一种用于MIMO-SAR近场测量成像方位向旁瓣抑制的方法技术

本发明专利技术公开了一种用于MIMO-SAR近场测量成像方位向旁瓣抑制的方法，该方法是对各通道数据加权来实现方位向旁瓣抑制，为了取得最优的旁瓣抑制效果，必须找到最优的通道权值向量wopt。wopt的求解过程如下：首先，将带有通道权值w的回波数据在方位向聚焦的过程进行分解，得到方位向点扩散函数表达式B＝Aw；其次，根据理想点扩散函数在主瓣处的值是1，旁瓣处的值是0，将向量w的求解转化为数学优化问题；最后，采用数学优化算法-凸优化算法求解得到最优通道权向量wopt，用最优的通道权值进行方位向旁瓣抑制的效果是最佳的。该方法既可用于求解均匀线性阵列，也可用于中间缺失阵元线阵的旁瓣抑制，同样适用于直线导轨扫描SAR等成像中的旁瓣抑制。

【技术实现步骤摘要】
一种用于MIMO-SAR近场测量成像方位向旁瓣抑制的方法
本专利技术涉及通信、微波成像、信号处理以及MIMO(Multi-InputMulti-Output)理论和数学优化求解问题的领域，具体涉及一种用于MIMO-SAR近场测量成像方位向旁瓣抑制的方法。
技术介绍
现有用于低可探测目标电磁散射诊断的成像测量雷达主要包括采用转台旋转目标测量的逆合成孔径雷达(ISAR)和采用直线导轨机械扫描测量的合成孔径雷达(SAR)成像系统。对于真实低可探测目标的散射特性诊断测量，ISAR成像需要构建专用的目标转台和支撑系统，通过转台的机械旋转合成成像孔径，实现对目标的方位高分辨率成像测量[参考文献1-3]；直线导轨扫描SAR成像则需要构建一段足够长的精密导轨，目标固定放置于雷达视线前方，雷达则沿导轨作机械扫描以合成直线孔径，从而实现对被测目标的方位高分辨率成像[参考文献4]。由于转台ISAR成像设备需要建立复杂、精密且庞大的大型目标转台，先进国家已装备用于低可探测目标使用现场目标散射诊断成像的测量雷达均采用导轨扫描SAR体制。此外，由于需要做机械旋转或扫描，上述两种测量体制的雷达对真实目标进行高分辨本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于MIMO‑SAR近场测量成像方位向旁瓣抑制的方法，其特征在于：该方法采用数学优化算法‑凸优化算法，求解MIMO‑SAR通道的最优权值wmn，然后用最优权值对MIMO‑SAR通道数据进行加权，实现方位向旁瓣抑制。

【技术特征摘要】
1.一种用于MIMO-SAR近场测量成像方位向旁瓣抑制的方法，其特征在于：该方法采用数学优化算法-凸优化算法，求解MIMO-SAR通道的最优权值wmn，然后用最优权值对MIMO-SAR通道数据进行加权，实现方位向旁瓣抑制；该方法的步骤具体为：首先确定聚焦点的方位角θq，接着对MIMO-SAR各通道的回波数据进行相位补偿，并对各通道用wmn进行加权，最后进行相干叠加，完成聚焦点的方位角θq的聚焦；其中，θq代表方位向第q个采样角度，q∈[1,2,…,Q]，方位向最小采样角度θ1，最大采样角度θQ；上述过程可以通过(8)式实现，为了求得加权系数将(8)式进行整理，分离出加权系数wmn得到(9)式，

【专利技术属性】
技术研发人员：刘永泽，许小剑，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：北京;11