一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法。该装置包括至少一个被测设备接口和多个基站接口，所述基站接口分别通过同轴开关和衰减器与所述被测设备接口连接，所述衰减器包括至少一个可调衰减器。将各同轴开关置于关的位置；将被测设备连接到被测设备接口，将多个基站分别连接到各基站接口；使要测试的基站与被测设备之间的链路接通；调整各基站与被测设备之间链接上的可调衰减器，模拟出基站与被测设备之间信号强度的变化，使被测设备在各基站之间切换，完成IOT测试。本发明专利技术提高了测试准确度和测试效率，且实现简单、操作方便、成本低，而且还能对测试仪表进行必要的保护，避免因过热射频功率、直流瞬时和静电放电(ESD)而受到损坏。

【技术实现步骤摘要】
一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法
本专利技术涉及IOT(InteroperabilityTest，互操作测试)
，具体地说，是一种用于IOT的射频链路切换装置及测试方法。
技术介绍
IOT是多厂商运营环境形成的技术基础。只有完成Iu接口的IOT，才能保证不同厂家的无线接入网与核心网互联互通，也只有完成Uu接口的IOT，才能保证每一款手机与无线接入系统之间的互联互通。从世界上已经完成的3G设备选型中可以看出，有一个非常明显的趋势就是，同一运营商大多选择二至三家厂商的设备，来组建自己的3G网络，形成多厂商设备的运营环境。所以，不同厂商之间的IOT对3G时代就显得格外重要。IOT已经被摆在非常重要的战略地位，为此，国家相关部门也特意组织所有参加3G技术试验的系统厂家和手机厂家进行Uu/Iu接口的互操作IOT测试来验证各厂家系统之间以及手机与系统之间的互通性。现有技术中用于IOT的射频链路切换装置主要由国外少数厂家生产，生产周期长，而且受限程度大，价格昂贵，很难灵活的应用于不同的测试环境。现阶段IOT互操作测试主要使用先进的测试仪表，但是在对射频终端设备进行测试的过程中，针对不同的测试项目，需要搭载相应的射频链路以满足测试要求，同时在完成一项射频测试过程中也需要多条射频链路搭载。如果进行手动搭载测试链路，会引入测量误差，影响测试结果的准确性。而且现阶段终端切换装置功能单一，无法完成IOT项目的测试指标。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种实现简单、操作方便、成本低、误差小、效率高的用于IOT的射频链路切换装置及测试方法。为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种用于IOT的射频链路切换装置，包括至少一个被测设备接口和多个基站接口，所述基站接口分别通过同轴开关和衰减器与所述被测设备接口连接，所述衰减器包括至少一个可调衰减器。进一步地，所述同轴开关包括N个单路同轴开关、N个多路同轴开关和多个N路同轴开关，所述N为大于1的整数；其中，所述多个N路同轴开关的第一端分别对应连接所述多个基站接口，各N路同轴开关的第二端分别连接所述多路同轴开关的第一端；每个多路同轴开关的第二端对应连接一个单路同轴开关的第一端，各单路同轴开关的第二端均连接到所述被测设备接口，所述衰减器串接在所述多路同轴开关与单路同轴开关的连接线上。进一步地，所述同轴开关包括两个单路同轴开关、两个多路同轴开关和多个双路同轴开关，其中，所述多个双路同轴开关的第一端分别对应连接所述多个基站接口，各双路同轴开关的第二端分别连接到两个多路同轴开关的第一端；每个多路同轴开关的第二端对应连接一个单路同轴开关的第一端，各单路同轴开关的第二端均连接到所述被测设备接口。进一步地，所述衰减器有多个，其中包括至少一个固定衰减器和一个可调衰减器。进一步地，所述衰减器包括一个固定衰减器和两个可调衰减器。进一步地，还包括至少一个扩展接口，所述扩展接口通过单路开关与所述被测设备接口连接。进一步地，所述同轴开关和衰减器设置于标准4U机箱中，所述被测设备接口设置在所述标准4U机箱的前面板上，所述基站接口设置在所述标准4U机箱的后面板上。本专利技术还提供了一种利用上述射频链路切换装置进行IOT的方法，包括：将各同轴开关置于关的位置；将被测设备连接到被测设备接口，将多个基站分别连接到各基站接口；接通要测试的基站与被测设备之间的同轴开关，使要测试的基站与被测设备之间的链路接通；调整各基站与被测设备之间链接上的可调衰减器，模拟出基站与被测设备之间信号强度的变化，使被测设备在各基站之间切换，完成IOT测试。进一步地，所述多个基站来自多个厂家。本专利技术克服了现有技术在射频终端设备进行测试过程中，不同信号处理路径的搭建问题，将IOT所有指标的测试链路进行了系统集成。本专利技术的用于IOT的射频链路切换装置中，各个模块的性能参数、使用寿命以及安装方式不仅能够满足IOT标准及无线电设备测试中关于IOT终端测试的相关要求，而且还能对测试仪表进行必要的保护，避免因过热射频功率、直流瞬时和静电放电(ESD)而受到损坏。本专利技术提高了测试准确度和测试效率，且实现简单、操作方便、成本低。附图说明图1是本专利技术的用于IOT的射频链路切换装置的一实施例的架构原理图。具体实施方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步说明，以使本领域的技术人员可以更好地理解本专利技术并能予以实施，但所举实施例不作为对本专利技术的限定。本专利技术主要由各类同轴开关、衰减器、合路器以及阻抗匹配电阻组成，基站信号通过相关链路的处理后，将处理后的信号送入被测终端进行IOT互操作测试。本专利技术的用于IOT的射频链路切换装置，包括至少一个被测设备接口和多个基站接口，基站接口分别通过同轴开关和衰减器与被测设备接口连接，衰减器包括至少一个可调衰减器。具体地，同轴开关包括N个单路同轴开关、N个多路同轴开关和多个N路同轴开关，N为大于1的整数；其中，多个N路同轴开关的第一端分别对应连接多个基站接口，各N路同轴开关的第二端分别连接多路同轴开关的第一端；每个多路同轴开关的第二端对应连接一个单路同轴开关的第一端，各单路同轴开关的第二端均连接到被测设备接口，衰减器串接在多路同轴开关与单路同轴开关的连接线上。如图1所示，作为本专利技术的用于IOT的射频链路切换装置的一个实施例，该用于IOT的射频链路切换装置包括两个单路同轴开关K2-9和K2-11、两个多路同轴开关K10-1和K10-2，以及8个双路同轴开关K2-1至K2-8，其中，双路同轴开关K2-1至K2-8的第一端分别对应连接多个基站接口，各双路同轴开关K2-1至K2-8的第二端分别连接到两个多路同轴开关K10-1和K10-2的第一端，如图所示，双路同轴开关K2-1的一路连接到多路同轴开关K10-1，另一路连接到多路同轴开关K10-2，而其它双路同轴开关K2-2至K2-8的连接方式相同；每个多路同轴开关的第二端对应连接一个单路同轴开关的第一端，即多路同轴开关K10-1的第二端对应连接单路同轴开关K2-9的第一端，多路同轴开关K10-2的第二端对应连接单路同轴开关K2-10的第一端；各单路同轴开关的第二端均连接到被测设备接口。本实施例中具有10个基站接口，可以连接10个基站；具有1个被测设备接口，可以连接一个被测设备EUT。参见图1可知，本实施例具有10个基站接口，从而可以连接10个基站，而双路同轴开关只设置了8个，基站2至基站9分别对应连接到双路同轴开关K2-1至K2-8，而基站1和基站10分别直接连接到多路同轴开关K10-1和K10-2。这样可以节省两个双路同轴开关。当同时测试基站1和基站10时，接通相应链路即可；当需要测试基站1与基站2至基站8中任意一个时，只需要通过对应的双路同轴开关将该基站切换到多路同轴开关K10-2即可；当需要测试基站10与基站2至基站8中任意一个时，只需要通过对应的双路同轴开关将该基站切换到多路同轴开关K10-1即可；当需要测试基站2至基站8中任意两个时，只需要通过对应的双路同轴开关将两个基站分别切换到多路同轴开关K10-1和K10-2即可。当然，在其它实施例中，也可以为基站1和基站10分别配置一个双路同轴开关，从而提高搭建测试链路的灵活性。衰减器最好有多个，其中包括至少一个固定衰减器和一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于IOT的射频链路切换装置，其特征在于，包括至少一个被测设备接口和多个基站接口，所述基站接口分别通过同轴开关和衰减器与所述被测设备接口连接，所述衰减器包括至少一个可调衰减器。

【技术特征摘要】
1.一种用于IOT的射频链路切换装置，其特征在于，包括至少一个被测设备接口和多个基站接口，所述基站接口分别通过同轴开关和衰减器与所述被测设备接口连接，所述衰减器包括至少一个可调衰减器，所述同轴开关包括N个单路同轴开关、N个多路同轴开关和多个N路同轴开关，所述N为大于1的整数；其中，所述多个N路同轴开关的第一端分别对应连接所述多个基站接口，各N路同轴开关的第二端分别连接所述多路同轴开关的第一端；每个多路同轴开关的第二端对应连接一个单路同轴开关的第一端，各单路同轴开关的第二端均连接到所述被测设备接口，所述衰减器串接在所述多路同轴开关与单路同轴开关的连接线上。2.根据权利要求1所述的用于IOT的射频链路切换装置，其特征在于，所述同轴开关包括两个单路同轴开关、两个多路同轴开关和多个双路同轴开关，其中，所述多个双路同轴开关的第一端分别对应连接所述多个基站接口，各双路同轴开关的第二端分别连接到两个多路同轴开关的第一端；每个多路同轴开关的第二端对应连接一个单路同轴开关的第一端，各单路同轴开关的第二端均连接到所述被测设备接口。3.根据权利要求1所述的用于IOT的射频链路切换装置，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：陶洪波，姚红超，顾海亮，杨松，温和，
申请(专利权)人：国家无线电监测中心检测中心，天维讯达无线电设备检测北京有限责任公司，
类型：发明
国别省市：北京;11