分离峰的基线调整方法和具有基线调整功能的色谱工作站技术

技术编号:11495597 阅读:181 留言:0更新日期:2015-05-21 19:42
本发明专利技术提供了一种分离峰的基线调整方法和具有基线调整功能的色谱工作站,所述方法包括:a1,连接分离峰的起点和落点,形成预备基线;步骤a2,判断是否存在基线贯穿,若是,则执行a3,若否,执行a4;a3,查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从分离峰的第一端点开始,在分离峰上逐点向分离峰的顶点靠近作为实验点,连接实验点与分离峰的第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,执行a4;其中,第一端点为起点,第二端点为落点;或者第一端点为落点,第二端点为起点;a4,将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。本发明专利技术能够减小对待测样品的分离峰进行定量分析时的误差,提高定量分析的准确性,并且省事省力。

【技术实现步骤摘要】
分离峰的基线调整方法和具有基线调整功能的色谱工作站
本专利技术涉及测试测量
,特别是涉及一种分离峰的基线调整方法和一种具有基线调整功能的色谱工作站。
技术介绍
目前业界的色谱仪都提供有色谱工作站,色谱工作站相当于一个上位机,一方面完成对下位机(即色谱仪)的控制,另一方面对下位机采集到的色谱数据进行分析处理,以达到对待测样品的定量分析。对待测样品的定量分析主要依赖于样品对应谱峰的峰面积或者峰高。谱峰的峰面积是指谱峰与基线所围成的面积,谱峰的峰高是指谱峰顶点到基线的距离。所以基线的位置将直接影响谱峰的峰面积及峰高,进而影响对待测样品定量分析的准确性,准确确定基线至关重要。按照分离度来划分,谱峰通常包括分离峰和融合峰这两种类型,分离峰是指两峰之间的分离度大于1.5的谱峰,分离峰为单一谱峰;融合峰是指峰与峰之间的分离度小于1.5的谱峰,融合峰包括两个或两个以上的谱峰。分离度是指两个相邻的谱峰的分离程度,是化学分析领域专有名词,也称分辨率。按照基线位置来划分,谱峰通常包括正峰和负峰这两种类型,正峰的顶点在基线以上,负峰的顶点在基线以下。对于分离峰,如图1(a)所示,为正分离峰(即分离峰为正峰)的谱图示意图;如图1(b)所示,为负分离峰(即分离峰为负峰)的谱图示意图,谱峰与基线所围成区域的面积就是分离峰的峰面积。现有的色谱工作站一般在完成谱峰识别后自动确定基线,如图1(a)和图1(b)所示,连接分离峰的起点A和落点(又称终点)B直接形成基线,图1(a)和图1(b)所示的分离峰与基线不存在贯穿。如果出现基线贯穿,工作站不进行自动调整,需要实验员手动调整。如图2(a)和图2(b)所示,为分离峰与基线贯穿时的示意图。基线贯穿时,正分离峰谱图的某些数据点的位置低于预备基线的位置,负分离峰谱图的某些数据点的位置高于预备基线的位置,在谱图上,基线与分离峰具有除起点A和落点B以外的其他交点,如图2(a)和图2(b)中的交点C1、C2,交点C1、C2称之为贯穿点。上述方法至少存在下述缺陷:1、色谱工作站自动确定基线后,如果出现基线贯穿而不进行调整,那么计算出的谱峰的峰面积及峰高不准确,进而影响对待测样品定量分析的准确性。2、如果出现基线贯穿后,由实验员手动进行基线调整,一方面,增加一个手动步骤,费时费力,给实验员的定量分析带来一定的麻烦;另一方面,手动确定谱峰的起点和落点的位置不准确,肯定会存在一定程度的误差,最终还会影响到定量分析的准确性。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是提供一种分离峰的基线调整方法和一种具有基线调整功能的色谱工作站,能够减小对待测样品的分离峰进行定量分析时的误差,提高定量分析的准确性;同时,解决手动调节基线费时费力的问题。本专利技术提供了一种分离峰的基线调整方法,包括如下步骤:步骤a1,连接分离峰的起点和落点,形成预备基线;步骤a2,判断所述分离峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则执行步骤a3,若否,则执行步骤a4;步骤a3,查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从分离峰的第一端点开始,在分离峰上逐点向分离峰的顶点靠近作为实验点,连接所述实验点与分离峰的第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,执行步骤a4;其中,所述第一端点为起点,所述第二端点为落点;或者所述第一端点为落点,所述第二端点为起点;步骤a4,将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。作为一个举例说明,本专利技术所述第一端点为所述起点,所述实验点为实验起点;所述步骤a3包括:查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述起点与所述顶点之间时,从所述起点开始,在分离峰上逐点向所述顶点递增作为实验起点,连接所述实验起点与落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,执行步骤a4。作为一个举例说明,本专利技术所述第一端点为所述落点,所述实验点为实验落点;所述步骤a3包括:查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述落点与所述顶点之间时,从所述落点开始,在分离峰上逐点向所述顶点递减作为实验落点,连接所述起点与实验落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,执行步骤a4。作为一个举例说明,本专利技术所述步骤a3还包括:查找分离峰上的贯穿点,当存在两个贯穿点,且一个贯穿点的位置在所述起点与所述顶点之间,另一个贯穿点的位置在所述落点与所述顶点之间时,获取分离峰上所述起点到所述顶点之间的第一极值点和所述落点到所述顶点之间的第二极值点;连接第一极值点和第二极值点,形成新的预备基线,并返回步骤a2。作为一个举例说明,本专利技术所述分离峰为正峰时,所述第一极值点为分离峰上所述起点到所述顶点之间的最低点,所述第二极值点为分离峰上所述落点到所述顶点之间的最低点。作为一个举例说明,本专利技术所述分离峰为负峰时,所述第一极值点为分离峰上所述起点到所述顶点之间的最高点,所述第二极值点为分离峰上所述落点到所述顶点之间的最高点。相应的,本专利技术还提供了一种具有基线调整功能的色谱工作站,包括:初始基线单元,用于连接分离峰的起点和落点,形成预备基线;贯穿判断单元,用于判断所述分离峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则触发基线更新单元,若否,则触发基线调整单元;基线更新单元,用于查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从分离峰的第一端点开始,在分离峰上逐点向分离峰的顶点靠近作为实验点,连接所述实验点与分离峰的第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元;其中,所述第一端点为起点,所述第二端点为落点;或者所述第一端点为落点,所述第二端点为起点;基线调整单元,用于将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。作为一个举例说明,本专利技术所述第一端点为所述起点,所述实验点为实验起点;所述基线更新单元用于查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述起点与所述顶点之间时,从所述起点开始,在分离峰上逐点向所述顶点递增作为实验起点,连接所述实验起点与落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元。作为一个举例说明,本专利技术所述第一端点为所述落点,所述实验点为实验落点;所述基线更新单元用于查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述落点与所述顶点之间时,从所述落点开始,在分离峰上逐点向所述顶点递减作为实验落点,连接所述起点与实验落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,触发基线调整单元。作为一个举例说明,本专利技术所述基线更新单元还用于查找分离峰上的贯穿点,当存在两个贯穿点,且一个贯穿点的位置在所述起点与所述顶点之间,另一个贯穿点的位置在所述落点与所述顶点之间时,获取分离峰上所述起点到所述顶点之间的第一极值点和所述落点到所述顶点之间的第二极值点;以及连接第一极值点和第二极值点,形成新的预备基线,并触发贯穿判断单元。作为一个举例说明,本专利技术所述分离峰为正峰时,所述第一极值点为分离峰上所述起点到所述顶点之间的最低点,所述第二极值点为分离峰上所述落点到所述顶点之间的最低点。作为一个举例说明,本专利技术所述分离峰为负峰时,所述第一极值点为分离峰上所述起点到所述顶点之间的最高点,所述第二极值点为分离峰上所述落点到所述顶点之间的最高点。与现有技术相比,本专利技术具有以下优点:本专利技术在分离峰与预备基线存在基线贯本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种分离峰的基线调整方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤a1,连接分离峰的起点和落点,形成预备基线;步骤a2,判断所述分离峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则执行步骤a3,若否,则执行步骤a4;步骤a3,查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从分离峰的第一端点开始,在分离峰上逐点向分离峰的顶点靠近作为实验点,连接所述实验点与分离峰的第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,执行步骤a4;其中,所述第一端点为起点,所述第二端点为落点;或者所述第一端点为落点,所述第二端点为起点;步骤a4,将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。

【技术特征摘要】
1.一种分离峰的基线调整方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤a1,连接分离峰的起点和落点,形成预备基线;步骤a2,判断所述分离峰与最新形成的预备基线之间是否存在基线贯穿,若是,则执行步骤a3,若否,则执行步骤a4;步骤a3,查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点时,从分离峰的第一端点开始,在分离峰上逐点向分离峰的顶点靠近作为实验点,连接所述实验点与分离峰的第二端点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,执行步骤a4;其中,所述第一端点为起点,所述第二端点为落点;或者所述第一端点为落点,所述第二端点为起点;步骤a4,将最新形成的预备基线作为调整后的实际基线。2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一端点为所述起点,所述实验点为实验起点;所述步骤a3包括:查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述起点与所述顶点之间时,从所述起点开始,在分离峰上逐点向所述顶点递增作为实验起点,连接所述实验起点与落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,执行步骤a4。3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一端点为所述落点,所述实验点为实验落点;所述步骤a3包括:查找分离峰上的贯穿点,当存在一个贯穿点且所述贯穿点的位置在所述落点与所述顶点之间时,从所述落点开始,在分离峰上逐点向所述顶点递减作为实验落点,连接所述起点与实验落点形成新的预备基线,直到不存在基线贯穿,执行步骤a4。4.如权利要求1至3任一项所述的方法,其特征在于,所述步骤a3还包括:查找分离峰上的贯穿点,当存在两个贯穿点,且一个贯穿点的位置在所述起点与所述顶点之间,另一个贯穿点的位置在所述落点与所述顶点之间时,获取分离峰上所述起点到所述顶点之间的第一极值点和所述落点到所述顶点之间的第二极值点;连接第一极值点和第二极值点,形成新的预备基线,并返回步骤a2。5.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述分离峰为正峰时,所述第一极值点为分离峰上所述起点到所述顶点之间的最低点,所述第二极值点为分离峰上所述落点到所述顶点之间的最低点。6.如权利要求4所述的方法,其特征在于,所述分离峰为负峰时,所述第一极值点为分离峰上所述起点到所述顶点之间的最高点,所述第二极值点为分离峰上所述落点到所述顶点之间的最高点。7.一种具有基线调整功能的色谱工作站,其特征在于,包...

【专利技术属性】
技术研发人员:王灿王悦王铁军李维森
申请(专利权)人:苏州普源精电科技有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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