其长度方向均设有对接的单个晶体滑槽；所述检测机构包括沿晶体滑槽方向设置、并与晶体的两个引脚配合的上探针和下探针，上探针和下探针固定在安装座上，所述安装座与驱动气缸相连，所述的上探针和下探针均设有针座和探针体，探针体装在针座上，所述探针体的针头与针座之间通过铜线导通。本技术所要解决的技术问题还可以通过以下的技术方案来进一步实现，所述的晶体自动分选机中:在晶体滑轨的单个晶体滑槽的上方设有挡条。本技术所要解决的技术问题还可以通过以下的技术方案来进一步实现，所述的晶体自动分选机中:在晶体滑轨的出料端设有挡料板，所述挡料板与挡料气缸相连。本技术所要解决的技术问题还可以通过以下的技术方案来进一步实现，所述的晶体自动分选机中:在晶体滑轨的下方设有储料盒，晶体滑轨的出料端通过滑板与储料盒相接。本技术通过晶体振动盘将晶体按序排列通过检测机构，检测机构的两个探针在气缸的作用下压在晶体引线上，进行检测，检测完后自动落入储料盒中。为防止探针长期使用后探针体与针座接触不好，通过铜线将探针体的针头与针座导通即可。与现有技术相比，其设计合理，结构简单，使用方便，节约了人力，提高了工作效率，并且提高了探针的使用寿命。【附图说明】图1是本技术的一种结构示意图。【具体实施方式】以下参照附图，进一步描述本技术的具体技术方案，以便于本领域的技术人员进一步地理解本专利技术，而不构成对其权利的限制。参照图1，一种晶体自动分选机，包括晶体振动盘8和检测机构，所述检测机构设在晶体振动盘8的下前方，晶体振动盘8的出料口与检测机构之间通过倾斜的输送机构相连通。所述的输送机构包括与晶体振动盘8的出料口相接的晶体输送轨道7，以及设在检测机构下方的晶体滑轨6，所述的晶体滑轨6的上端与晶体输送轨道7下端相接，所述晶体输送轨道7和晶体滑轨6上沿其长度方向均设有对接的单个晶体滑槽。在晶体输送轨道7和晶体滑轨6的单个晶体滑槽的上方均设有挡条5，挡条5可以防止晶体从晶体滑轨6中挤出。所述检测机构包括沿晶体滑槽方向设置、并与晶体的两个引脚配合的上探针4和下探针2，上探针4和下探针2固定在安装座上，所述安装座与驱动气缸相连，所述的上探针4和下探针2均设有针座和探针体，探针体装在针座上，所述探针体的针头与针座之间通过铜线3导通。上探针4和下探针2的结构为现有技术中常用的结构，因为针座内有弹簧，长时间使用探针体与针座会接触不浪，使用铜线3就可以使针座与探针体导通，延长上下探针的使用寿命。在晶体滑轨6的出料端设有挡料板9，所述挡料板9与挡料气缸相连。在晶体滑轨6的下方设有储料盒1，晶体滑轨6的出料端通过滑板与储料盒I相接。检测时，通过晶体振动盘8将晶体按序排列，依次通过晶体输送轨道7和晶体滑轨6滑下，通过挡料板9将晶体挡住，然后检测机构上的驱动气缸驱动上探针4和下探针2下降进行检测，检测完后挡料板9离开，使检测完的晶体落入到储料盒I中，挡料板9再次挡住下一个晶体，这样重复操作。【主权项】1.一种晶体自动分选机，其特征在于:包括晶体振动盘和检测机构，所述检测机构设在晶体振动盘的下前方，晶体振动盘的出料口与检测机构之间通过倾斜的输送机构相连通，所述的输送机构包括与晶体振动盘的出料口相接的晶体输送轨道，以及设在检测机构下方的晶体滑轨，所述的晶体滑轨的上端与晶体输送轨道下端相接，所述晶体输送轨道和晶体滑轨上沿其长度方向均设有对接的单个晶体滑槽；所述检测机构包括沿晶体滑槽方向设置、并与晶体的两个引脚配合的上探针和下探针，上探针和下探针固定在安装座上，所述安装座与驱动气缸相连，所述的上探针和下探针均设有针座和探针体，探针体装在针座上，所述探针体的针头与针座之间通过铜线导通。2.根据权利要求1所述的晶体自动分选机，其特征在于:在晶体输送轨道和晶体滑轨的单个晶体滑槽的上方设有挡条。3.根据权利要求1所述的晶体自动分选机，其特征在于:在晶体滑轨的出料端设有挡料板，所述挡料板与挡料气缸相连。4.根据权利要求1所述的晶体自动分选机，其特征在于:在晶体滑轨的下方设有储料盒，晶体滑轨的出料端通过滑板与储料盒相接。【专利摘要】本技术是一种晶体自动分选机，包括晶体振动盘和检测机构，所述检测机构设在晶体振动盘的下前方，晶体振动盘的出料口与检测机构之间通过倾斜的输送机构相连通，所述晶体输送轨道和晶体滑轨上沿其长度方向均设有对接的单个晶体滑槽；所述检测机构包括沿晶体滑槽方向设置、并与晶体的两个引脚配合的上探针和下探针，所述的上探针和下探针均设有针座和探针体，探针体装在针座上，所述探针体的针头与针座之间通过铜线导通。本技术通过晶体振动盘将晶体按序排列通过检测机构，检测机构的两个探针在气缸的作用下压在晶体引线上进行检测。为防止探针长期使用后探针体与针座接触不好，通过铜线将探针体的针头与针座导通即可。【IPC分类】B07C5-34【公开号】CN204470148【申请号】CN201520128870【专利技术人】王骥, 关维国, 朱木典, 朱柳典, 许萍, 白长庚 【申请人】江苏海峰电子有限公司【公开日】2015年7月15日【申请日】2015年3月6日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种晶体自动分选机，其特征在于：包括晶体振动盘和检测机构，所述检测机构设在晶体振动盘的下前方，晶体振动盘的出料口与检测机构之间通过倾斜的输送机构相连通，所述的输送机构包括与晶体振动盘的出料口相接的晶体输送轨道，以及设在检测机构下方的晶体滑轨，所述的晶体滑轨的上端与晶体输送轨道下端相接，所述晶体输送轨道和晶体滑轨上沿其长度方向均设有对接的单个晶体滑槽；所述检测机构包括沿晶体滑槽方向设置、并与晶体的两个引脚配合的上探针和下探针，上探针和下探针固定在安装座上，所述安装座与驱动气缸相连，所述的上探针和下探针均设有针座和探针体，探针体装在针座上，所述探针体的针头与针座之间通过铜线导通。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王骥，关维国，朱木典，朱柳典，许萍，白长庚，
申请(专利权)人：江苏海峰电子有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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