单向可控硅极性识别设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种单向可控硅极性识别设备，包括分别串接有一个测试电源并相互并联的第一测试支路和第二测试支路，第一测试支路上串接有测试开关K1，第二测试支路上串接有测试指示器L1，两测试支路通过一个切换电路相互连接，切换电路用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。本实用新型专利技术的单向可控硅极性识别设备操作简单，检测快速、高效，在调节切换电路的过程中，通过切换电路所处的位置和指示器的状态即可分辨出被测单向可控硅的A、G、K极。

【技术实现步骤摘要】
单向可控硅极性识别设备
本技术属于电子测试
，涉及一种单向可控硅极性识别设备。
技术介绍
可控硅是可控硅整流器的简称。可控硅有单向、双向、可关断和光控几种类型，具有体积小、重量轻、效率高、寿命长、控制方便等优点，被广泛用于可控整流、调压、逆变以及无触点开关等各种自动控制和大功率的电能转换的场合。单向可控硅是一种可控整流电子元件，有阳极A、阴极K、控制极G三个引出脚。只有当单向可控硅阳极A与阴极K之间加有正向电压，同时控制极G与阴极间加上所需的正向触发电压时，方可被触发导通。单向可控硅导通后，控制器G即使失去触发电压，只要阳极A和阴极K之间仍保持正向电压，单向可控硅继续处于低阻导通状态。只有把阳极A电压拆除或阳极A、阴极K间电压极性发生改变(交流过零)时，单向可控硅才由低阻导通状态转换为高阻截止状态。 传统的单向可控硅极性判别方法是使用指针式万用表测量，先任测两个极，若正、反测指针均不动(RX 10挡)，可能是A、K或G、A极，当测量指示为几十至几百欧，则红笔所接为K极，黑笔接的为G极，剩下即为A极，该方法判别检测效率低、不准确，且具有一定的局限性。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种单向可控硅极性识别设备，以解决传统判别方法检测效率低、不准确且具有局限性的问题。 为了实现以上目的，本技术所采用的技术方案是:一种单向可控硅极性识别设备，包括分别串接有一个测试电源并相互并联的第一测试支路和第二测试支路，所述第一测试支路上串接有测试开关K1，第二测试支路上串接有测试指示器L1，两测试支路通过一个切换电路相互连接，所述切换电路用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。 所述第一测试支路上还并联有一个串接有连接指示器L2的测试连接指示支路。 所述切换电路为三刀三掷的切换开关K3，K3具有三个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，其中两个静触点分别与第一测试支路和第二测试支路的其中一端连接，第三个静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，各静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测弓I脚连接。 所述切换电路为四刀三掷的切换开关K3，K3具有四个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，所述第一静触点和第二静触点均与第一测试支路的其中一端连接，第三静触点用于与第二测试支路的其中一端连接，第四静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，第一静触点对应的动触点均与测试连接指示支路连接，第二、三、四静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测弓I脚连接。 所述第一测试支路和第二测试支路的短接点与K3的静触点之间设有控制开关K2。 所述第一测试支路和第二测试支路上分别串接有一个电位计。 所述测试连接指示支路上串接有保护电阻。 本技术的单向可控硅识别设备在使用过程中仅需将待识别可控硅的三个极的引脚随机地接到与切换开关的静触点连接的三个接线端子上，闭合测试开关K1，依次拨动切换开关，当测试指示灯L1和连接指示灯L2同时点亮时，将测试开关断开，观察测试指示灯L1是点亮还是熄灭，并结合切换开关所处的动触点接通的位置，则可判断出单向可控硅的极性排列。如果拨动切换开关，测试指示灯L1始终无法点亮，则说明单向可控硅已损坏。该识别设备操作简单，检测快速、高效，在扳动切换开关的过程中，通过切换开关所处的位置和指示灯的状态即可分辨出被测单向可控硅的A、G、K极。 本技术的单向可控硅极性识别设备操作简单，检测快速、高效，在调节切换电路的过程中，通过切换电路所处的位置和指示器的状态即可分辨出被测单向可控硅的A、G、K极。 【附图说明】 图1为本技术第一种实施例的电路图； 图2为本技术第二种实施例的电路图； 图3为本技术第三种实施例的电路图； 图4为本技术第四种实施例的电路图。 【具体实施方式】 下面结合附图及具体的实施例对本技术进行进一步介绍。 实施例1:如图1所示为本技术单向可控硅极性识别设备一种实施例的电路原理图，由图可知，该设备包括分别串接有一个测试电源并相互并联的第一测试支路和第二测试支路，第一测试支路上串接有测试开关K1，第二测试支路上串接有测试指示器L1，两测试支路通过一个切换电路相互连接，切换电路用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。 实施例2:如图2所示，本实施例的第一测试支路和第二测试支路上分别串接有一个电位计RP1、RP2。 另外，在第一测试支路上还并联有一个串接有连接指示器L2的测试连接指示支路，该测试连接指示支路上串接有保护电阻R1 ;第一测试支路和第二测试支路的短接点与切换电路之间设有控制开关K2，如图3和图4所示。 实施例3:本实施例的切换电路为三刀三掷的切换开关K3，K3具有三个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，其中两个静触点分别与第一测试支路和第二测试支路的其中一端连接，第三个静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，各静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测弓I脚连接。当然，本实施例的切换开关K3也可以采用三刀四掷开关，如图3所示，将各静触点对应的第四个动触点空置。 实施例4:本实施例的切换电路为四刀三掷的切换开关K3，K3具有四个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，第一静触点和第二静触点均与第一测试支路的其中一端连接，第三静触点用于与第二测试支路的其中一端连接，第四静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，第一静触点对应的动触点均与测试连接指示支路连接，第二、三、四静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。当然，本实施例的切换开关K3也可以采用四刀四掷开关，如图4所示，将各静触点对应的第四个动触点空置。 现以图4的实施例进行对本技术识别设备的电路结构及工作原理进行详细说明。 由图可知，该识别设备包括两个测试支路，第一测试支路上串接有测试电源P1、测试开关K1和电位计RP1，第二测试支路上串接有测试电源P2、测试指示灯L1和电位计RP2，第一测试支路上并联有测试连接指示支路，测试连接指示支路上串接有指示灯L2、保护电阻R1 ;切换电路采用四刀四掷的切换开关K3，第一测试支路和第二测试支路的短接点与K3的静触点之间设有控制开关K2 ;K1、K2均采用单刀单掷开关或者单刀双掷开关。 待测可控硅的三个待测引脚为X1、Χ2、Χ3 ;切换开关Κ3具有四个静触点A、B、C、D，其对应的四个静触点分别为Α1?Α4、Β1?Β4、C1?C4、D1?D4。Ρ1的正极接Κ1的A端，K1的A1端接RP1的1、2脚，K1的A2端空置；RP1的3脚接K3的A、B端；K3的Α1、Α2、A3 端接 R1 的 2 脚，Κ3 的 Β2、Β3、D1 端接 XI，Κ3 的 Bl、C3、D2 端接 Χ2, Κ3 的 Cl、C2、D3 端接Χ3，Κ3的Α4、Β4、C4、D4空置，Κ3的C端接所述的RP2的3脚，Κ3的D端接Κ2的Α1端；R1的1脚接L2的2脚；P1的负极接P2的负极、L2的1脚、K2的A端；P2的正极接L1的1脚；L1的2脚接RP2的1、2脚；K2的Α本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种单向可控硅极性识别设备，其特征在于：包括分别串接有一个测试电源并相互并联的第一测试支路和第二测试支路，所述第一测试支路上串接有测试开关K1，第二测试支路上串接有测试指示器L1，两测试支路通过一个切换电路相互连接，所述切换电路用于与待测可控硅的三个待测引脚连接。

【技术特征摘要】
1.一种单向可控硅极性识别设备，其特征在于:包括分别串接有一个测试电源并相互并联的第一测试支路和第二测试支路，所述第一测试支路上串接有测试开关K1，第二测试支路上串接有测试指示器L1，两测试支路通过一个切换电路相互连接，所述切换电路用于与待测可控硅的三个待测弓I脚连接。2.根据权利要求1所述的单向可控硅极性识别设备，其特征在于:所述第一测试支路上还并联有一个串接有连接指示器L2的测试连接指示支路。3.根据权利要求1所述的单向可控硅极性识别设备，其特征在于:所述切换电路为三刀三掷的切换开关K3，K3具有三个静触点，每个静触点分别有三个对应的动触点，其中两个静触点分别与第一测试支路和第二测试支路的其中一端连接，第三个静触点用于与第一测试支路和第二测试支路另一端的短接点连接，各静触点对应的三个动触点分别对应用于与待测可控硅的三个待测弓I脚连接。4.根据权利要求2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：喻波，李号召，吴晓鸣，盛军，韦双，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所，
类型：新型
国别省市：河南;41