一种光配向特性检测方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种光配向特性检测方法、装置及系统，其中，该方法包括：形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合，所述第一光学器件包括至少一偏光片，所述第二光学器件是设置有已光固化配向膜的待测材料；使光线透过所述光学组合，同时改变所述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜的光轴之间的夹角；以及测量透过所述光学组合后的光线，以获得不同所述夹角情况下的光强，从而获得所述配向膜的光配向特性。通过上述方式，本发明专利技术能够把偏振光测试法应用于面板生产过程中的线上检测，以解决测试方法受到基板类型局限的技术问题。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术公开了一种光配向特性检测方法、装置及系统，其中，该方法包括：形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合，所述第一光学器件包括至少一偏光片，所述第二光学器件是设置有已光固化配向膜的待测材料；使光线透过所述光学组合，同时改变所述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜的光轴之间的夹角；以及测量透过所述光学组合后的光线，以获得不同所述夹角情况下的光强，从而获得所述配向膜的光配向特性。通过上述方式，本专利技术能够把偏振光测试法应用于面板生产过程中的线上检测，以解决测试方法受到基板类型局限的技术问题。【专利说明】一种光配向特性检测方法、装置及系统
本专利技术涉及移动终端
，特别是涉及一种光配向特性检测方法、装置及系 统。
技术介绍
现有技术中，通过向配向膜或配向层（以下称作"光配向膜）照射偏极化紫外光， 与光极化方向平行的高分子发生光化学反应，使薄膜表面产生异向性分布，诱导液晶分子 排列，以此进行配向的被称作光配向的技术，该光配向被广泛应用于液晶显示显示面板的 液晶显示元件所具有的液晶配向膜的配向等。 现有的光配向技术检测方法通常分为单膜检测和成盒检测，其中，单膜检测一般 包括偏振吸收谱测试、相位延迟量测，成盒测试包括光学特性量测。 通常，在面板生成过程中的线上检测对于面板生产至关重要，但对于光配向技术， 现有的线上检测方法一般为相位延迟量测，其利用膜面对光的反射特性及时判定材料照光 后的配向特性。但是，这种方法的应用会受到基板类型的局限，无法量测某些类型的。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种光配向特性检测方法、装置及系统，把偏 振光测试法应用于面板生产过程中的线上检测，以解决测试方法受到基板类型局限的技术 问题。 为解决上述技术问题，本专利技术采用的一个技术方案是：提供一种光配向特性检测 方法，所方法包括：形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合，所述第一光学器件 包括至少一偏光片，所述第二光学器件是设置有已光固化配向膜的待测材料；使光线透过 所述光学组合，同时改变所述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜 的光轴之间的夹角；以及测量透过所述光学组合后的光线，以获得不同所述夹角情况下的 光强，从而获得所述配向膜的光配向特性。 其中，所述形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合的步骤具体为：根 据所述待测材料类型确定所述第一光学器件中包含的偏光片的数量、各所述偏光片之间的 光轴关系、各所述偏光片与所述第二光学器件之间的光学位置关系。 其中，所述根据所述待测材料类型确定所述第一光学器件中包含的偏光片的数 量、各所述偏光片之间的光轴关系、各所述偏光片与所述第二光学器件之间的光学位置关 系的步骤包括：当所述待测材料类型为设置有已光固化配向膜的基板时，相应地确定所述 第一光学器件中包含一片偏光片，以及确定所述偏光片位于所述基板的朝向或背对所述光 线的方向。 其中，所述根据所述待测材料类型确定所述第一光学器件中包含的偏光片的数 量、各所述偏光片之间的光轴关系、各偏光片与第二光学器件之间的光学位置关系的步骤 包括：所述待测材料类型为设置有已光固化配向膜的基板，相应地确定所述第一光学器件 中包含两片偏光片，以及确定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背对所述光线的方向， 其中，所述两片偏光片的光轴相互平行。 其中，所述设置有已光固化配向膜的基板为涂有聚酰亚胺薄膜PI的素玻璃基板、 阵列玻璃基板或彩色滤光片基板。 其中，所述根据所述待测材料类型确定所述第一光学器件中包含的偏光片的数 量、各所述偏光片之间的光轴关系、各偏光片与第二光学器件之间的光学位置关系的步骤 包括：所述待测材料类型为设置有已光固化配向膜的基板，相应地确定所述第一光学器件 中包含两片偏光片，以及确定各所述偏光片位于所述基板的朝向或背对所述光线的方向， 其中，所述两片偏光片的光轴相互垂直。 其中，所述设置有已光固化配向膜的基板为成盒后的液晶基板。 为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是：提供一种光配向特性检 测装置，所述装置包括：第一光学器件，包括至少一偏光片；第二光学器件，为设置有已光 固化配向膜的待测材料；光源，用于向所述第一光学器件和第二光学器件形成的光学组合 发出光线，所述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜的光轴之间的 夹角同时发生改变使所述光线透过所述光学组合；以及光线探测器，用于测量透过所述光 学组合后的光线，以获得不同所述夹角情况下的光强，所述光强用于确定所述配向膜的光 配向特性。 其中，所述待测材料为包括第一区域和第二区域的基板，其中，所述第一区域为涂 有PI的素玻璃基板，所述第二区域为设置有已光固化配向膜的阵列玻璃基板或彩色滤光 片基板。 为解决上述技术问题，本专利技术采用的另一个技术方案是：提供一种光配向特性检 测系统，所述系统包括光配向特性检测装置以及光配向特性处理装置；所述光配向特性检 测装置包括：第一光学器件，包括至少一偏光片；第二光学器件，为设置有已光固化配向膜 的待测材料；光源，用于向所述第一光学器件和第二光学器件形成的光学组合发出光线，所 述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜的光轴之间的夹角同时发 生改变使所述光线透过所述光学组合；以及光线探测器，用于测量透过所述光学组合后的 光线，以获得不同所述夹角情况下的光强；所述光配向特性处理装置用于根据所述光线探 测器获得的不同所述夹角情况下的光强确定所述配向膜的光配向特性。 本专利技术的有益效果是：区别于现有技术的情况，本专利技术提供的一种光配向特性检 测方法、装置及系统，根据待测材料的类型确定第一光学器件中包含的偏光片的数量、各偏 光片之间的光轴关系、各偏光片与第二光学器件之间的光学位置关系，并改变该第一光学 器件中偏光片的光轴与该第二光学器件中配向膜的光轴之间的夹角使光线透过第一光学 器件和第二光学器件组成的光学组合，从而根据透过该光学组合的光强及对应的夹角计算 配向膜的光配向特性。利用本专利技术，能够在线上检测时直接根据待测材料选择测试所用的 光学器件，并通过测量光线的偏振吸收以测量相应的光配向特性，而不会受到待测材料基 板类型的局限，提高测试效率及生产效率。 【专利附图】【附图说明】 图1是本专利技术第一实施方式中的一种光配向特性检测方法的流程示意图； 图2是本专利技术第二实施方式中的一种光配向特性检测方法的流程示意图； 图3是本专利技术一实施方式中的光学组合的示意图； 图4是本专利技术另一实施方式中的光学组合的示意图； 图5是本专利技术再一实施方式中的光学组合的示意图； 图6是本专利技术实施方式中的光配向特性检测装置的结构示意图； 图7是本专利技术实施方式中的光配向特性检测系统的结构示意图； 图8是本专利技术实施方式中P偏光片的光轴与PI的配向膜的光轴之间的夹角与线 性偏振光吸收量的关系示意图； 图9是本专利技术实施方式中光配向PI材料在不同anneal温度下的配向特性示意 图； 图10是本专利技术实施方式中偏光片的光轴与成盒的液晶的配向膜的光轴之间的夹 角与线性偏振光吸收量的关系本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光配向特性检测方法，其特征在于，所方法包括：形成具有第一光学器件和第二光学器件的光学组合，所述第一光学器件包括至少一偏光片，所述第二光学器件是设置有已光固化配向膜的待测材料；使光线透过所述光学组合，同时改变所述第一光学器件中偏光片的光轴与所述第二光学器件中配向膜的光轴之间的夹角；以及测量透过所述光学组合后的光线，以获得不同所述夹角情况下的光强，从而获得所述配向膜的光配向特性。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：宋彦君，
申请(专利权)人：深圳市华星光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44