测量仪器线激光测头校准系统及方法技术方案

一种测量仪器线激光测头校准系统，包括：第一测量模块，用于获取第一线激光测头和第二线激光测头测得第一标准件的轮廓数据；第一计算模块，用于计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值；第二测量模块，用于获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件的轮廓数据；第二计算模块，用于计算第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值；获取模块，用于根据倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数据得到第一标准件的测量值；及第三计算模块，用于根据第一标准件的测量值与标准值计算精度补偿值。本发明专利技术还提供了一种测量仪器线激光测头校准方法。利用本发明专利技术，可以利用两个线激光测头准确测量待测物体。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量仪器校准的系统及方法，尤其涉及一种测量仪器线激光测头 校准系统及方法。
技术介绍
目前测量仪器利用线激光测头测量待测物体时，一个线激光测头只能测量到该待 测物体的一个表面的轮廓数据，对于同时需要测量待测物体的两个表面的轮廓数据而得到 待测物体的测量值(例如需要得到待测物体的厚度)则不能实现。当采用两个线激光测头测 量待测物体两个表面时，由于两个线激光测头安装角度的不一致W及两个线激光测头规格 的不一致，可能会造成待测物体测得的轮廓之间存在误差，使得待测物体的测量值出现偏 差。
技术实现思路
鉴于W上内容，有必要提供一种测量仪器线激光测头校准系统，可W对两个线激 光测头测量得到的轮廓数据进行校准。 还有必要提供一种测量仪器线激光测头校准方法，可W对两个线激光测头测量得 到的轮廓数据进行校准。 -种测量仪器线激光测头校准系统，运行于测量仪器中，该测量仪器安装有第一 线激光测头和第二线激光测头，所述系统包括：第一测量模块，用于利用第一线激光测头和 第二线激光测头对第一标准件进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测得的 该第一标准件的轮廓数据；第一计算模块，用于利用第一线激光测头测量第一标准件得到 的轮廓数据和第二线激光测头测量该第一标准件得到的轮廓数据，计算第一线激光测头和 第二线激光测头之间的倾角值；第二测量模块，用于利用第一线激光测头和第二线激光测 头对第二标准件进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件所得 到的第二标准件的轮廓数据；第二计算模块，用于根据第一线激光测头和第二线激光测头 测量所述第二标准件的轮廓数据，计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间 距值；获取模块，用于设置第一线激光测头测得的所述第一标准件的轮廓数据为基准，根据 所述第一线激光测头和第二线激光测头的倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测 量第一标准件的轮廓数据，并根据第一线激光测头测得的轮廓数据和校准后的第二线激光 测头测得的轮廓数据得到该第一标准件的测量值；及第H计算模块，用于根据所述第一标 准件的测量值与该第一标准件的标准值计算精度补偿值。 一种测量仪器线激光测头校准方法，运行于测量仪器中，该测量仪器安装有第一 线激光测头和第二线激光测头，该方法包括：第一测量步骤，利用第一线激光测头和第二线 激光测头对第一标准件进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测得的该第一 标准件的轮廓数据；第一计算步骤，利用第一线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据 和第二线激光测头测量该第一标准件得到的轮廓数据，计算第一线激光测头和第二线激光 测头之间的倾角值；第二测量步骤，利用第一线激光测头和第二线激光测头对第二标准件 进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件所得到的第二标准件 的轮廓数据；第二计算步骤，根据第一线激光测头和第二线激光测头测量所述第二标准件 的轮廓数据，计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值；获取步骤，设 置第一线激光测头测得的所述第一标准件的轮廓数据为基准，根据所述第一线激光测头和 第二线激光测头的倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数 据，并根据第一线激光测头测得的轮廓数据和校准后的第二线激光测头测得的轮廓数据得 到该第一标准件的测量值；及第H计算步骤，根据所述第一标准件的测量值与该第一标准 件的标准值计算精度补偿值。 相较于现有技术，所述，在测量仪器上安装 了两个线激光测头，实现同时量测待测物体的两个表面的轮廓数据，并对两个线激光测头 之间的误差进行校准，使得两个线激光测头相互配合测量物体，使得测量的轮廓数据更加 精确。 【附图说明】 图1是本专利技术测量仪器线激光测头校准系统较佳实施例的运行环境图。 图2是本专利技术测量仪器线激光测头校准系统较佳实施例的功能模块图。 图3是本专利技术测量仪器线激光测头校准方法较佳实施例的作业流程图。 图4是本专利技术中第一标准件的轮廓数据测量示意图。 图5是本专利技术中第二标准价的轮廓数据测量示意图。 图6是本专利技术中校准第二线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据的较佳实 施例示意图。 主要元件符号说明 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量仪器线激光测头校准系统，运行于测量仪器中，其特征在于，该测量仪器安装有第一线激光测头和第二线激光测头，所述系统包括：第一测量模块，用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第一标准件进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测得的该第一标准件的轮廓数据；第一计算模块，用于利用第一线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据和第二线激光测头测量该第一标准件得到的轮廓数据，计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的倾角值；第二测量模块，用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第二标准件进行测量，并获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件所得到的第二标准件的轮廓数据；第二计算模块，用于根据第一线激光测头和第二线激光测头测量所述第二标准件的轮廓数据，计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值；获取模块，用于设置第一线激光测头测得的所述第一标准件的轮廓数据为基准，根据所述第一线激光测头和第二线激光测头的倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测量第一标准件的轮廓数据，并根据第一线激光测头测得的轮廓数据和校准后的第二线激光测头测得的轮廓数据得到该第一标准件的测量值；及第三计算模块，用于根据所述第一标准件的测量值与该第一标准件的标准值计算精度补偿值。...

【技术特征摘要】
1. 一种测量仪器线激光测头校准系统，运行于测量仪器中，其特征在于，该测量仪器安 装有第一线激光测头和第二线激光测头，所述系统包括： 第一测量模块，用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第一标准件进行测量， 并获取第一线激光测头和第二线激光测头测得的该第一标准件的轮廓数据； 第一计算模块，用于利用第一线激光测头测量第一标准件得到的轮廓数据和第二线激 光测头测量该第一标准件得到的轮廓数据，计算第一线激光测头和第二线激光测头之间的 倾角值； 第二测量模块，用于利用第一线激光测头和第二线激光测头对第二标准件进行测量， 并获取第一线激光测头和第二线激光测头测量第二标准件所得到的第二标准件的轮廓数 据； 第二计算模块，用于根据第一线激光测头和第二线激光测头测量所述第二标准件的轮 廓数据，计算出第一线激光测头和第二线激光测头的位差值和间距值； 获取模块，用于设置第一线激光测头测得的所述第一标准件的轮廓数据为基准，根据 所述第一线激光测头和第二线激光测头的倾角值、位差值及间距值校准第二线激光测头测 量第一标准件的轮廓数据，并根据第一线激光测头测得的轮廓数据和校准后的第二线激光 测头测得的轮廓数据得到该第一标准件的测量值；及 第三计算模块，用于根据所述第一标准件的测量值与该第一标准件的标准值计算精度 补偿值。2. 如权利要求1所述的测量仪器线激光测头校准系统，其特征在于，该系统还包括： 第一接收模块，用于接收用户输入的所述第一标准件的待测轮廓范围；及 第一判断模块，用于判断所述获取到的第一标准件的轮廓数据是否在所述用户输入的 第一标准件的待测轮廓范围内，若所述获取到的第一标准件的轮廓数据不在用户输入的待 测轮廓范围内，则由所述测量模块利用第一线激光测头和第二线激光测头重新测量并获取 第一标准件的轮廓数据，并提示用户重新输入第一标准件的待测轮廓范围。3. 如权利要求1所述的测量仪器线激光测头校准系统，其特征在于，该系统还包括： 第二接收模块，用于接收用户输入的所述第二标准件的待测轮廓范围；及 第二判断模块，用于判断所述获取到的第二标准件的轮廓数据是否在所述用户输入的 第二标准件的待测轮廓范围内，若所述获取到的第二标准件的轮廓数据不在用户输入的待 测轮廓范围内，则由所述测量模块利用第一线激光测头和第二线激光测头重新测量第二标 准件并获取第二标准件的轮廓数据，并提示用户重新输入第二标准件的待测轮廓范围。4. 如权利要求1所述的测量仪器线激光测头校准系统，其特征在于，所述获取模块对 所述第二线激光测头测量的所述第一标准件的轮廓数据进行校准是通过旋转所述倾角值， 并作平移所述位差值和间距值来实现的。5. 如权利要求1所述的测量仪器线激光测头校准系统，其特征在于，所述第一标准件 为上下表面平整的物体，所述第二标准件为表...

【专利技术属性】
技术研发人员：张滋，徐韦，陈斌，屈保锋，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44