一种显示面板检测装置，包括：承载台用于承载显示面板，该显示面板包括相对设置的第一、第二基板，该第一基板面对该第二基板侧设置第一感测电极，该第二基板背离该第一基板侧设置第二感测电极，该第一、第二感测电极配合实现触控感测功能，该第一、第二基板上设置对准标记；图像传感器，用于获取该第一基板的对准标记图像；处理器，根据该第一基板的对准标记图像定义该显示面板的中心；该图像传感器分别根据该显示面板的中心获取该第一感测电极的第一图像与该第二感测电极的第二图像；该处理器根据该第一图像与第二图像的中心判断该第一感测电极与该第二感测电极是否对准。本发明专利技术还涉及一种显示面板的检测方法。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种。
技术介绍
具有触控功能的显示面板在智能手机、平板电脑等便携式电子设备得到广泛应 用。在电子设备薄形化的要求下，内嵌式（in-cell)触控显示面板因可进一步减小电子设 备的厚度而发展迅速。内嵌式触控显示面板通常相对设置的阵列基板与彩色滤光片基板， 而在阵列基板设置第一感测电极层，在彩色滤光片基板上设置第二感测电极层，该第一感 测电极层与该第二感测电极层配合实现触控感测功能。然在制造过程中如何检测该第一感 测电极层与该第二感测电极层是否对位准确是需要解决的问题。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种检测二电极层是否对位准确的检测装置及检测方 法。 -种显示面板检测装置，包括：一承载台用于承载显示面板，该显示面板包括相对 设置的第一、第二基板，该第一基板面对该第二基板侧设置第一感测电极，该第二基板背离 该第一基板侧设置第二感测电极，该第一、第二感测电极配合实现触控感测功能，该第一、 第二基板上设置对准标记；其特征在于：该显示面板检测装置进一步包括图像传感器及处 理器，该图像传感器获取该第一基板的对准标记图像；该处理器根据该第一基板的对准标 记图像定义该显示面板的中心，该图像传感器在同一聚焦面下分别根据该显示面板的中心 获取该第一感测电极的第一图像与该第二感测电极的第二图像；该处理器进一步根据该第 一图像与第二图像的中心判断该第一感测电极与该第二感测电极是否对准。 优选的，第一基板上任意三个角落处设置第一对准标记，该图像传感器根据该第 一对准标记获取该第一基板的对准标记图像。 优选的，该处理器通过调节该图像传感器的取像景深分别获取该第一感测电极的 第一图像与该第二感测电极的第二图像，且该图像传感器的取像景深根据该第一基板的厚 度确定。 优选的，该处理器获取该第一图像的几何中心与该第二图像的几何中心；且该处 理器在该显示面板的中心所定义的坐标系中计算该第一图像的几何中心相较于该第二图 像的几何中心的偏移量。 优选的，该显示面板检测装置还包括显示器，该处理器将该偏移量显示在该显示 器上。 优选的，当该偏移量不大于一预定范围时时，判定该显示面板为合格产品。 优选的，该预定范围为1. 5微米。 一种显示面板的检测方法，该显示面板包括相对设置的第一、第二基板，该第一基 板面对该第二基板侧设置第一感测电极，该第二基板背离该第一基板侧设置第二感测电 极，该第一、第二感测电极配合实现触控感测功能，该第一、第二基板上设置对准标记；该检 测方法包括： 获取该第一基板的对准标记图像； 根据该第一基板的对准标记图像定义该显示面板的几何中心； 分别根据该显示面板的中心获取该第一感测电极的第一图像与该第二感测电极的第 二图像；及 根据该第一图像与第二图像的中心判断该第一感测电极与该第二感测电极是否对准。 优选的，通过调节该图像传感器的取像景深分别获取该第一感测电极的第一图像 与该第二感测电极的第二图像，且该图像传感器的取像景深根据该第一基板的厚度确定。 优选的，获取该第一图像的几何中心与该第二图像的几何中心；且在该显示面板 的中心所定义的坐标系中计算该第一图像的几何中心相较于该第二图像的几何中心的偏 移量，当该偏移量不大于一预定范围时时，判定该显示面板为合格产品。 本专利技术的利用图像传感器即可实现第一感测电 极与第二感测电极是否对准的检测，本发的显示显示面板检测复发率及检测方法无需对显 示面板做改动且操作简单方便，提高了生产效率。【附图说明】 图1是本专利技术显示面板检测装置所检测显示面板的结构示意图。 图2是图1所示的显示面板的第一基板的对准标记设置示意图。 图3是图1所示的显示面板的第二基板的对准标记设置示意图。 图4是本专利技术显示面板检测装置一实施方式结构示意图。 图5是本专利技术显示面板检测方法一实施方式流程图。 主要元件符号说翌_【主权项】1. 一种显示面板检测装置，包括：一承载台用于承载显示面板，该显示面板包括相对 设置的第一、第二基板，该第一基板面对该第二基板侧设置第一感测电极，该第二基板背离 该第一基板侧设置第二感测电极，该第一、第二感测电极配合实现触控感测功能，该第一、 第二基板上设置对准标记；其特征在于：该显示面板检测装置进一步包括图像传感器及处 理器，该图像传感器获取该第一基板的对准标记图像；该处理器根据该第一基板的对准标 记图像定义该显示面板的中心，该图像传感器在同一聚焦面下分别根据该显示面板的中心 获取该第一感测电极的第一图像与该第二感测电极的第二图像；该处理器进一步根据该第 一图像与第二图像的中心判断该第一感测电极与该第二感测电极是否对准。2. 如权利要求1所述的显示面板检测装置，其特征在于，第一基板上任意三个角落处 设置第一对准标记，该图像传感器根据该第一对准标记获取该第一基板的对准标记图像。3. 如权利要求1所述的显示面板检测装置，其特征在于，该处理器通过调节该图像传 感器的取像景深分别获取该第一感测电极的第一图像与该第二感测电极的第二图像，且该 图像传感器的取像景深根据该第一基板的厚度确定。4. 如权利要求3所述的显示面板检测装置，其特征在于，该处理器获取该第一图像的 几何中心与该第二图像的几何中心；且该处理器在该显示面板的中心所定义的坐标系中计 算该第一图像的几何中心相较于该第二图像的几何中心的偏移量。5. 如权利要求4所述的显示面板检测装置，其特征在于，该显示面板检测装置还包括 显示器，该处理器将该偏移量显示在该显示器上。6. 如权利要求5所述的显示面板检测装置，其特征在于，当该偏移量不大于一预定范 围时时，判定该显示面板为合格产品。7. 如权利要求6所述的显示面板检测装置，其特征在于，该预定范围为1. 5微米。8. -种显示面板的检测方法，该显示面板包括相对设置的第一、第二基板，该第一基板 面对该第二基板侧设置第一感测电极，该第二基板背离该第一基板侧设置第二感测电极， 该第一、第二感测电极配合实现触控感测功能，该第一、第二基板上设置对准标记；该检测 方法包括： 获取该第一基板的对准标记图像； 根据该第一基板的对准标记图像定义该显示面板的几何中心； 分别根据该显示面板的中心获取该第一感测电极的第一图像与该第二感测电极的第 二图像；及 根据该第一图像与第二图像的中心判断该第一感测电极与该第二感测电极是否对准。9. 如权利要求8所述的显示面板检测装置，其特征在于，通过调节该图像传感器的取 像景深分别获取该第一感测电极的第一图像与该第二感测电极的第二图像，且该图像传感 器的取像景深根据该第一基板的厚度确定。10. 如权利要求9所述的显示面板检测装置，其特征在于，步骤"根据该第一图像与第 二图像的中心判断该第一感测电极与该第二感测电极是否对准"包括：获取该第一图像的 几何中心与该第二图像的几何中心；且在该显示面板的中心所定义的坐标系中计算该第一 图像的几何中心相较于该第二图像的几何中心的偏移量，当该偏移量不大于一预定范围时 时，判定该显示面板为合格产品。【专利摘要】一种显示面板检测装置，包括：承载台用于承载显示面板，该显示面板包括相对设置的第一、第二基板，该第一基板面对该第二基板侧设置第一感测电极，该第二基板背离该第一基板侧设置第二感测电极，该第一、第二感本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种显示面板检测装置，包括：一承载台用于承载显示面板，该显示面板包括相对设置的第一、第二基板，该第一基板面对该第二基板侧设置第一感测电极，该第二基板背离该第一基板侧设置第二感测电极，该第一、第二感测电极配合实现触控感测功能，该第一、第二基板上设置对准标记；其特征在于：该显示面板检测装置进一步包括图像传感器及处理器，该图像传感器获取该第一基板的对准标记图像；该处理器根据该第一基板的对准标记图像定义该显示面板的中心，该图像传感器在同一聚焦面下分别根据该显示面板的中心获取该第一感测电极的第一图像与该第二感测电极的第二图像；该处理器进一步根据该第一图像与第二图像的中心判断该第一感测电极与该第二感测电极是否对准。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：秦军平，郭赛锋，叶奕志，
申请(专利权)人：深超光电深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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