降低玻璃片中的变形的方法技术

描述了一种降低玻璃片中的变形的方法，所述方法包括以下步骤：在玻璃制造过程中形成玻璃带；从玻璃带分离玻璃片，所述玻璃片具有基本平坦的表面；测量通过玻璃片表面的延迟；定义表征玻璃片延迟的延迟参数；将玻璃片切割成多个子片；测量子片的变形；定义表征子片变形的变形参数；以及确定延迟参数和变形参数之间的相关性，使得可以基于该相关性来预测后续玻璃片的子片的变形参数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】本申请要求2012年5月31日提交的美国专利申请系列第13/485301号的优先权，其全文通过引用结合入本文。
本专利技术一般地涉及玻璃基材，更具体地涉及用于显示器制造过程中的玻璃基材产品。专利技术背景用于液晶显示器(LCD)器件生产中的玻璃基材的物理尺寸仅允许小的误差空间，因为器件中组件的不对准会导致视觉可检测的缺陷，这导致产品对于消费者是不可接受的。会引起这种缺陷的一个因素是在制造玻璃母片过程中固定在玻璃片中的应力，这导致从玻璃母片切割的子片的变形。随着玻璃片尺寸的增大，这种变形被发生恶化。但是，在玻璃制造商制造玻璃母片中，这些将来的变形是不易觉察的。因此，存在对于确定和降低变形的方法需求，所述变形会在子片中由于玻璃母片中存在的应力所展现出来。
技术实现思路
在一个示例性方面，提供了一种降低玻璃片中的变形的方法。所述方法包括以下步骤：在玻璃制造过程中形成玻璃带；从玻璃带分离玻璃片，所述玻璃片具有基本平坦的表面；测量通过玻璃片表面的延迟；定义表征玻璃片延迟的延迟参数；将玻璃片切割成多个子片；测量子片的变形；定义表征子片变形的变形参数；确定延迟参数和变形参数之间的相关性，使得可以基于该相关性来预测后续玻璃片的子片的变形参数；以及改变玻璃制造工艺，从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节，从而降低来自后续玻璃片的子片的变形。在所述示例性方面的一个例子中，使得变形参数保持以预定的概率低于特定值。在所述示例性方面的另一个例子中，测量子片的变形的步骤包括测量面内变形，所述面内变形定义为在切割步骤之前和之后，沿着子片的平面的第一组点的偏移。在所述示例性方面的另一个例子中，变形参数等于所述第一组点测得的面内变形的最大值。在所述示例性方面的另一个例子中，测量延迟的步骤包括测量表面上的第二组点的延迟，所述延迟参数是第二组点的延迟的平均值。在另一个示例性方面，提供了一种降低玻璃中的变形的方法。所述方法包括以下步骤：在玻璃制造过程中形成玻璃带；从玻璃带分离玻璃片，所述玻璃片具有基本平坦的表面；测量通过玻璃片表面的延迟；定义表征玻璃片延迟的延迟参数；将玻璃片切割成多个子片；测量子片的变形；定义表征子片变形的变形参数；以及确定延迟参数和变形参数之间的相关性，使得可以基于该相关性来预测后续玻璃片的子片的变形参数。在所述另一个示例性方面的一个例子中，所述方法还包括利用延迟参数和变形参数之间的相关性，来预测后续玻璃片的子片的变形参数的步骤。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，所述方法还包括如下步骤：改变玻璃制造工艺，从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节，从而降低来自后续玻璃片的子片的变形。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，使得变形参数保持以预定的概率低于特定值。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，所述方法还包括在测量延迟的步骤之前使得玻璃片平坦化的步骤；以及在测量变形的步骤之前使得各个子片平坦化的步骤。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，所述确定步骤包括采用最小二乘回归法制定等式。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，测量子片的变形的步骤包括测量面内变形，所述面内变形定义为在切割步骤之前和之后，沿着子片的平面的点的偏移。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，测量子片的面内变形的步骤包括测量子片上的第一组点的面内变形。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，变形参数等于所述第一组点测得的面内变形的最大值。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，所述方法还包括如下步骤：改变玻璃制造工艺，从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节，从而降低来自后续玻璃片的子片的变形；以及使得最大面内变形保持以预定的概率低于特定值。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，变形参数等于所述第一组点测得的面内变形的平均值。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，所述方法还包括如下步骤：改变玻璃制造工艺，从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节，从而降低来自后续玻璃片的子片的变形；以及使得平均面内变形保持以预定的概率低于特定值。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，子片的角限定所述第一组点。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，所述点是各个子片的质心。在所述另一个示例性方面的另一个例子中，所述方法还包括测量延迟的步骤，所述测量延迟的步骤包括测量表面上的第二组点的延迟，所述延迟参数是第二组点的延迟的平均值。附图说明参照附图阅读以下具体描述将可更好地理解这些及其它方面，其中：图1是熔融下拉玻璃制造设备的透视图；图2是玻璃片的俯视图，图中显示了一条线，根据示例性方法，可沿着这条线将玻璃片切割成若干子片；图3是图2的子片的俯视图，该子片在切割之后由于应力释放而变形，覆盖在没有变形的相同子片的轮廓上；图4是具有准标(fiduciary mark)的测量台的俯视图，具有相应的准标的玻璃片放在所述测量台上。图5显示用来表示图4中的台和玻璃片的准标之间的偏移的方法；以及图6显示玻璃母片的样品的平均延迟和从母片切割的子片的最大变形的绝对值之间的相关性。专利技术详述在此将参照附图更完整地描述各实施例，附图中给出了示例性实施方式。只要有可能，在所有附图中使用相同的附图标记来表示相同或类似的部分。但是，本专利技术可以以许多不同的方式实施，不应被解读成局限于在此提出的实施方式。在本文中，下拉式玻璃片制造法表示任何下述形式的玻璃片制造法：其中在将粘性的玻璃向下牵拉的过程中形成玻璃片。具体来说，在熔融下拉玻璃成形过程中，熔融玻璃流入一个槽内，然后溢流，从管的两侧面或者成形楔形件(更常规被称为溢流槽(isopipe))的两个面流下。两股液流在被称为根部的位置(此处管终止，两股溢流的玻璃部分重新结合)融合，合并的流被向下牵拉，直至冷却。可以借助于图1所示的实施方式描述熔融溢流玻璃片制造过程，其中成形楔形件10包括向上敞开的沟槽12，所述沟槽的纵向侧面由壁部分14限制，在壁部分14的上部末端是相对的纵向延伸的溢流缘或堰16。堰16与成形楔10的相反的外部片成形表面连通。如所示，成形楔形件10具有一对与堰16相连的基本垂直的成形表面部分18，以及一对向下倾斜并会聚的表面部分20，所述表面部分20终止于基本水平的下部顶点或根部22，从而形成直的玻璃牵拉线。熔融玻璃24通过与沟槽12连通的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种降低玻璃片中的变形的方法，所述方法包括以下步骤：在玻璃制造过程中形成玻璃带；从玻璃带分离玻璃片，所述玻璃片具有基本平坦的表面；测量通过玻璃片表面的延迟；定义表征玻璃片延迟的延迟参数；将玻璃片切割成多个子片；测量子片的变形；定义表征子片变形的变形参数；确定延迟参数和变形参数之间的相关性，使得可以基于该相关性来预测后续玻璃片的子片的变形参数；以及改变玻璃制造过程，从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节，从而降低来自后续玻璃片的子片的变形。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2012.05.31 US 13/485,3011.一种降低玻璃片中的变形的方法，所述方法包括以下步骤：
在玻璃制造过程中形成玻璃带；
从玻璃带分离玻璃片，所述玻璃片具有基本平坦的表面；
测量通过玻璃片表面的延迟；
定义表征玻璃片延迟的延迟参数；
将玻璃片切割成多个子片；
测量子片的变形；
定义表征子片变形的变形参数；
确定延迟参数和变形参数之间的相关性，使得可以基于该相关性来预测后
续玻璃片的子片的变形参数；以及
改变玻璃制造过程，从而基于所述相关性对后续玻璃片的延迟进行调节，
从而降低来自后续玻璃片的子片的变形。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，使得变形参数保持以预定的
概率低于特定值。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，测量子片的变形的步骤包括
测量面内变形，所述面内变形定义为在切割步骤之前和之后，沿着子片的平面
的第一组点的偏移。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，变形参数等于所述第一组点
处测得的面内变形的最大值。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，测量延迟的步骤包括测量表
面上的第二组点处的延迟，所述延迟参数是第二组点处的延迟的平均值。
6.如权利要求1所述的方法，所述方法还包括：
在测量延迟的步骤之前使得玻璃片平坦化的步骤；以及
在测量变形的步骤之前使得各个子片平坦化的步骤。
7.一种降低玻璃片中的变形的方法，所述方法包括以下步骤：
在玻璃制造过程中形成玻璃带；
从玻璃带分离玻璃片，所述玻璃片具有基本平坦的表面；
测量通过玻璃片表面的延迟；
定义表征玻璃片延迟的延迟参数；
将玻璃片切割成多个子片；
测量子片的变形；
定义表征子片变形的变形参数；以及
确定延迟参数和变形参数之间的相关性，使得可以基于该相关性来预测后
续玻璃片的子片的变形参数。
8.如权利要求7所述的方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：C·C·康崔莱斯，E·A·奎利亚尔，S·R·马卡姆，
申请(专利权)人：康宁股份有限公司，
类型：发明
国别省市：美国;US