背光模组及测试方法技术

本发明专利技术公开了一种背光模组及测试方法，该背光模组包括一导光板、一光源组件及至少一测试模组。导光板具有一入光面。光源组件包括一基板及至少一发光元件。发光元件配置于基板上且朝向入光面。测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极。导电片配置于入光面上。第一及第二电极配置于基板上且对位于导电片。第一电极电连接于发光元件，第二电极适于电连接于一电源端。当第一及第二电极皆接触导电片时，发光元件与入光面之间的距离等于预定间距，且发光元件适于通过第一电极、导电片及第二电极而电连接于电源端并发光。

【技术实现步骤摘要】
背光模组及测试方法
本专利技术是有关于一种背光模组及测试方法，且特别是有关于一种包括测试模组的背光模组及适用于此背光模组的测试方法。
技术介绍
近年来，随着科技产业日益发达，数字化工具例如光学扫描器(opticalscanner)、智能型手机(smartphone)、数字相机(digitalcamera)、笔记本电脑(notebook)以及平板电脑(tabletPC)等产品的使用越来越普遍，并朝着便利、多功能且美观的设计方向进行发展，以提供使用者更多的选择。当使用者对数字产品的需求日渐提升，在这些产品中所使用的背光模组也成为设计改良的重点。以侧入式背光模组而言，其例如是通过发光二极管(lightemittingdiode，LED)发光元件与基板所组成的灯条(lightbar)作为光源组件，所述光源组件邻近导光板的入光面，使发光二极管发光元件发出的光线从导光板的入光面进入导光板。一般来说，发光二极管发光元件与导光板的入光面之间的距离必须符合预定间距，才能使背光模组具有良好的出光效率。然而，制造与组装公差可能会使发光二极管发光元件与导光板的入光面之间的距离不符合预定间距，因而影响背光模组的出光品质。已知利用定位件定位导光板与发光元件，但是因为能使背光模组具有良好出光效率的预定间距极小，因此容易在组装时因摩擦而产生细屑，造成难以排除的暗点，或是因施力过大或碰撞导致导光板或发光元件损坏。总之，组装背光模组时，仅凭肉眼难以精确地确认发光元件是否组装至定位，因此不是间距过大而影响出光品质，便是间距过小而导致元件损坏。目前并未有便宜简便而又精确的方式能检测导光板与发光元件的定位而提高背光模组的品质。
技术实现思路
本专利技术提供一种背光模组，可确保其发光元件与导光板的入光面之间的距离符合预定间距。本专利技术提供一种测试方法，可确保背光模组的发光元件与导光板的入光面之间的距离符合预定间距。本专利技术的背光模组包括一导光板、一光源组件及至少一测试模组。导光板具有一入光面。光源组件包括一基板及至少一发光元件，其中发光元件配置于基板上且朝向入光面。测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极。导电片配置于入光面上。第一电极及第二电极配置于基板上且对位于导电片，其中第一电极电连接于发光元件，第二电极适于电连接于一电源端。当第一电极及第二电极皆接触导电片时，发光元件与入光面之间的距离等于一预定间距，且发光元件适于通过第一电极、导电片及第二电极而电连接于电源端并发光。本专利技术的测试方法适用于一背光模组，背光模组包括一导光板及一光源组件，导光板具有一入光面，光源组件包括一基板及至少一发光元件，发光元件配置于基板上且朝向入光面。测试方法包括以下步骤。提供至少一测试模组，其中测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极，导电片配置于入光面上，第一电极及第二电极配置于基板上且对位于导电片，第一电极电连接于发光元件。将第二电极电连接于一电源端并观察发光元件是否发光。若发光元件发光，则判断第一电极及第二电极皆接触导电片且发光元件与入光面之间的距离等于一预定间距。若发光元件不发光，则判断第一电极及第二电极的至少其中之一未接触导电片且发光元件与入光面之间的距离不等于预定间距。基于上述，在本专利技术的背光模组中，导电片配置于导光板的入光面，第一电极及第二电极配置于光源组件的基板上并对位于导电片，且光源组件的发光元件适于通过第一电极、导电片及第二电极而电连接于电源端，因此可经由观察发光元件是否发光而得知第一电极及第二电极是否皆接触导电片。若第一电极及第二电极皆接触导电片而使发光元件接收来自电源端的电力并发光，则代表发光元件与导光板的入光面之间的距离符合预定间距，反之则否。据此，可以极低的成本而达成快速并确实地检测导光板及光源组件是否正确地组装而具有适当间距，以确保背光模组具有良好的出光品质。为让本专利技术的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所附图式作详细说明如下。附图说明图1a是本专利技术一实施例的背光模组的局部示意图。图1b是本专利技术另一实施例的背光模组的局部示意图。图2a是图1a的发光元件电连接于电源端的示意图。图2b是本专利技术又一实施例背光模组的发光元件电连接于电源端的示意图。图2c是图1b的发光元件电连接于电源端的示意图。图2d是本专利技术再一实施例背光模组的发光元件电连接于电源端的示意图。图3示出图2b的第一开关导通且该第二开关断开。图4是本专利技术一实施例的测试方法的流程图。具体实施方式图1a是本专利技术一实施例的背光模组的局部示意图。请参考图1a，本实施例的背光模组100包括一导光板110、一光源组件120及一第一测试模组130。导光板110具有一入光面110a，光源组件120包括一基板122及至少一发光元件124(示出为多个)，其中发光元件124例如为发光二极管发光元件且配置于基板122上并朝向导光板110的入光面110a。第一测试模组130包括一导电片132、一第一电极134及一第二电极136。导电片132配置于导光板110的入光面110a上，第一电极134及第二电极136配置于基板122上并对位于导电片132。本说明书与权利要求书中提到的“对位”的具体含义是指两物件面对面设置，例如上述“第一电极134及第二电极136配置于基板122上并对位于导电片132”，参见图1a可知，第一电极134及第二电极136面对导电片132而设置。图2a是图1a的发光元件电连接于电源端的示意图。请参考图2a，第一电极134电连接于发光元件124的阳极124a，第二电极136电连接于一电源端50的正极50a，发光元件124的阴极124b电连接于电源端50的负极50b。请参考图1a，在本实施例中，第一测试模组130邻近于入光面110a的一端，发光元件124位于入光面110a的两端之间。第一电极134沿垂直入光面110a的一方向D的厚度T1等于第二电极136沿方向D的厚度T2，且第一电极134沿方向D的厚度T1与导电片132沿方向D的厚度T3的总和等于发光元件124沿方向D的厚度T4与一预定间距G的总和。当第一电极134及第二电极136如图1a所示皆接触导电片132时，发光元件124与导光板110的入光面110a之间的距离等于上述预定间距G，且发光元件124适于通过第一电极134、导电片132及第二电极136而电连接于图2a所示的电源端50并发光。如此一来，可经由观察发光元件124是否发光而得知第一电极134及第二电极136是否皆接触导电片132。若第一电极134及第二电极136皆接触导电片132而使发光元件124接收来自电源端50的电力并发光，则代表发光元件124与导光板110的入光面110a之间的距离符合预定间距G，反之则否。据此，可快速并确实地检测导光板110及光源组件120是否正确地组装而具有适当间距，避免间隙过大或入射方向倾斜，同时也可避免组装背光模组时施力过大而造成导光板110或发光元件124损坏，以确保背光模组100具有良好的出光品质。请参考图2b，在另一实施例中背光模组100a的第一测试模组130a还包括第一开关140及第二开关150。发光元件124的阳极124a电连接于第一开关140的一端，电源端50的正极50a电连接于第一开关140的另一端。发光元件124本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种背光模组，包括具有一入光面的一导光板、一光源组件以及一第一测试模组，光源组件包括一基板及至少一发光元件，其中该发光元件配置于该基板上且朝向该入光面，该第一测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极，该导电片配置于该入光面上，该第一电极及该第二电极配置于该基板上且对位于该导电片，其中该第一电极电连接于该发光元件，该第二电极适于电连接于一电源端，当该第一电极及该第二电极皆接触该导电片时，该发光元件与该入光面之间的距离等于一预定间距，且该发光元件适于通过该第一电极、该导电片及该第二电极而电连接于该电源端并发光。

【技术特征摘要】
1.一种背光模组，包括具有一入光面的一导光板、一光源组件以及一第一测试模组，光源组件包括一基板及至少一发光元件，其中该发光元件配置于该基板上且朝向该入光面，该第一测试模组包括一导电片、一第一电极及一第二电极，该导电片配置于该入光面上，该第一电极及该第二电极配置于该基板上且对位于该导电片，其中该第一电极电连接于该发光元件，该第二电极适于电连接于一电源端，当该第一电极及该第二电极皆接触该导电片时，该发光元件与该入光面之间的距离等于一预定间距，且该发光元件适于通过该第一电极、该导电片及该第二电极而电连接于该电源端并发光。2.如权利要求1所述的背光模组，其特征在于，该第一电极沿垂直该入光面的一方向的厚度等于该第二电极沿该方向的厚度。3.如权利要求2所述的背光模组，其特征在于，该第一电极沿该方向的厚度与该导电片沿该方向的厚度的总和等于该发光元件沿该方向的厚度与该预定间距的总和。4.如权利要求1所述的背光模组，其特征在于，第一测试模组还包括一第一开关及一第二开关，其中该发光元件电连接于该第一开关的一端，该电源端电连接于该第一开关的另一端，该第二电极电连接于该第二开关的一端，该电源端电连接于该第二开关的另一端，当该第一开关导通且该第二开关断开时，该发光元件通过该第一开关而电连接于该电源端，当该第一开关断开且该第二开关导通时，该发光元件通过该第一电极、该导电片、该第二电极及该第二开关而电连接于该电源端。5.如权利要求1所述的背光模组，其特征在于，还包括一第二测试模组，该第二测试模组包括一导电片、一第三电极、一第四电极、一第三开关及一第四开关，该第一测试模组的该第一电极电连接于该发光元件的阳极，该第二测试模组的该第三电极电连接于该发光元件的阴极，该第一测试模组的该第二电极电连接于该电源端的正极，该第二测试模组的该第四电极电连接于该电源端的负极，其中该第二测试模组的导电片配置于该入光面上，该第三电极及该第四电极配置于该基板上且对位于该第二测试模组的导电片，其中该第三电极电连接于该发光元件，该第四电极适于电连接于一电源端，该发光元件电连接于该第三开关的一端，该电源端电连接于该第三开关的另一端，该第三电极电连接于该第四开关的一端，该电源端电连接于该第四开关的另一端。6.如权利要求5所述的背光模组，其特征在于，该第一...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜培生，
申请(专利权)人：苏州璨宇光学有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32