【技术实现步骤摘要】
一种厚度测量系统
本技术涉及计量技术,特别是涉及一种厚度测量系统。
技术介绍
现有的厚度测量方式之一是采用X射线测厚仪,由于X射线的输出功率和穿透力是成正比的,所以要想穿透比重密度越大的被测物质其输出功率也就越大,这就导致在一些被测物比重很大的情况下,需要使用输出功率大的X射线才能够穿透被测物从而有效的进行数据采集和测量。 X射线的输出功率过大时会对操作者产生危害,因为长时间大剂量的X照射生物死亡率可以达到100%,但是如果为了安全降低其输出功率(国家环保局有相关规定)则无法达到正常检测量程的目地。
技术实现思路
本技术提供一种厚度测量系统,该系统既能保证被测产品的精度,也能降低X射线辐射。 本技术的技术方案为:一种厚度测量系统,包括至少两组具有不同量程范围的测量装置,其中至少有I组测量装置为X射线测量装置,X射线测量装置为小量程测量装置。各测量装置分别对被测产品进行测量。至少两组的测量装置按照现有技术的方式安装在被测产品旁,各测量装置之间不连接。各测量装置获得的测量数据,选取与测量装置测量量程对应测量数据为被测产品的厚度数据。 所述厚度测量系统具有I组X射线测量装置。 所述非X射线测量装置采用电磁测量装置或激光测量装置。 所述X射线测量装置的输出功率与最终产品的厚度相匹配。 所述厚度测量系统测量的被测产品是是在加工过程中厚度逐渐降低的产品。 所述X射线测量装置包括高压电源、X射线装置光管和电离室,高压电源与X射线装置光管电连接,电离室接收X射线装置光管发射的X射线。 所述厚度测量系统还包括控制器和显示装置,控制器根 ...
【技术保护点】
一种厚度测量系统,其特征在于,包括至少两组具有不同量程范围的测量装置,还包括控制器和显示装置,控制器分别与各组测量装置连接,控制器与显示器连接,控制器根据不同测量装置的测量范围选取相应落入测量范围的测量值显示在显示装置上;其中至少有1组测量装置为X射线测量装置,X射线测量装置为小量程测量装置。
【技术特征摘要】
1.一种厚度测量系统,其特征在于,包括至少两组具有不同量程范围的测量装置,还包括控制器和显示装置,控制器分别与各组测量装置连接,控制器与显示器连接,控制器根据不同测量装置的测量范围选取相应落入测量范围的测量值显示在显示装置上;其中至少有I组测量装置为X射线测量装置,X射线测量装置为小量程测量装置。2.根据权利要求1所述的厚度测量系统,其特征在于,所述厚度测量系统具有I组X射线测量...
【专利技术属性】
技术研发人员:赵刚,
申请(专利权)人:北京市东方瀚钇科技有限公司,
类型:新型
国别省市:北京;11
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