一种检测致密储层吸附态原油的吸附参数的方法及装置制造方法及图纸

技术编号:11520749 阅读:158 留言:0更新日期:2015-05-29 12:37
本发明专利技术提供一种检测致密储层吸附态原油的吸附参数的方法及装置,该方法包括:采集并生成测试岩样,测试并获取测试岩样的含油量W1;从测试岩样中钻取柱塞岩样进行覆压物性测试,获取孔隙度φ,并根据含油量W1及孔隙度φ获取含油饱和度So;对测试岩样进行洗油处理,生成洗油岩样;通过高压压汞法生成洗油岩样的孔径-孔体积分布曲线,根据含油饱和度So确定含油下限Rm;对洗油岩样进行纳米CT成像测试,确定孤立孔表面积Sc;将洗油岩样粉碎,利用N2吸附测试孔比面积分布,确定孔隙比表面积SN,并生成有效孔隙面积S;通过QCM-D仪器进行测试,生成吸附原油密度ρa及测试岩样的单位面积吸附量Ka;根据上述各参数最终生成测试岩样的吸附油量W及吸附油比例Wa。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种检测致密储层吸附态原油的吸附参数的方法,其特征在于,所述的方法包括:采集测试岩心,去掉所述测试岩心上的钻井液浸染带,生成测试岩样,测试并获取所述测试岩样的含油量W1及原油密度ρ;从所述测试岩样中钻取柱塞岩样进行覆压物性测试,获取所述测试岩样的孔隙度φ,根据所述孔隙度φ、含油量W1及原油密度ρ生成所述测试岩样的含油饱和度So,So=W1φ×ρ;]]>对所述测试岩样进行洗油处理,生成洗油岩样;通过高压压汞法测量所述洗油岩样的孔径分布情况及孔体积分布情况,生成所述洗油岩样的孔径‑孔体积分布曲线,根据所述孔径‑孔体积分布曲线及所述含油饱和度So确定所述测试岩样的含油下限Rm;对所述洗油岩样进行纳米CT成像测试,确定孔径大于所述含油下限Rm的孤立孔表面积Sc;将所述洗油岩样粉碎,利用N2吸附测试孔比面积分布,确定孔径大于所述含油下限Rm的孔隙比表面积SN;根据所述孤立孔表面积Sc及孔隙比表面积SN生成孔径大于所述含油下限Rm的有效孔隙面积S,S=SN‑Sc;利用QCM‑D仪器对所述测试岩样进行测试,生成吸附原油密度ρa、吸附层厚度h及所述测试岩样的单位面积吸附量Ka;根据所述的有效孔隙面积S、孔隙度φ、原油密度ρ及单位面积吸附量Ka生成所述测试岩样的吸附油量W及吸附油比例Wa,其中,W=S×Ka,Wa=S×Kaφ×So×ρ×100%.]]>...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:朱如凯崔景伟
申请(专利权)人:中国石油天然气股份有限公司
类型:发明
国别省市:北京;11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1