液晶显示器及其测试电路制造技术

本发明专利技术提供一种液晶显示器及其测试电路。测试电路包含多个信号垫、第一数据分配器、多个逻辑电路单元以及N个开关。N为正整数。上述的信号垫用以接收测试数据信号、电位信号、致能信号以及多个第一切换控制信号。第一数据分配器将测试数据信号分配至第一数据分配器的N个输出端。每一逻辑电路单元依据所接收的电位信号、致能信号以及对应的第一切换控制信号，产生第二切换控制信号。每一开关依据对应逻辑电路单元所产生的第二切换控制信号，控制所耦接的第一数据分配器的输出端与所耦接的至少一数据线之间的电性连接。

【技术实现步骤摘要】
液晶显示器及其测试电路
本专利技术有关于一种液晶显示器及其测试电路，尤指一种窄边化的液晶显示器及其测试电路。
技术介绍
液晶显示器是目前最为普遍的显示器类型。在制造技术不断进步下，液晶显示器的面板的制造良率也随着提高。然而不可避免的，目前液晶显示器的面板的良率仍然无法到达百分之百。基于良率上的考量，在制造液晶显示面板的过程中，通常会加入检测机制以提高液晶显示面板的良率。请参考图1，图1为现有的液晶显示器100的示意图。液晶显示器100具有基板110、测试电路120、像素阵列140以及源极驱动电路150。源测试电路120、像素阵列140以及源极驱动电路150设置在基板110上。像素阵列140具有多个用以显示画面的像素，而像素阵列140所在的区域一般可称为主动区域(ActiveArea)。测试电路120和源极驱动电路150设置在基板110的外引脚接合(outerleadbonding；OLB)区，其中源极驱动电路150用以驱动像素阵列140的像素。测试电路120具有多个信号垫，用以输入测试信号，以进行阵列测试(arraytest)。然而，因测试电路120和源极驱动电路150皆设置在基板110的OLB区，故并不适合液晶显示器的窄边化的设计趋势。
技术实现思路
本专利技术的一实施例提供一种液晶显示器的测试电路。测试电路包含多个信号垫、第一数据分配器、多个逻辑电路单元以及N个开关。上述的多个信号垫用以接收输入测试数据信号、电位信号、致能信号以及多个第一切换控制信号。第一数据分配器耦接至上述的多个信号垫，用以将测试数据信号分配至第一数据分配器的N个输出端，其中N为正整数。上述的多个逻辑电路单元耦接至上述的多个信号垫，每一逻辑电路单元依据所接收的电位信号、致能信号以及上述的多个第一切换控制信号中的一对应的第一切换控制信号，产生第二切换控制信号。上述N个开关中的每一开关耦接于第一数据分配器的一个输出端与液晶显示器的至少一数据线之间，并依据上述的多个逻辑电路单元中的一对应的逻辑电路单元所产生的第二切换控制信号，控制所耦接的输出端与所耦接的至少一数据线之间的电性连接。本专利技术的一实施例提供一种液晶显示器，其包含基板、像素阵列、测试电路以及源极驱动电路。像素阵列形成于基板，并包含多个像素以及多条数据线。上述的多个像素以阵列方式排列，而上述多条数据线耦接于上述的多个像素。测试电路包含多个信号垫、第一数据分配器、多个逻辑电路单元以及N个开关。上述的多个信号垫用以接收测试数据信号、电位信号、致能信号以及多个第一切换控制信号。第一数据分配器耦接至上述的多个信号垫，用以将测试数据信号分配至第一数据分配器的N个输出端，其中N为正整数。上述的多个逻辑电路单元耦接至上述的多个信号垫，每一逻辑电路单元依据所接收的电位信号、致能信号以及上述的多个第一切换控制信号中的一对应的第一切换控制信号，产生第二切换控制信号。上述N个开关中的每一开关耦接于第一数据分配器的一个输出端与像素阵列的至少一数据线之间，并依据上述的多个逻辑电路单元中的一对应的逻辑电路单元所产生的第二切换控制信号，控制所耦接的输出端与所耦接的至少一数据线之间的电性连接。源极驱动电路用以产生并输出操作数据信号至上述的多个像素。附图说明图1为现有的液晶显示器的示意图。图2为本专利技术一实施例的液晶显示器的示意图。图3为图2的像素阵列的电路图。图4至7分别为本专利技术一实施例的逻辑电路单元的电路图。图8A至8E及图9A至9E分别为本专利技术一实施例的开关单元的电路图。图10为本专利技术一实施例的液晶显示器的示意图。其中，附图标记：100、500液晶显示器110、510基板120、520、620测试电路140、540、640像素阵列501、601第一区502、602第二区521信号垫522第一数据分配器526第二数据分配器542数据线150、550、650源极驱动电路530、530A至530C逻辑电路单元532_N、532_N1至532_N5开关单元532_P、532_P1至532_P5开关单元544扫描线546像素A、B、C端点AT_SW致能信号A1至OP、AP+1至AN输入端B1至BP、BP+1至BN输出端CTRL控制信号D1至DN、D1至DQ、DQ+1至DM操作数据信号O1至OP、OP+1至ON输出端Q开关QNNPN型晶体管QPPNP型晶体管SD测试数据信号SWL_1至SWL_K、SWR_1至SWR_K切换控制信号；第一切换控制信号YL_1至YL_K、YR_1至YR_K第二切换控制信号VGL电位信号具体实施方式请参考图2及图3。图2为本专利技术一实施例的液晶显示器500的示意图，而图3为图2的像素阵列540的电路图。液晶显示器500包含基板510、测试电路520、像素阵列540以及源极驱动电路550。测试电路520设置于基板510的第一区501，源极驱动电路550设置于基板510的第二区502，而像素阵列540位于第一区501及第二区502之间。像素阵列540形成于基板510，并包含多个像素546、多条数据线542以及多条扫描线544。像素546以阵列方式排列，用以显示画面，而每一个像素546耦接于一条对应的数据线542以及一条对应的扫描线544。测试电路520则包含多个信号垫521、第一数据分配器522、多个逻辑电路单元530以及N个开关Q，其中N为正整数。信号垫521用以接收测试数据信号SD、电位信号VGL、致能信号AT_SW以及多个第一切换控制信号SWL_1至SWL_K及SWR_1至SWR_K。第一数据分配器522耦接至信号垫521，用以将测试数据信号SD分配至第一数据分配器522的N个输出端O1至ON。逻辑电路单元530耦接至信号垫521，每一逻辑电路单元530依据所接收的电位信号VGL、致能信号AT_SW以及上述的多个第一切换控制信号SWL_1至SWL_K及SWR_1至SWR_K中的一对应的第一切换控制信号，产生第二切换控制信号YL_1至YWL_K、YR_1至YR_K中的一第二切换控制信号。每一开关Q耦接于第一数据分配器522的输出端O1至ON当中的一个输出端与像素阵列540的数据线542之间，每个开关Q依据上述的多个逻辑电路单元530中的一对应的逻辑电路单元530所产生的第二切换控制信号(YL_1至YL_K及YR_1至YR_K其中之一)，控制所耦接的输出端(O1至ON其中之一)与所耦接的数据线542之间的电性连接。当任一开关Q被开启时，即可对此一被开启的开关Q所耦接的像素进行测试。虽然在此实施例中，每一个开关Q系耦接一条数据线542，但本专利技术的其他实施例中亦可将每一个开关Q耦接至多条数据线542，而可在开启单一个开关Q的情况下，同时藉由多条数据线542对像素进行测试。此外，源极驱动电路550用以产生操作数据信号D1至DN，并藉由数据线542将操作数据信号D1至DN输出至像素546。需了解地，极驱动电路550与测试电路520在操作上互不冲突，这是因为测试电路520用以在制造液晶显示器500的过程中对液晶显示器500的薄膜晶体管进行阵列测试(arraytest)，而当完成液晶显示器500的制造后，测试电路520就会被失能(disabled)。源极驱动电路550则是用以当液晶显示器500完成制造后，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种液晶显示器的测试电路，其特征在于，该测试电路包含：多个信号垫，用以接收一测试数据信号、一电位信号、一致能信号以及多个第一切换控制信号；一第一数据分配器，耦接至该些信号垫，用以将该测试数据信号分配至该第一数据分配器的N个输出端，其中N为正整数；多个逻辑电路单元，耦接至该些信号垫，每一该些逻辑电路单元依据所接收的该电位信号、该致能信号以及该些第一切换控制信号中的一对应的第一切换控制信号，产生一第二切换控制信号；以及N个开关，每一开关耦接于该第一数据分配器的一个输出端与该液晶显示器的至少一数据线之间，并依据该些逻辑电路单元中的一对应的逻辑电路单元所产生的该第二切换控制信号，控制所耦接的该输出端与所耦接的该至少一数据线之间的电性连接。

【技术特征摘要】
2014.11.27 TW 1031412681.一种液晶显示器的测试电路，其特征在于，该测试电路包含：多个信号垫，用以接收一测试数据信号、一电位信号、一致能信号以及多个第一切换控制信号；一第一数据分配器，耦接至该些信号垫，用以将该测试数据信号分配至该第一数据分配器的N个输出端，其中N为正整数；多个逻辑电路单元，耦接至该些信号垫，每一该逻辑电路单元依据所接收的该电位信号、该致能信号以及该些第一切换控制信号中的一对应的第一切换控制信号，产生一第二切换控制信号；以及N个开关，每一开关耦接于该第一数据分配器的一个输出端与该液晶显示器的至少一数据线之间，并依据该些逻辑电路单元中的一对应的逻辑电路单元所产生的该第二切换控制信号，控制所耦接的该输出端与所耦接的该至少一数据线之间的电性连接。2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，另包含一第二数据分配器，包含N个输入端及M个输出端，其中M为大于N的正整数，该第二数据分配器的每一输入端耦接于上述N个开关中的一个开关，该第二数据分配器的每一输出端耦接于该液晶显示器的多条数据线中的一条数据线，该第二数据分配器用以将来自上述N个输入端的该测试数据信号分配至上述M个输出端。3.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，该液晶显示器另包含：一基板；一像素阵列，形成于该基板，并包含：多个像素，以阵列方式排列；以及多条数据线，耦接于该些像素；以及一源极驱动电路，用以产生并输出操作数据信号至该些像素；其中该测试电路设置于该基板的一第一区，该源极驱动电路设置于该基板的一第二区，而该像素阵列位于该第一区及该第二区之间。4.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，该些信号垫还用以接收一控制信号，而每一该逻辑电路单元依据所接收的该控制信号、该电位信号、该致能信号以及该对应的第一切换控制信号，产生该第二切换控制信号。5.如权利要求4所述的测试电路，其特征在于，该致能信号于一第一准位及一第二准位切换，而使得每一该逻辑电路单元所产生的该第二切换控制信号为该对应的第一切换控制信号或为该控制信号。6.如权利要求1、2、3或4所述的测试电路，其特征在于，该致能信号于一第一准位及一第二准位切换，而使得每一该逻辑电路单元所产生的该第二切换控制信号为该对应的第一切换控制信号或为该电位信号。7.如权利要求1、2、3、4或5所述的测试电路，其特征在于，每一该逻辑电路单元具有多个晶体管，而每...

【专利技术属性】
技术研发人员：林男颖，傅春霖，丁友信，
申请(专利权)人：友达光电股份有限公司，
类型：发明
国别省市：中国台湾;71