本实用新型专利技术涉及一种漏电检测及保护电路，包括：电源输入，其特征在于，所述漏电检测及保护电路还包括：电源电路、漏电脱扣控制电路、漏电检测电路；其中：电源电路包括压敏电阻MYR，二极管D4、二极管D5、二极管D6、二极管D7，脱扣器L1，脱扣器L1放置于压敏电阻MYR之前；漏电脱扣控制电路包括电阻R2、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7，可控硅D2、可控硅D3，电容C3；漏电检测电路包括：并联连接的采样电阻R1、稳压二极管D1、π型滤波电路。抗干扰能力强，确保漏电信号稳定可靠；设计简单、抗电磁兼容特性高，同时成本低，适合批量生产。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及漏电检测及保护
，更具体地说，涉及一种漏电检测及保护电路。
技术介绍
传统的漏电保护电路中普遍采用漏电专用芯片(也称集成电路)或分励电路实现漏电保护。由于集成电路成本高、线路相对复杂，多用于要求较高的用电场所，常规还是以分励电路为主。由于分励电路很难可靠稳定的实现批量生产30mA漏电保护档，常用的处理方法是采用30mA档的集成电路代替分励电路；还有脱扣器放置在压敏电阻之后，导致整个电路的抗干扰能力差。因此，现有技术亟待有很大的进步。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述的缺陷，提供一种漏电检测及保护电路，包括:包括:电源输入，其特征在于，所述漏电检测及保护电路还包括:电源电路、漏电脱扣控制电路、漏电检测电路；其中:电源电路包括压敏电阻MYR，二极管D4、二极管D5、二极管D6、二极管D7，脱扣器LI，脱扣器LI放置于压敏电阻MYR之前；漏电脱扣控制电路包括电阻R2、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7，可控硅D2、可控硅D3，电容C3 ；漏电检测电路包括:并联连接的采样电阻R1、稳压二极管Dl、Ji型滤波电路。在本技术所述的一种漏电检测及保护电路中，所述型滤波电路进一步包括:包括电阻R3、电容C1、C2和二极管D5。实施本技术的一种漏电检测及保护电路，具有以下有益效果:本专利技术的漏电检测及保护电路:电源电路脱扣线圈LI放置于压敏电阻MYR之前，保护了压敏电阻MYR与可控硅D2、D3，提高了电路的抗干扰能力；漏电检测电路采用保护二极管D5和型滤波电路设计，确保漏电信号更加稳定可靠；漏电脱扣控制电路和漏电检测电路的有效匹配确保30mA漏电保护档更加可靠稳定的实现批量生产；整个电路设计简单、抗电磁兼容特性高，同时成本底非常适合批量生产。【附图说明】下面将结合附图及实施例对本技术作进一步说明，附图中:图1是本技术漏电检测及保护电路的第一实施例的电路原理图；图2是传统的漏电检测及保护电路原理图。【具体实施方式】请参阅图1，为本技术一种漏电检测及保护电路的第一实施例的电路原理图。如图1所示，在本技术第一实施例提供的一种漏电检测及保护电路中，至少包括，电源输入，其特征在于，所述漏电检测及保护电路还包括:电源电路、漏电脱扣控制电路、漏电检测电路；其中:电源电路包括压敏电阻MYR，二极管D4、二极管D5、二极管D6、二极管D7，脱扣器LI，脱扣器LI放置于压敏电阻MYR之前；漏电脱扣控制电路包括电阻R2、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7，可控硅D2、可控硅D3，电容C3 ;漏电检测电路包括:并联连接的采样电阻R1、稳压二极管Dl、JT型滤波电路。本技术提供的漏电检测及保护电路中，所述31型滤波电路进一步包括:包括电阻R3、电容Cl、C2和二极管D5。请结合参阅图2，为传统的漏电检测及保护电路原理图。采用漏电专用芯片也称集成电路或分励电路实现漏电保护。由于集成电路成本高、线路相对复杂，多用于要求较高的用电场所，常规还是以分励电路为主。由于分励电路很难可靠稳定的实现批量生产30mA漏电保护档，常用的处理方法是采用30mA档的集成电路代替分励电路；还有脱扣器放置在压敏电阻之后，导致整个电路的抗干扰能力差。本技术通过以上第一实施例的设计，其有益效果是:漏电检测及保护电路，电源电路脱扣线圈LI放置于压敏电阻MYR之前，保护了压敏电阻MYR与可控硅D2、D3，提高了电路的抗干扰能力；漏电检测电路采用保护二极管D5和型滤波电路设计，确保漏电信号更加稳定可靠；漏电脱扣控制电路和漏电检测电路的有效匹配确保30mA漏电保护档更加可靠稳定的实现批量生产；整个电路设计简单、抗电磁兼容特性高，同时成本底非常适合批量生产。本技术是根据特定实施例进行描述的，但本领域的技术人员应明白在不脱离本技术范围时，可进行各种变化和等同替换。此外，为适应本技术技术的特定场合，可对本技术进行诸多修改而不脱离其保护范围。因此，本技术并不限于在此公开的特定实施例，而包括所有落入到权利要求保护范围的实施例。【主权项】1.一种漏电检测及保护电路，包括:电源输入，其特征在于，所述漏电检测及保护电路还包括:电源电路、漏电脱扣控制电路、漏电检测电路；其中:电源电路包括压敏电阻MYR，二极管D4、二极管D5、二极管D6、二极管D7，脱扣器LI，脱扣器LI放置于压敏电阻MYR之前；漏电脱扣控制电路包括电阻R2、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7，可控硅D2、可控硅D3，电容C3 ;漏电检测电路包括:并联连接的采样电阻R1、稳压二极管Dl、JT型滤波电路。2.根据权利要求1所述的漏电检测及保护电路，其特征在于，所述型滤波电路进一步包括:包括电阻R3、电容C1、C2和二极管D5。【专利摘要】本技术涉及一种漏电检测及保护电路，包括：电源输入，其特征在于，所述漏电检测及保护电路还包括：电源电路、漏电脱扣控制电路、漏电检测电路；其中：电源电路包括压敏电阻MYR，二极管D4、二极管D5、二极管D6、二极管D7，脱扣器L1，脱扣器L1放置于压敏电阻MYR之前；漏电脱扣控制电路包括电阻R2、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7，可控硅D2、可控硅D3，电容C3；漏电检测电路包括：并联连接的采样电阻R1、稳压二极管D1、π型滤波电路。抗干扰能力强，确保漏电信号稳定可靠；设计简单、抗电磁兼容特性高，同时成本低，适合批量生产。【IPC分类】G01R31-02, H02H3-14【公开号】CN204333902【申请号】CN201520059428【专利技术人】余存泰, 肖义峰, 章火明, 李其利, 彭昆明 【申请人】长城电器集团有限公司【公开日】2015年5月13日【申请日】2015年1月28日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种漏电检测及保护电路，包括：电源输入，其特征在于，所述漏电检测及保护电路还包括：电源电路、漏电脱扣控制电路、漏电检测电路；其中：电源电路包括压敏电阻MYR，二极管D4、二极管D5、二极管D6、 二极管D7，脱扣器L1，脱扣器L1放置于压敏电阻MYR之前；漏电脱扣控制电路包括电阻R2、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7，可控硅D2、可控硅D3，电容C3；漏电检测电路包括：并联连接的采样电阻R1、稳压二极管D1、π型滤波电路。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：余存泰，肖义峰，章火明，李其利，彭昆明，
申请(专利权)人：长城电器集团有限公司，
类型：新型
国别省市：浙江;33
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