一种针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法技术

本发明专利技术公开了一种针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法，其特征在于，包括以下步骤：1、确定探索起始点；2、以探索起始点为中心，选取探索起始点前的j个数据点和探索起始点后的j个数据点构成滑动窗口；3、分别计算探索起始点前后子数据序列的回归系数kf(i)和kb(i)；4、寻找曲线斜率增量取得局部最大值的探索点；5、判定斜率突变点；6、寻找裂纹危险点。本发明专利技术的有益之处在于：将裂纹损伤定量识别转化为单监测通道内裂纹起始点和裂纹危险点识别，极大地降低了裂纹损伤识别的难度；可以准确判定裂纹起始点和裂纹危险点，从而确定结构裂纹损伤状况；可以满足结构损伤监测技术对裂纹损伤实时、在线识别的要求，算法简单、滞后时间短。

【技术实现步骤摘要】
一种针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法
本专利技术涉及一种裂纹损伤识别方法，具体涉及一种针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法，属于结构探伤

技术介绍
电阻性薄膜传感器是一种应用现代表面技术实现与结构一体化集成的功能梯度材料，具有优良的随附损伤特性。因此，可利用该特性综合应变监测原理和电位监测原理对结构疲劳裂纹损伤实施监测。中国专利《一种微米传感元及其制备方法和应用》(专利号：ZL200910248773.0，公开日：2011.06.29)提出了一种电阻性薄膜传感器—微米传感元的简单设计概念及其制备方法，并验证了微米传感元与金属结构基体形成结构功能一体化的可行性，但是，该专利未提出相应的实时裂纹损伤识别方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种算法简单、滞后时间短、能够极大地降低裂纹损伤识别的难度、针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法。为了实现上述目标，本专利技术采用如下的技术方案：一种针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、确定探索起始点：从监测数据点序列中选定第i个监测数据点作为探索起始点，探索起始点及其后面的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、确定探索起始点：从监测数据点序列中选定第i个监测数据点作为探索起始点，探索起始点及其后面的监测数据点构成探索点序列；(2)、构造滑动窗口：以探索起始点为中心，选取探索起始点前的j个监测数据点和探索起始点后的j个监测数据点构成滑动窗口，滑动窗口内子数据序列为{data(i‑j),…,data(i‑1),data(i),data(i+1),…,data(i+j)}，其中，j<i；(3)计算探索起始点前后曲线的斜率：对于滑动窗口中探索起始点及其之前的j个检测数据点对应的子数据序列{data(i‑j),…,data...

【技术特征摘要】
1.一种针对电阻性薄膜传感器的实时裂纹损伤识别方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)、确定探索起始点：从监测数据点序列中选定第i个监测数据点作为探索起始点，探索起始点及其后面的监测数据点构成探索点序列；(2)、构造滑动窗口：以探索起始点为中心，选取探索起始点前的j个监测数据点和探索起始点后的j个监测数据点构成滑动窗口，滑动窗口内子数据序列为{data(i-j),…,data(i-1),data(i),data(i+1),…,data(i+j)}，其中，j<i；(3)计算探索起始点前后曲线的斜率：对于滑动窗口中探索起始点及其之前的j个检测数据点对应的子数据序列{data(i-j),…,data(i-1),data(i)}，计算得到所述子数据序列{data(i-j),…,data(i-1),data(i)}的回归系数kf(i)；对于滑动窗口中探索起始点及其之后的j个检测数据点对应的子数据序列{data(i),data(i+1),…,data(i+j)}，计算得到所述子数据序列{data(i),data(i+1),…,data(i+j)}的回归系数kb(i)；(4)、寻找曲线斜率增量取得局部最大值的探索点：首先计算探索起始点前后曲线斜率增量△k(i)＝kf(i)-kb(i)，然后计算与探索起始点相邻的两个监测数据点前后曲线斜率增量△k(i-1)和△k(i+1)，若△k(i)...

【专利技术属性】
技术研发人员：何宇廷，侯波，崔荣洪，邓乐乐，杜金强，
申请(专利权)人：中国人民解放军空军工程大学，
类型：发明
国别省市：陕西;61