【技术实现步骤摘要】
具有过渡层的晶硅及锗化硅薄膜复合型单结PIN太阳能电池及其制备方法
本专利技术涉及晶硅及薄膜复合型太阳能电池,特别是具有过渡层结构的晶硅及锗化硅薄膜复合型单结PIN太阳能电池的结构设计及其制造方法。
技术介绍
自从法国科学家AE.Becquerel在1839年发现光电转换现象以后,1883年第一个以半导体硒为基片的太阳能电池诞生。1946年RuSSell获得了第一个太阳能电池的专利(US.2,402,662),其光电转换效率仅为1%。直到1954年,贝尔实验室的研究才发现了掺杂的硅基材料具有高的光电转换效率。这个研究为现代太阳能电池工业奠定了基础。在1958年,美国Haffman电力公司为美国的卫星装上了第一块太阳能电池板,其光电转换效率约为6%。从此,单晶硅及多晶硅基片的太阳能电池研究和生产有了快速的发展,2006年太阳能电池的产量已经达到2000兆瓦,单晶硅太阳能电池的光电转换效率达到24.7%,商业产品达到22.7%,多晶硅太阳能电池的光电转换效率达到20.3%,商业产品达到15.3%。另一方面,1970年苏联的ZhoresAlferov研制了第一个GaAs基的高效率Ⅲ-Ⅴ族太阳能电池。由于制备Ⅲ-Ⅴ族薄膜材料的关键技术MOCVD(金属有机化学气相沉积)直到1980年左右才被成功研发,美国的应用太阳能电池公司在1988年成功地应用该技术制备出光电转换效率为17%的GaAs基的Ⅲ-Ⅴ族太阳能电池。其后,以GaAs为基片的Ⅲ-Ⅴ族材料的掺杂技术,多级串联太阳能电池的制备技术得到了广泛的研究和发展,其光电转换效率在1993年达到19%,2000年达到24% ...
【技术保护点】
具有过渡层结构的晶硅及锗化硅薄膜复合型单结PIN太阳能电池,其特征是,选自以下太阳能电池结构之一:1)底电极/n层/n型硅晶片/过渡层/i‑A‑Si1‑xGex层/p‑A‑Si1‑xGex层/TCO/减反射膜;2)底电极/n层/n型硅晶片/过渡层/i‑μc‑Si1‑xGex层/i‑A‑Si1‑xGex层/p‑A‑Si1‑xGex层/TCO/减反射膜;3)底电极/n层/n型硅晶片/过渡层/p‑A‑Si1‑xGex层/TCO/减反射膜;4)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/i‑A‑Si1‑xGex层/p‑A‑Si1‑xGex层/TCO/减反射膜;5)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/i‑μc‑Si1‑xGex层/i‑A‑Si1‑xGex层/p‑A‑Si1‑xGex层/TCO/减反射膜;6)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/p‑A‑Si1‑xGex层/TCO/减反射膜;7)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/过渡层/i‑A‑Si1‑xGex层/p‑A‑Si1‑xGex层/TCO/减反射膜;8)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/过渡层/i‑μc‑Si1‑xGex层/i‑A‑Si1‑xGex层/p ...
【技术特征摘要】
1.具有过渡层结构的晶硅及锗化硅薄膜复合型单结PIN太阳能电池,其特征是,选自以下太阳能电池结构之一:1)底电极/n层/n型硅晶片/过渡层/组合物层/p-A-Si1-xGex层/TCO/减反射膜;2)底电极/n层/n型硅晶片/过渡层/组合物层/i-A-Si1-xGex层/p-A-Si1-xGex层/TCO/减反射膜;或底电极/n层/n型硅晶片/过渡层/i-μc-Si1-xGex层/组合物层/p-A-Si1-xGex层/TCO/减反射膜;3)底电极/n层/n型硅晶片/过渡层/p-A-Si1-xGex与p-A-SiC组合层/TCO/减反射膜;4)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/组合物层/p-A-Si1-xGex层/TCO/减反射膜;或底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/i-A-Si1-xGex层/组合物层/TCO/减反射膜;5)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/组合物层/i-A-Si1-xGex层/p-A-Si1-xGex层/TCO/减反射膜;或底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/i-μc-Si1-xGex层/组合物层/p-A-Si1-xGex层/TCO/减反射膜;6)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/p-A-Si1-xGex与p-A-SiC组合层/TCO/减反射膜;7)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/过渡层/组合物层/p-A-Si1-xGex层/TCO/减反射膜;8)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/过渡层/组合物层/i-A-Si1-xGex层/p-A-Si1-xGex层/TCO/减反射膜;或底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/过渡层/i-μc-Si1-xGex层/组合物层/p-A-Si1-xGex层/TCO/减反射膜;9)底电极/n层/过渡层/n型硅晶片/过渡层/p-A-Si1-xGex与p-A-SiC组合层/TCO/减反射膜;Si1-xGex中的x取值为0≤x≤1;所述过渡层为一层或者多层,其中任意一层均为富硅氧化硅层;所述富硅氧化硅层选自i-A-SiOx,i-μc-SiOx,n-A-SiOx,n-μc-SiOx中的任何一种,其中0≤x≤2;或者所述富硅氧化硅层选自n型梯度μc-SiOx和n型梯度A-SiOx,其中0≤x≤2,所述梯度是指:通过改变富硅氧化硅中x值从2逐步梯度变化到0,而氧化硅则从氧化硅——变化到富硅氧化硅层——再变化到硅层;其中,“/”表示两层之间的界面;n表示电子型(n型)半导体,i-表示本征半导体,P-表示空穴型(P型)半导体;A-表示非晶体,μc-表示微晶;组合物层是用i-μc-Si1-xGex与i-A-Si1-xGex两者按照按能隙梯度变化的组合,其中梯度变化是指:通过调节锗化硅中锗的值x从1逐步变化到0,而锗化硅逐渐从梯度锗化硅变化至硅层。2.根据权利要求1所述太阳能电池,其特征是,所述过渡层为两层,分别为n-A-SiOx和i-A-SiOx,靠近n型硅晶片的一层为n-A-SiOx。3.根据权利要求1所述太阳能电池,其特征是,所述过渡层的硅原子密度控制在2.2×1022/cm3~5.0×1022/cm3之间;折射率n为1.46≤n≤3.88;膜层厚度h为0.5nm≤h≤10nm;带隙Eg控制在1.12~9.0eV之间;相对介电常数ε为3.0≤ε≤11.7。4.根据权利要求1所述太阳能电池,其特征是,所述太阳能电池结构的第1)、2)、4)、5)、7)、8)种结构中的p-A-Si1-xGex层材料用p-A-SiC、或者用p-A-Si1-xGex与p-A-SiC的组合来替代,Si1-xGex中的x取值为0≤x≤1。5.根据权利要求1所述太阳能电池,其特征是,所述n层选自A-Si、μc-Si1-xGex和epi-Si1-xGex材料中的任一种或者按照按能隙梯度变化的两种的组合;epi-Si1-xGex中0≤x≤1,epi表示外延生长单晶;其中梯度变化是指:通过调节锗化硅中锗的值x从1逐步变化到0,而锗化硅逐渐从梯度锗化硅变化至硅层。6.根据权利要求1所述太阳能电池,其特征是,所述底电极选用透明导电膜或者铝。7.一种根据权利要求1-6任一项所述太阳能电池的制备方法,其特征是,包括过渡层的制备,所述过渡层的制备包括:先在n型硅晶片完成制绒、抛光及清洗后,再进行前氢化干燥处理;然后制作富硅氧化硅薄膜;最后进行后氢化处理过程;所述前氢化干燥处理为:使用氢气和氮气的混合气体或者氢气作为处理用气,其中混合气体的氢气/氮气体积比在0.1~100之间,前氢化干燥处理温度控制在30℃~350℃之间,前氢化干燥处理时间为1~60分钟;所述后氢化处理过程为:使用氢气和氮气的混合气体或者氢气作为处理用气,其中混合气体的氢气/氮气体积比在0.1~100之间;后氢化处理温度在140℃~1200℃之间,后氢化处理时间在1~3600秒之间。8.根据权利要求7所述太阳能电池的制备方法,其特征是,所述过渡层的制备具体选自以下三种方法之一:第①种方法的步骤为:1)使用氢气和氮气的混合气体或者氢气进行前氢化干燥处理:2)采用等离子体增强...
【专利技术属性】
技术研发人员:何湘衡,李廷凯,
申请(专利权)人:湖南共创光伏科技有限公司,
类型:发明
国别省市:湖南;43
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