阵列基板、显示面板和极性反转驱动方法技术

本发明专利技术公开了一种阵列基板、显示面板和极性反转驱动方法。所述阵列基板包括测试线路区和显示区，所述测试线路区包括至少一根参考电压线，所述显示区的每根数据线与所述参考电压线之间均通过开关相连，所述开关与所述数据线之间形成有节点，所述节点用于与源极驱动电路相连。本发明专利技术利用阵列基板上测试线路区的现有结构，在源极驱动电路输出灰阶电压之前，先将各个像素的数据线与参考电压线导通，实现像素间的电荷共享，使驱动电压的摆动范围减小，从而降低了电路的功耗。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示器驱动
，尤其涉及一种阵列基板、包括该阵列基板的显示面板，以及基于该阵列基板的极性反转驱动方法。
技术介绍
在液晶显示面板中，如果一直使用正电压或者负电压来驱动液晶分子，很容易使液晶分子造成损害。因此，为了保护液晶分子不受驱动电压的破坏，必须使用正负电压交互的方式来驱动液晶分子。目前常见的极性反转方式有帧反转、行反转、列反转以及点反转。其中，点反转的方式能够达到最佳的画面效果，因此得到广泛的应用。在源极驱动器中，对同一条信号线，其上输出的驱动电压正负交替，而对于每一个像素的液晶电容CLC，其充放电的功率消耗为fCLCV2/2。其中，f为电压充放电的频率，V为充放电时电压的摆动范围，在f及CLC固定的条件下，当充放电的电压摆动范围较小时，该功耗也越小。为了降低点反转模式下的功率消耗，可通过降低电压摆动范围V来实现，目前通常采用在源极驱动器中加入电荷共享机制的方法来达到降低功耗的目的。然而，现有的电荷共享方案都需要在显示面板或者驱动芯片内部增加额外的结构或模块，导致结构比较复杂。例如，图1是现有电荷共享模块的示意图。在运算放大器OP输出放大后的正极性电压Vin+和负极性电压Vin-的前一小段时间内，分别将奇数列数据线(ODD)上的第一开关S1和偶数列数据线(EVEN)上的第二开关S2断开，将第三开关S3导通，使奇数列数据线与偶数列数据线导通，再配合栅极线的开启，使奇数列数据线与偶数列数据线的像素电压进行电荷共享，从而降低上述充电电压的摆动范围，达到降低功耗的目的。然而，该现有技术也有其缺点，若相邻数据线上的正负极像素电压关于公共电极电压(Vcom电压)不对称，则电荷共享时的中和电位便达不到Vcom电位，那么上述公式中的V便达不到最小值。另外，现有技术将电荷共享模块集成到驱动芯片的内部，增加了驱动芯片的结构复杂度。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种阵列基板、显示面板和极性反转驱动方法，在不增加额外结构或模块的情况下实现电荷共享功能，降低电路功耗。为解决上述技术问题，作为本专利技术的第一个方面，提供一种阵列基板，所述阵列基板包括测试线路区和显示区，所述测试线路区包括至少一根参考电压线，所述显示区的每根数据线与所述参考电压线之间均通过开关相连，所述开关与所述数据线之间形成有节点，所述节点用于与源极驱动电路相连。优选地，所述参考电压线的电位与所述阵列基板的公共电极的电位相同。优选地，所述参考电压线接地。优选地，所述开关为晶体管，所述开关的第一极与所述数据线相连，所述晶体管的第二极与所述参考电压线相连，所述晶体管的栅极与控制信号相连，所述控制信号能够控制所述晶体管的第一极与第二极导通。优选地，所述开关的栅极的开启电压与所述阵列基板的栅线的开启电压相同。优选地，所述测试线路区包括三组参考电压线，在所述阵列基板与所述源极驱动电路连接之前，三组所述参考电压线与点灯检查时的测试数据信号源连接，用于作为所述阵列基板的检测线；在所述阵列基板与所述源极驱动电路连接之后，三组所述参考电压线接地，用于作为所述阵列基板的电荷共享线。优选地，所述测试数据信号源包括红色测试数据信号源、绿色测试数据信号源和蓝色测试数据信号源，在所述阵列基板与所述源极驱动电路连接之前，三组所述参考电压线分别与所述红色测试数据信号源、所述绿色测试数据信号源以及所述蓝色测试数据信号源相连，用于分别检测红色、绿色和蓝色亚像素。作为本专利技术的第二个方面，还提供一种显示面板，所述显示面板包括本专利技术所提供的上述阵列基板。优选地，所述显示面板还包括设置在所述阵列基板上的驱动芯片，所述源极驱动电路设置在所述驱动芯片内。作为本专利技术的第三个方面，还提供一种极性反转驱动方法，包括以下步骤：打开当前扫描行栅线；在所述源极驱动电路输出灰阶电压之前，控制所述开关导通，使该行的每个亚像素的数据线均与所述参考电压线导通，以使得每个亚像素的像素电极的电位与所述参考电压线的电位相同；控制所述开关断开，所述源极驱动电路向该行的每个亚像素输出灰阶电压。优选地，所述参考电压线的电位与所述阵列基板的公共电极的电位相同。优选地，所述开关为晶体管，其中，控制所述开关导通的步骤包括：向所述开关的栅极提供高电平控制信号，所述高电平控制信号的脉宽及时序与所述源极驱动电路的加载信号的脉宽及时序一致，所述加载信号是指所述源极驱动电路控制数据加载到所述阵列基板上的信号；控制所述开关断开的步骤包括：向所述开关的栅极提供低电平控制信号，所述低电平控制信号使所述开关关闭。本专利技术利用阵列基板上测试线路区的现有结构，在源极驱动电路输出灰阶电压之前，先将各个像素的数据线与参考电压线导通，实现像素间的电荷共享，使驱动电压的摆动范围减小，从而降低了电路的功耗。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。图1是现有电荷共享模块的示意图；图2是依照本专利技术一种实施例的阵列基板的示意图；图3是本专利技术实施例提供的极性反转时序图；图4是本专利技术实施例中1dot反转时的时序图；图5是本专利技术实施例中2dot反转时的时序图。在附图中，OP：运算放大器；S1：第一开关；S2：第二开关；S3：第三开关；ODD：奇数列数据线；EVEN：偶数列数据线；Vin+：现有技术中的正极性电压；Vin-：现有技术中的负极性电压；10：测试线路区；11：参考电压线；12：开关；20：显示区；V+：本专利技术中的正极性电压；V-：本专利技术中的负极性电压；GND：地线；DR：红色测试数据信号源；DG：绿色测试数据信号源；DB：蓝色测试数据信号源；SW：开关的控制信号；G1：第一栅线；G2：第二栅线；S1-S9：第一数据线-第九数据线；P1-P9：第一节点-第九节点；TP：加载信号；ts：电荷共享时间。具体实施方式以下结合附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限制本专利技术。本专利技术首先提供一种阵列基板，图2是依照本专利技术一种实施例的阵列基板的示意图。所述阵列基板包括测试线路区10和显示区20，测试线路区10包括至少一根本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种阵列基板，所述阵列基板包括测试线路区和显示区，其特征在于，所述测试线路区包括至少一根参考电压线，所述显示区的每根数据线与所述参考电压线之间均通过开关相连，所述开关与所述数据线之间形成有节点，所述节点用于与源极驱动电路相连。

【技术特征摘要】
1.一种阵列基板，所述阵列基板包括测试线路区和显示区，其
特征在于，所述测试线路区包括至少一根参考电压线，所述显示区的
每根数据线与所述参考电压线之间均通过开关相连，所述开关与所述
数据线之间形成有节点，所述节点用于与源极驱动电路相连。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述参考电
压线的电位与所述阵列基板的公共电极的电位相同。
3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述参考电
压线接地。
4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述开关为
晶体管，所述开关的第一极与所述数据线相连，所述晶体管的第二极
与所述参考电压线相连，所述晶体管的栅极与控制信号相连，所述控
制信号能够控制所述晶体管的第一极与第二极导通。
5.根据权利要求4所述的阵列基板，其特征在于，所述开关的
栅极的开启电压与所述阵列基板的栅线的开启电压相同。
6.根据权利要求1至5中任意一项所述的阵列基板，其特征在
于，所述测试线路区包括三组参考电压线，
在所述阵列基板与所述源极驱动电路连接之前，三组所述参考
电压线与点灯检查时的测试数据信号源连接，用于作为所述阵列基板
的检测线；
在所述阵列基板与所述源极驱动电路连接之后，三组所述参考
电压线接地，用于作为所述阵列基板的电荷共享线。
7.根据权利要求6所述的阵列基板，其特征在于，所述测试数

\t据信号源包括红色测试数据信号源、绿色测试数据信号源和蓝色测试
数据信号源，在所述阵列基板与所述源极驱动电路连接之前，三组所...

【专利技术属性】
技术研发人员：章祯，李纪，胡凌霄，
申请(专利权)人：合肥京东方光电科技有限公司，京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34