【技术实现步骤摘要】
本技术涉及材料生长的监测系统,尤其涉及基于分子束外延的材料生长原位监测装置。
技术介绍
随着时代的发展,各种高科技材料被应用于航空工业、电子信息技术产业、制造业等领域,同时,为了满足不同领域的使用要求,判断材料的特性也显得尤为重要。传统的材料监测方法中,采用红外高温计、反射高能电子衍射仪(reflection high-energy electron diffraction,RHEED)、实时温度测试仪(Bandit)等监测设备无法对生长材料的组份、表面粗糙度、折射率、吸收系数进行有效地监测研究,特别是对失配材料在生长时的应力演变过程,从而无法对材料生长的参数作实时调整,使外延层材料的质量无法提高。目前,为了解决对材料生长进行监测的问题,国外的公司基于分子束外延技术研发了一种监测装置,分子束外延(Molecular beam epitaxy,MBE)是使单晶材料生长的一种方法,该监测装置主要由德国的Laytec公司和美国的KSA公生产、垄断,而且都具有 ...
【技术保护点】
一种分子束外延的材料生长原位监测装置,其特征在于,包括激光光源模块(10)、接收模块(20)、数据处理模块(30)和分子束外延腔体(6),所述分子束外延腔体(6)内设置有用于监测的样品(5),所述激光光源模块(10)用于发射光束照射所述样品(5),经样品(5)反射后形成反射光束,被所述接收模块(20)接收,所述数据处理模块(30)与接收模块(20)连接,用于处理反射光束携带的信息。
【技术特征摘要】
1.一种分子束外延的材料生长原位监测装置,其特征在于,包括激光光源
模块(10)、接收模块(20)、数据处理模块(30)和分子束外延腔体(6),所述分子束
外延腔体(6)内设置有用于监测的样品(5),所述激光光源模块(10)用于发射光束
照射所述样品(5),经样品(5)反射后形成反射光束,被所述接收模块(20)接收,
所述数据处理模块(30)与接收模块(20)连接,用于处理反射光束携带的信息。
2.根据权利要求1所述的分子束外延的材料生长原位监测装置,其特征在
于,所述激光光源模块(10)包括激光器(11)、激光分束透镜(12)、准直透镜(13),
所述激光器(11)用于产生激光光束,激光光束经过所述激光分束透镜(12)后形成
阵列光束,阵列光束再经过所述准直透镜(13)形成平行光束。
3.根据权利要求1所述的分子束外延的材料生长原位监测装置,其特征在
于,所述分子束外延腔体(6)设有入光口(3)和出光口(4),所述入光口(3)与所述激
光光源模块(10)发射光束的位置对应,所述出光口(4)与接收模块(20)接收光束的
位置对应。
4.根据权利要求1所述的分子束外延的材料生长原位监测装置,其特征在
于,所述接收模块(20)包括图像传感器(21)和...
【专利技术属性】
技术研发人员:李宝吉,赵勇明,季莲,陆书龙,
申请(专利权)人:中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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